温度循环试验,求大牛帮忙建模。

样品是计算机或者其部件。
实验条件:
储存,低温-10摄氏度,稳定10分钟;然后以每分钟15摄氏度上升到+115摄氏度,稳定10分钟;然后以每分钟15摄氏度下降到-10摄氏度。
即soaktime:10min,HiTEMP:115℃,LowTEMP:-10℃,ramprate15℃/min

因为是温差较大的温度循环试验,已经超过样品本身正常工作环境范围,故采用存储试验。
请问这样的试验情况,可以折算成25℃条件下,上电使用的加速倍率(加速因子AF)么?

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可靠性技术新手提问

关于指数分布和威布尔分布的应用区别

2011-3-1 10:09:01

可靠性技术可靠性试验

焊点的可靠性评价

2011-3-2 12:03:20

5 条回复 A文章作者 M管理员
  1. ALT

    [b]回复[url=pid=87617&ptid=10641]1#[/url][i]yangfan[/i][/b]

    很遗憾,不能.请问这个试验的目的是什么?

  2. 于新昌

    不可以折算到25℃。建议你好好看一下,温度循环试验的目的。

  3. 三木

    可以看看soaktime:10min,HiTEMP:100℃,LowTEMP:0℃,ramprate10℃/min

  4. stefan_yang

    我觉得不能单单用Arrhenius模型。
    因为要考虑循环的温度变化对样品的冲击作用。(虽然是存储状态,不上电)

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