二极管可靠性试验 可靠性技术 可靠性试验 07年8月3日 编辑 ypeng 取消关注 关注 私信 我整理了一份“二极管可靠度试验”,[size=5][url=https://www.kekaoxing.com/club/viewthread.php?tid=1135&page=1&fromuid=5#pid7117]请见10楼附件[/url],谢谢! 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
余如志 Guest 17年11月7日 [quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。 [/quote] 44444444大多是
余如志 Guest 17年11月7日 [quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。 [/quote] 44444444大多是
余如志 Guest 17年11月7日 [quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。 [/quote] 44444444大多是
余如志 Guest 17年11月7日 [quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。 [/quote] 44444444
余如志 Guest 17年11月7日 [quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。 [/quote] 44444444
余如志 Guest 17年11月7日 [quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。 [/quote] 44444444
maggiezcm lv2lv2 09年4月2日 巨孚仪器吴先生:我是可靠性小白,问一个最白的问题不要见笑哈 高温85度C,15MIN—–这里的15MIN是什么意思 ——————————————————————————————- LZ提供的资料很好! 虽然每个客户的测试要求各有差异,但基本如此。 补充几个本人接触到的试验要求: 1、THERMALCYCLETEST(100CYCLES) LZ提供的资料很好! 虽然每个客户的测试要求各有差异,但基本如此。 补充几个本人接触到的试验要求: 1、THERMALCYCLETEST(100CYCLES) 高温85度C,15MIN 低温-40度C,15MIN;高低温变化过程为42MIN内,即平均温度斜率为3度C/MIN 2、THERMALSHOCKTEST(50CYCLES) HIGHTEMP.:85度C,30MINLOWTEMP.:-40度C,30MINRECOVERTIME:5MIN 就本人接触到的几个高端LED厂的情况看,都需要气体式温度冲击和液体式温度冲击。低温-40度C,15MIN;高低温变化过程为42MIN内,即平均温度斜率为3度C/MIN 2、THERMALSHOCKTEST(50CYCLES) HIGHTEMP.:85度C,30MINLOWTEMP.:-40度C,30MINRECOVERTIME:5MIN 就本人接触到的几个高端LED厂的情况看,都需要气体式温度冲击和液体式温度冲击。
tjhirel lv1lv1 09年3月5日 对于二极管,整流桥产品,在PCT实验中我们是这样理解的 1.PCT试验的时间选择与失效模式是没有关系的,材料在PCT实验之后,如果有失效,通常是可以恢复的,PCT时间越短,恢复的几率越高。当然96H后的PCT一样会有恢复。有的甚至不需要烘烤。这就是为何在PCT结束后,对于产品的测量时间,存放位置必须有统一的要求,否则可能是实验数据没有可比性。 至于失效,一般而言就是漏电流变大,甚至反向击穿,这种情况有时是由于实验结束后,测量电性时,造成的进一步失效。这就是为何可能见到PCT失效的材料,竟然会见到材料被烧穿的痕迹, 另外在PCT实验中,一般和少讲到对材料的腐蚀,因为他的能力还不够。这就是为何还会有其它类似的实验,如H3TRB,HastBais等,需要借助电压,来做进一步实验 2.还是向我在以前的回复中所讲的,PCT实验时间的确定不是因为水蒸汽对二极管腐蚀较小,就可以选择较短的时间,而是由你要预估寿命来决定的。 PCT2~4H,用来评估产品早期失效,检查制成是否有异常。 24H,可以预估产品寿命到1~5年,48HPCT可以预估到产品5~10年,96HPCT可以预估的产品15年(这些预估可以参考Hallberg-Peck模型来得出) 以上是对二极管的一些认知,欢迎各位对于其它产品也给予介绍
wqpye lv2lv2 09年3月5日 非常感谢tjhirel的解答。 还有一个问题:PCT试验的时间选择与失效模式是否有关?在我的理解,经过PCT试验,在较短的时间内失效可能是由于水汽渗入,导致漏电流增大,经过烘烤后往往可以恢复;而长时间的试验后的失效,可能就与水汽渗入后对金属层的腐蚀有关了。 LZ的资料是关于二极管的,而对于二极管而言,腐蚀的影响是比较小的,因此可以选择较短的时间。 这种理解是否错误?请高手解答。 谢谢!
tjhirel lv1lv1 09年3月5日 PCT我们做到过24H甚至到192H,结果当然不一样,那要看你期望的元件寿命是多少,如果期望寿命为15年,至少应该做到96H,如果想看早期失效,2小时也够了。
wqpye lv2lv2 09年3月4日 (继续) 3、高压蒸煮做24H的意义大吗?通常认为做2~4H就够了。24H的结果和4H的结果差异大吗?想知道这一点。 4、从文本上看,这是一家台资或与台资有渊源的工厂的标准。国标GB/T6351(等效IEC的标准)其实对二极管的可靠性试验有明确的规定,不知道有没有行家按两个标准做过试验,并对比结果。 上述问题真心希望得到高手解答。 先谢了。
wqpye lv2lv2 09年3月4日 附件看了,有几个问题: 1、第六项试验中,IR=IO是什么意思?是IF=IO的笔误?还是其他的什么规定?希望有高手指点。 2、最后两项HTRB(HIGHTEMPERATUREREVERSEBASE)和HTIB(HIGHTEMPERATUREINVERSEBASE——我的理解)的差别是什么?当然我看到了两项试验的温度不一样,但我的理解应该是对于结温不一样的产品应选择不同的温度进行试验。两项应该是一个试验。 3、高压蒸煮做24H
tjhirel lv1lv1 09年3月4日 我们公司也做二极管实验,但感觉与贵公司的条件有一些不同,例如HTRB实验,标准要求Tj=150C当材料漏电流不同时,造成反相消耗的功耗也就不同,因此Ta会不同,也就是说并不是所有材料都用同一个温度125C去做实验,这个温度需要根据不同材料去调整
巨孚仪器吴先生 lv4lv4 08年3月27日 LZ提供的资料很好! 虽然每个客户的测试要求各有差异,但基本如此。 补充几个本人接触到的试验要求: 1、THERMALCYCLETEST(100CYCLES) 高温85度C,15MIN 低温-40度C,15MIN;高低温变化过程为42MIN内,即平均温度斜率为3度C/MIN 2、THERMALSHOCKTEST(50CYCLES) HIGHTEMP.:85度C,30MINLOWTEMP.:-40度C,30MINRECOVERTIME:5MIN 就本人接触到的几个高端LED厂的情况看,都需要气体式温度冲击和液体式温度冲击。
BlueLove lv2lv2 07年9月30日 这应该是单个部品的可靠性测试吧,谢谢楼主的分享. 一般现在的工厂的单个部品可靠性认证试验都是在IQC完成的. 而现在我们部门只进行针对产品的可靠性试验.
paulyu lv4lv4 07年9月29日 樓上的朋友也是從事LED行業的啊,邀請加入LED可靠性圈[url]http://www.kekaoxing.com/my//?action_mygroup_gid_5[/url]方便交流吧,呵呵!:lol
paulyu lv4lv4 07年8月22日 [quote]原帖由[i]YPENG[/i]于2007-8-2212:49发表 附件已发给你了,请帮忙上传,谢谢![/quote] 受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。 ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
下来看看啦
二极管在电源中经常失效。学习了
:):)
感谢分享,应该有用。
感谢分享
见识一下,没有这方面的资料
[quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
[/quote]
44444444大多是
[quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
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44444444大多是
[quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
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[quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
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[quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
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[quote][url=pid=7117&ptid=1135]paulyu 发表于 2007-8-22 12:57[/url]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
[/quote]
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好吧,虽然帮助不多,但先赞
测试条件有点要求高,没有那么高温的设备来测试
谢谢
不错的东西,感谢!!
xiexie
附件放的很远呀,谢谢楼主的分享
谢谢:handshake
我正在做浪涌测试,希望有失效分析
有没有一些比较大的电源电路或主板电路的可靠性试验资料啊
请问二极管做动态老化时施加的电流是额定电流还是额定电流的70%-80%?
受益
感谢,受益。
还没看附件县支持一下搂住~~
谢谢楼主了
:victory:
很好,很强大@
刚接触可靠性顶一下呵呵支持了
所有种类的二极管都用同样的条件吗?您的依据是什么?谢谢
實驗項目很全,寫的很詳細啊,不錯,好東西
好像没有统一的标准,各个生产厂家都会自行制定一些自己的企标
终于看见附件:二极管可靠性试验,不知道内容如何
感谢,很好
好东西,不错啊~!
不错不错~!正需要这个东西呢~!
看看那
为什么我下载下来后打不开呢?请版主发一份给我可以吗?
我的邮箱是:[email]sheikh@meida-tech.com.cn[/email]
谢谢了哈
谢谢,受益。
timefordippingfuls是什么意思啊,FULS是什么东西啊,看不懂啊,请解释下,楼主。是不是FULX助焊剂
下载不了啊:(
巨孚仪器吴先生:我是可靠性小白,问一个最白的问题不要见笑哈
高温85度C,15MIN—–这里的15MIN是什么意思
——————————————————————————————-
LZ提供的资料很好!
虽然每个客户的测试要求各有差异,但基本如此。
补充几个本人接触到的试验要求:
1、THERMALCYCLETEST(100CYCLES)
LZ提供的资料很好!
虽然每个客户的测试要求各有差异,但基本如此。
补充几个本人接触到的试验要求:
1、THERMALCYCLETEST(100CYCLES)
高温85度C,15MIN
低温-40度C,15MIN;高低温变化过程为42MIN内,即平均温度斜率为3度C/MIN
2、THERMALSHOCKTEST(50CYCLES)
HIGHTEMP.:85度C,30MINLOWTEMP.:-40度C,30MINRECOVERTIME:5MIN
就本人接触到的几个高端LED厂的情况看,都需要气体式温度冲击和液体式温度冲击。低温-40度C,15MIN;高低温变化过程为42MIN内,即平均温度斜率为3度C/MIN
2、THERMALSHOCKTEST(50CYCLES)
HIGHTEMP.:85度C,30MINLOWTEMP.:-40度C,30MINRECOVERTIME:5MIN
就本人接触到的几个高端LED厂的情况看,都需要气体式温度冲击和液体式温度冲击。
非常感谢tjhirel的解答。
谢谢,好东东啊!
对于二极管,整流桥产品,在PCT实验中我们是这样理解的
1.PCT试验的时间选择与失效模式是没有关系的,材料在PCT实验之后,如果有失效,通常是可以恢复的,PCT时间越短,恢复的几率越高。当然96H后的PCT一样会有恢复。有的甚至不需要烘烤。这就是为何在PCT结束后,对于产品的测量时间,存放位置必须有统一的要求,否则可能是实验数据没有可比性。
至于失效,一般而言就是漏电流变大,甚至反向击穿,这种情况有时是由于实验结束后,测量电性时,造成的进一步失效。这就是为何可能见到PCT失效的材料,竟然会见到材料被烧穿的痕迹,
另外在PCT实验中,一般和少讲到对材料的腐蚀,因为他的能力还不够。这就是为何还会有其它类似的实验,如H3TRB,HastBais等,需要借助电压,来做进一步实验
2.还是向我在以前的回复中所讲的,PCT实验时间的确定不是因为水蒸汽对二极管腐蚀较小,就可以选择较短的时间,而是由你要预估寿命来决定的。
PCT2~4H,用来评估产品早期失效,检查制成是否有异常。
24H,可以预估产品寿命到1~5年,48HPCT可以预估到产品5~10年,96HPCT可以预估的产品15年(这些预估可以参考Hallberg-Peck模型来得出)
以上是对二极管的一些认知,欢迎各位对于其它产品也给予介绍
非常感谢tjhirel的解答。
还有一个问题:PCT试验的时间选择与失效模式是否有关?在我的理解,经过PCT试验,在较短的时间内失效可能是由于水汽渗入,导致漏电流增大,经过烘烤后往往可以恢复;而长时间的试验后的失效,可能就与水汽渗入后对金属层的腐蚀有关了。
LZ的资料是关于二极管的,而对于二极管而言,腐蚀的影响是比较小的,因此可以选择较短的时间。
这种理解是否错误?请高手解答。
谢谢!
PCT我们做到过24H甚至到192H,结果当然不一样,那要看你期望的元件寿命是多少,如果期望寿命为15年,至少应该做到96H,如果想看早期失效,2小时也够了。
(继续)
3、高压蒸煮做24H的意义大吗?通常认为做2~4H就够了。24H的结果和4H的结果差异大吗?想知道这一点。
4、从文本上看,这是一家台资或与台资有渊源的工厂的标准。国标GB/T6351(等效IEC的标准)其实对二极管的可靠性试验有明确的规定,不知道有没有行家按两个标准做过试验,并对比结果。
上述问题真心希望得到高手解答。
先谢了。
附件看了,有几个问题:
1、第六项试验中,IR=IO是什么意思?是IF=IO的笔误?还是其他的什么规定?希望有高手指点。
2、最后两项HTRB(HIGHTEMPERATUREREVERSEBASE)和HTIB(HIGHTEMPERATUREINVERSEBASE——我的理解)的差别是什么?当然我看到了两项试验的温度不一样,但我的理解应该是对于结温不一样的产品应选择不同的温度进行试验。两项应该是一个试验。
3、高压蒸煮做24H
我们公司也做二极管实验,但感觉与贵公司的条件有一些不同,例如HTRB实验,标准要求Tj=150C当材料漏电流不同时,造成反相消耗的功耗也就不同,因此Ta会不同,也就是说并不是所有材料都用同一个温度125C去做实验,这个温度需要根据不同材料去调整
这个不知道为什么没有振动方面的试验
顶一下
最近涉及到了GJB的二极管二次筛选的问题,不知楼主的知识对俺有无帮助,谢谢楼主分享,谢谢
我是新来的,感觉不错
不错,谢谢楼主分享。
谢谢,非常感谢:lol
不错,学习了
需要学习一下
谢谢LZ了
呵呵
xuexiyixia
为和没有寿命加速试验?
谢谢,学习
写得不错
有些项目不适合所有二极管
LZ提供的资料很好!
虽然每个客户的测试要求各有差异,但基本如此。
补充几个本人接触到的试验要求:
1、THERMALCYCLETEST(100CYCLES)
高温85度C,15MIN
低温-40度C,15MIN;高低温变化过程为42MIN内,即平均温度斜率为3度C/MIN
2、THERMALSHOCKTEST(50CYCLES)
HIGHTEMP.:85度C,30MINLOWTEMP.:-40度C,30MINRECOVERTIME:5MIN
就本人接触到的几个高端LED厂的情况看,都需要气体式温度冲击和液体式温度冲击。
学习一下!!
大家好,我是新会员,请教诸位一个问题,用weibull怎么计算LED的寿命呢?我知道公式,但不知道具体参数的意思。谢谢!
大致看了一下,比較適合二極管,但是亦要考慮每個公司產品實際可以承受的環境能力范圍。
感谢搂主,感谢10#,附件是否适合于所有的二极管。期待答案。
不知道樓上的要看什么東西呢?是附件還是其它的?附件詳見10樓。
[[i]本帖最后由paulyu于2007-10-2209:21编辑[/i]]
在哪啊
没看到呢
对各种环境下的,电子特性测试不全
谢谢,很有用
verygood!TKS
这应该是单个部品的可靠性测试吧,谢谢楼主的分享.
一般现在的工厂的单个部品可靠性认证试验都是在IQC完成的.
而现在我们部门只进行针对产品的可靠性试验.
樓上的朋友也是從事LED行業的啊,邀請加入LED可靠性圈[url]http://www.kekaoxing.com/my//?action_mygroup_gid_5[/url]方便交流吧,呵呵!:lol
正在做LED可靠性分析试验
以后多交流
啊
真是好人啊
谢谢啊(范伟)
请问整个功率半导体产品能总结一种最适合工厂进料检验简单易行的方法吗?
很有实用价值的帖子
感谢你!
比较不错的试验规格。
[quote]原帖由[i]YPENG[/i]于2007-8-2212:49发表
附件已发给你了,请帮忙上传,谢谢![/quote]
受ypeng委托將其整理的二極管可靠度實驗規格上傳。
ypeng,我將你附件中公司的名稱拿掉了,請理解。
附件已发给你了,请帮忙上传,谢谢!
YPENG,仍然沒有附件,請上傳附件或PM給我幫忙上傳.
[email]guyun_8033@163.com[/email]
[local]1[/local]
强烈呼唤附件
LZ,附件在哪里?很想看看你整理的资料啊
LZ发了贴没有仔细检查一下吗。。。
附件在哪???
:lol:lol呵呵。我有太阳了啊。。。还没仔细看呢。。。强强!
LZ哪有附件啊,没上传好吧。
而且这里是谈天说地版块,”二极管可靠性试验“怎么放在这里呢,肯定在可靠性试验更合适啊。