JESD47H Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits.pdf

集成电路可靠性试验常使用的标准

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可靠性资料培训展会

SMQ联合Reliasoft公司举办产品可靠性分析研讨会

2011-3-21 22:09:57

可靠性文档可靠性资料

[求]核电相关标准或者控制系统的相关标准

2011-3-23 13:54:48

10 条回复 A文章作者 M管理员
  1. cybernetics

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  2. wx_1595555244

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  3. wx_1593343935

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  4. justqyou

    感谢分享,学习ing

  5. victor-he

    学习。。。现在遇到一个IC将金线换成铜线的评估

  6. isablewawa

    学习一下
    谢谢楼主

  7. admin

    谢谢楼主分享.摘录部分内容:

    Thisstandarddescribesabaselinesetofacceptancetestsforuseinqualifyingelectroniccomponentsasnewproducts,aproductfamily,orasproductsinaprocesswhichisbeingchanged.
    Thesetestsarecapableofstimulatingandprecipitatingsemiconductordeviceandpackagingfailures.
    Theobjectiveistoprecipitatefailuresinanacceleratedmannercomparedtouseconditions.FailureRateprojectionsusuallyrequirelargersamplesizesthanarecalledoutinqualificationtesting.Forguidanceonprojectingfailurerates,refertoJESD85MethodsforCalculatingFailureRatesinUnitsofFITs.Thisqualificationstandardisnotaimedatextremeuseconditionssuchasmilitaryapplications,automotiveunder-the-hoodapplications,oruncontrolledavionicsenvironments,nordoesitaddress2ndlevel
    reliabilityconsiderations,whichareaddressedinJEP150

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