请教怎样设计一个halt试验？

谢谢共享资料

高温和低温首先要明确你产品的使用温度范围，其次在根据你产品原材料能承受的最高和最低温度，这个最高和最低温度是指你产品在最高或最低温度下的失效机理与你正常使用温度范围内的失效机理一致。这是用来确定高加速试验的最高和最低温度。具体循环次数的确定还要基于你的加速系数，有很多基础实验在背后支撑。

halt理论基础是失效物理，目的是用尽可能短的时间激发产品潜在问题，提高产品的固有可靠性。所以halt试验设计是要尽可能激发产品故障，所以试验应力尽可能大，但又不能破坏产品，所以先做步进试验摸清产品工作极限和破坏极限 便于后续综合应力的设计，另外还要考虑产品本身薄弱点保护，比如硬盘不适宜过大振动应力，可以考虑拆除，循环次数要根据试验过程调整，可以先做5个，如果没有达到效果，再增加相关应力继续做5个，直到把产品做坏作废为止，故障越多 越利于产品可靠性改进。

好东西呀，楼主辛苦了

没事回复回复，赚取经验

谢谢楼主的分享。

学习

谢谢分享

感謝分享

谢谢分享资料

现在公司要做halt试验，希望高手提供实例指导！

学习了很不错

[quote][url=pid=95524&ptid=11522]fanweipin发表于2011-11-117:41[/url]
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
,还没有正式公布.报批稿吧.
[/quote]

非常噶写分享

:):):)

[quote][url=pid=95524&ptid=11522]fanweipin发表于2011-11-117:41[/url]
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
,还没有正式公布.报批稿吧….[/quote]

学习一下，感谢分享

有没有相应的国际国内标准？

非常感谢！

感谢楼主！辛苦

[quote]fanweipin发表于2011-11-117:41[url=pid=95524&ptid=11522][/url]
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
,还没有正式公布.报批稿吧….[/quote]

謝謝妳的分享摟~
正在爬文
提升自己的功力

有客户要求做hass测试，条件都是客户给的。一般都是在升温降温时会加各种应力~~

:):)

我们做的是芯片的这个实验是依据标准的。JEDEC

[quote]pl6060184发表于2011-11-117:50[url=pid=95525&ptid=11522][/url]
HALT目的是提前暴露样品在的弱点，缺陷，细节可以根据不同产品有不同取值，产品、元器件或附件对那些敏感，…[/quote]

同意，一般就是把温度，震动条件一点点加上去，找产品的极限值

资料是个好资料，做好HALT测试的工程师一看就知道。但是我本对国标期望很高，这份资料里面没有看到一些国内资深技术人员的亮点，因为这资料所讲的所有东西，都是目前所有实验室在执行的一个通常做法，希望国标起草人能有更多的技术突破，而不是收集数据合成资料而已。

建议可以看看国防科技大学温熙森教授编写的一本书《可靠性强化试验技术与应用》（好像叫这个名字），里面有HALT试验的有关详细介绍，至于HASS试验，高加速应力筛选，本人觉得试验应力过大，对交付的产品来说，应力损伤过大，不建议使用。至于HALT，作为产品的研制试验，的确是个好的试验，可以很好的激发产品的设计缺陷和工艺缺陷，缩短产品的研发周期，占据市场，很有帮助。

试验顺序：低温步进试验、高温步进试验、快速温度变化、振动步进试验、综合应力试验，其中产品设计规范内的步进试验，步长可以适当的大一点，超过产品的设计规范，减小步长，快速温度变化和综合应力试验时，试验应力应该在产品的工作极限应力范围之内。

资料不错

有没有相关的操作实例啊，这样更加容易理解和接受。

:):(

学习了:)

资料感觉还不错

HALT試驗，目前沒有幾個公司在做了.

您好，我是山卫集团的汤可州，下周五（11.23号）在昆山我们会举行一个关于HALT/HASS知识以及可靠度维护度技术的研讨会，届时会请到此行业的资深人士进行讲解，如果您有机会的话，希望您可以参加，大家一起学习、探讨HALT测试的知识。
感谢您的支持与关心，您如果有兴趣参加，请联系我报名，或者给我您的邮箱或电话，我来联系您，谢谢！
联系人：汤可州
手机：15995749019
座机：0512-57869809
邮箱：[email]tommy@aecteam.com[/email]

在高加速应力寿命试验中，为了更加全面地寻找试品缺陷，需要隔离某些对温度应力或对振动应力
特别敏感的器件或部件。

学习学习

下来看看，谢谢8楼

很多这样的案例,关键是有fail,要有改善措施.

资料还是蛮不错的，该有的基本上都有了

[quote]fanweipin发表于2011-11-117:41[url=pid=95524&ptid=11522][/url]
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
,还没有正式公布.报批稿吧….[/quote]

你这个才是个真正的好东西，还有没有类似的GB啊，我想收集一些，谢谢！

导则啊，是不是没什么具体内容。

8楼的资料不错

谢谢分享

多谢分享最近正涉及此部分

八楼分享的好资料，谢谢了！

學習了

好资料,有没有其他试验室的资料

感谢分享这个HALT试验资料

谢谢共享资料！

任何加速试验的基本原则是：
高应力+短时间的失效模式=低应力+长时间的失效模式，否则就没有意义。

感谢分享这个HALT试验资料

我们公司也要做HALT试验，了解了一下，好像要有一个试验方案，但不知道如何设计这个试验方案，盼高手指点。
另外，楼主说的资料，可以看一下－－高加速寿命试验和高加速应力筛选技术
或许可以了解的更多一点

halt试验的目的其实就是找缺陷，只是现在的试验理论和试验设备所限都是使用温度、振动应力来作，实际上halt试验只是一个思想和方法，个人认为不一定只局限这几个应力，当然如果用其他应力则需要之前将故障机理搞清楚才行。
具体试验中怎么去选择，则是观念的问题，本来halt试验提出时就是在设计阶段，所以目的只是发现问题，所以可以根据发现问题的多少，产品对不同应力敏感程度来确定试验步骤，如果把它和环境适应性试验搞混淆了的话确实很难选择

关于公司信息安全，不方便提供

[b]回复[url=pid=95551&ptid=11522]11#[/url][i]stan2007[/i][/b]
有没有文件可依？

建议温度选取点以产品的高低温为起点，高温10度步进，低温-5度步进。
首先你要了解你的产品的每个器件或者模块、PCB板的失效机理，不能超过其本生的极限值，并保留一定的余量即可。
比如某个器件的使用温度范围为-20~100，HALT试验时做超过100就没有一点意义了，我们一般做到80~90%的极限值。

谢谢各位的回复，因为现在公司可能涉及到的产品比较多，有成品也有零部件，halt试验应该是不同的吧？
所以才向各位求助是否有一个通用的准则/文件可以对不同的产品进行不同的实验设计。

HALT目的是提前暴露样品在的弱点，缺陷，细节可以根据不同产品有不同取值，产品、元器件或附件对那些敏感，就可以针对试验，比如LCD屏耐低温性能差，可以从0度开始，每五度一个步进试验。

我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
<<电工电子产品加速应力试验规程高加速寿命试验导则>>,还没有正式公布.报批稿吧.

最近也在整理试验，也特别需要这样的试验设计！希望有高手指点！

盼高手回复，学习

个人理解：HALT试验的目的不是所谓的能达到或者不能达到某个标准，它只是我们可靠性增长的一种手段。
试验中寻找高温极限，低温极限，振动极限，电应力极限，综合应力极限（极限包括操作极限和破坏极限），都只是为了暴露样品在各种应力环境下的弱点，缺陷。为了在短时间内发现样品的脆弱点，所以对样品施加高应力，极快的激发和暴露样品的缺陷，以利于我们改进缺陷，提高产品的可靠性。
抛砖引玉，请高手指教！！

HALT实验本来就是测试产品在高温、低温、振动、高低温循环、综合应力这样苛刻的环境下的极限值,其实在HALT刚开始做的那些测试完后,产品在这些极限值就已经出来了

[b]回复[url=pid=95493&ptid=11522]2#[/url][i]yanghe98[/i][/b]

谁的在线时间??

本月在线时间怎么这么多小时？:L