怎样确定样本数量？

谢谢诶分享，下来学习下~

[i=s] 本帖最后由 sonicshinei 于 2018-8-28 09:12 编辑 [/i]

[quote][url=pid=91462&ptid=11159]winosor 发表于 2011-6-26 00:57[/url]
这个话题很大，不过提的很好。简单谈一下我的经验。
可靠性的主要测试类型根据产品生命周期的各个阶段大约 …[/quote]

请教这个公式如何推导出来的，谢谢!
是不是1-CL=R^n和威布尔分布推导来的？

谢谢楼主分享！！！

[i=s] 本帖最后由 sonicshinei 于 2018-8-9 15:53 编辑 [/i]

请问这个公式是由哪几个公式推导过来的，向高手请指教。

太棒了，感谢楼主分享，我目前正在学习

:):):):):)

非常感谢二楼所说

谢谢大家分享，学习了

谢谢分享

学习了，多谢LZ

谢谢笔记已记下，还待扩展深入

感谢分析，值得研究

謝謝很好很詳細,受教了！

我正需要这方面的资料，要好好学习学习，看来还得多上论坛学习学习:)

學習了，感謝分享:lol

这个相当实用，慢慢研究

小弟拜读了论坛里的能人就是多啊

学习

这个问题有时间时得好好研究一下。

謝謝很好很詳細

感谢2楼详细的回复啊.谢谢分享!

回答很有用，谢谢。

很精辟哦……………………

呵呵，非常感谢，好好学一下

[i=s]本帖最后由tvwarehouse于2011-8-2419:45编辑[/i]

感謝Winosor的分享

關於這個議題，有興趣的大大可以參考以下這本書

IntroductiontoReliabilityEngineering,
byE.E.Lewis,JohnWiley&Sons,Inc.
ISBN:0-471-01833-3.

另外，在此將可靠性抽樣數量表格分享給大家
業界常用的就是標記淺黃色底色的部份(業界指的是Cisco,DELL…等大廠)

收藏下来慢慢研究吧

Lognormal（对数正态）：常用作早期失效的模型，常表现应力循环后的疲劳失效。机械设备往往运用此类分布。

这个陈述不太准确吧

[b]回复[url=pid=91505&ptid=11159]10#[/url][i]terry870214[/i][/b]

产品寿命分布曲线是指在给定的应力（Stress）下，产品表现出的可靠性特性。常见的共有四种：
Lognormal（对数正态）：常用作早期失效的模型，常表现应力循环后的疲劳失效。机械设备往往运用此类分布。
Exponential（指数）：常用作浴盆曲线的中段的模型，也就是失效率为常数。往往表现电子产品的可靠性特性。
Normal（正态）：常用作产品进入老化期的模型，此时失效率持续上升。对有着大量自由变量的产品有较优表现。
Weibull（威布尔）：非常有用的模型。根据beta和landa值的不同，可以逼近上述三种分布曲线。

产品寿命曲线是通过在ALT测试中，通过收集完整或删失的time-to-fail数据，对关键参数的计算，以及利用概率纸直观地或运用可靠性软件最大似然估计法（MLE）绘出产品可靠性曲线。这些工作经常是由可靠性工程师完成。
由于产品在不同的应力条件下，有时会表现不同的可靠性特性，即具有不同的产品寿命分布。因此，通常在实施ALT时，针对每一种应力（如温度、湿度等）需给定2个或2个以上的应力级别（StressLevel）。以判断测试结果与预期和产品实际寿命特性是否有较大偏差。
当然，在有些情况下也不需要测试，这些情况包括但不局限于：
-已知产品寿命分布类型
-已知产品主要失效类型与产品寿命之间的关系
-学院的理论或行业内的经验
-分析现有的产品数据足以得出相关结论

[b]回复[url=pid=91505&ptid=11159]10#[/url][i]terry870214[/i][/b]

1.根据产品失效模式性质确定
2。根据历史经验数据推算

[b]回复[url=pid=91462&ptid=11159]2#[/url][i]winosor[/i][/b]

winosor你好！我想问一下产品寿命分布曲线（lifedistribution)有什么方法知道呢？

不错

学习一下！

[b]回复[url=pid=91462&ptid=11159]2#[/url][i]winosor[/i][/b]

谢谢winosor分享,关于样本数量选择,论坛有几个贴子讨论过几次.但结果都不是很明晰.

大家各抒己见,越辩越明.

下面贴子有相关主题,推荐大家看看:有关可靠度验证试验的samplesize计算[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-5024-1-1.html[/url]

[url]http://www.kekaoxing.com/club/misc.php?mod=tag&id=0231[/url]

回复2#winosor
学习了，谢谢！

[b]回复[url=pid=91462&ptid=11159]2#[/url][i]winosor[/i][/b]

您的回答很好，非常受用，谢谢！
样品数量的选择一直也是我比较关注的问题，不知能否分享或推荐一些资料，加强这方面的理解和应用呢?谢谢！

[b]回复[url=pid=91466&ptid=11159]3#[/url][i]standyness[/i][/b]

具体来说，我想看各种分布的OC曲线。

[b]回复[url=pid=91462&ptid=11159]2#[/url][i]winosor[/i][/b]

总结得不错！
很多软件可以直接给出样本数量，我是想看到详细地推导出样本数量的数学过程，哪本书或资料会有这些内容呢？

这个话题很大，不过提的很好。简单谈一下我的经验。
可靠性的主要测试类型根据产品生命周期的各个阶段大约分为四类，即HALT（研发早期）、ALT（研发中期）、RDT（研发末期暨生产导入期）、ORT（量产期）。
其他的一些可靠性GoTest由于目的单纯，所以样品数往往是经验值或与可靠性目标相关的统计学方法值，此处暂不赘述。
这四个阶段的测试对于样品数的要求都有所不同，下面给出一些参考意见。

HALT：此测试主要目的是找出设计中的重大问题和主要失效模式，增加产品的稳健度（Robustness)，确定产品的四个极限即Low&HighDL(DestructiveLimit)和Low&HighOL(OperatingLimit)。所以，样品数非常少，通常每次仅2-4个。当然根据不同产品类型和测试条件，相应作出调整，但此时，样品数并不依据统计学方法给出。

ALT：此测试主要目的是验证MTBF目标。此时，样品数的选择和几个因素有关，主要是MTBF目标、加速因子（AF）、GEMFactor、测试时间。而加速因子与加速老化测试的条件(condition)相关，如温度、温湿度、温湿度加开关交变加速率等；GEMFactor同可接受失效数和置信度相关。下面的表示温湿度ALT测试时间与样品数之间关系的公式可以进一步说明：Duration(hrs)=(MTBFspecxGEMfactorCL)/(SampleSizexAFtempxAFRH).
GEMfactor如下表

RDT:此测试目的是为了验证可出货产品是否满足可靠性目标。RDT可分为加速和非加速两种。做RDT计划，首先要知道产品寿命分布曲线（lifedistribution)。然后根据lifedistribution，确定以下三种测试方法中的一种，即二项式参数（ParametricBinomial）、非二项式参数（Non-ParametricBinomial）、指数卡方（ExponentialChi-Squared）。
最后根据可靠性目标与相关参数的关系确定测试计划。例如要确认产品的lifedistribution为非二项式参数（Non-ParametricBinomial）的可接受失效数为零的测试样品数公式为
当然，以上的计算可以通过一些商业软件非常容易地计算出来。
有时RDT是持续性测试（SequentialTesting），持续数周，数量也比较多。
加速RDT可以通过增加应力级数（stresslevel）相应缩短测试时间和样品数。

ORT：此测试主要目的就是为了筛除那些受到生产流程中的各种因素影响而导致可靠性下降不能满足目标的产品。此时可以使用统计学方法计算样品数。但是，由于产品类型的不同和量产时的情况复杂多变，包括样品数在内的各种测试条件和类型往往都是定制的。没有一个统一的定论。

总结：每个阶段的测试条件各不相同，人们总想要最少的样品，最短的测试时间，而我也不认为可靠性越高对公司就越好。要知道，可靠性也是合适的才是最好的。所以，在定制测试计划时，不应一成不变，而是要充分了解产品特性、客户要求、自身能力等因素，从中找到一个平衡点，制定出合理的计划。