各位老大们：
现有一个问题咨询一下，在对光模块进行可靠性试验后，参数失效判定依据是怎样的？有些公司是按照前后变化量不超过1dB来判定的，我看了GR468没有找到相应的依据，国标倒有以下的规定，不知道有没有同行业的朋友，给点意见，谢谢！
8可靠性试验失效判据
8.1机械完整性试验、耐久性试验和物理特性试验失效判据
机械完整性试验、耐久性试验和物理特性试验的各项试验分别完成以后，在相同测试条件下，出现以下任何一种情况，则判定该模块失效：
1）光模块不能正常工作，或者光模块封装外壳出现裂纹、标签丢失无法恢复等显著损伤；
2）光接口的接口指标不满足相应技术要求，具体技术要求见YD/T986-1998（155Mbit/s和622Mbit/s）、YD/T1294-2003（ATM无源光网络,155Mbit/s）、YD/T1321.1-2004（2.5Gbit/s）、YD/T1321.2-2004（10Gbit/s）、YD/T1351-2005（CWDM）以及YD/T1352-2005（千兆以太网）等；
3）发送光接口输出功率的变化大于1dB（仅适用于155Mbit/s和622Mbit/s）或者3dB（仅适用于1.25Gbit/s、2.5Gbit/s和10Gbit/s），或者接收光接口接收灵敏度的变化大于1dB（仅适用于155Mbit/s）或2dB（适用于622Mbit/s、1.25Gbit/s、2.5Gbit/s和10Gbit/s速率）；
4）发送光接口输出中心波长与标称中心波长的差值绝对值小于0.08nm（仅适用于通路间隔为100GHzDWDM系统的光收发合一模块）或0.04nm（仅适用于仅适用于通路间隔为50GHzDWDM系统的光收发合
光模块可靠性判定标准
人已打赏
各位老大们：
之前见过波长的判定用pm来表示，现在怎么也找不到那个帖子了，能否告之一下波长判定标准是多少个pm?
谢谢了！
学习了
路过，学习
非常感谢，kavinchen。
没有明确的出处。但可以通过器件在所要求的寿命内（如20年），其性能下降的下限来确定可靠性测试的判定标准,然后成为一个行业内普遍认可的标准。有些客户也会有一些具体要求，例如Cisco有明文要求0.5dB,HW,ZTE,ALU等比较大的客户通常是要求1.0dB.
波长：0.1nm(DWDM),6.4nm(CWDM)是根据ITU中对于光模块EOL、BOL的要求来设定的。但实际上很多客户希望DWDM的产品波长漂移在0.05nm以下。因为波长漂移过大会引发其他的一些问题。
谢谢kavinchen，这些判定有没有出处呢？还是客户的要求是这样的？
光功率：+/-1.0dB
消光比：+/-1.0dB
灵敏度：+/-1.0dB
电流：+/-10mA
波长：0.1nm(DWDM),6.4nm(CWDM)
这些都是一般的标准，包括低速和高速光模块，很少有客户会接受变化量超过1.0dB的。
有些客户要求就更更严了，如Cisco就要求0.5dB的。
除外观要求，不能出现功能性的失效，或者主要器件如MCU，LD等失效。