紧急求助高手一个可靠性寿命试验及相关问题

希望这个帖子能继续讨论下去。

谢谢楼主！

学习学习

我曾与客户讨论过类似的问题。

你这更像是一个耐久性试验

“客户建议做失效66.7%的试验高温高湿试验，或者失败数目不到就连续做到3000小时截止”

从客户这个要求来看，该产品的MTBF不应该是5年，5年只是产品的一个设计目标（或是保修期），如果把5年作为MTBF值，那么66.7%的失效已经超过了5年，客户所以想知道在他的保修期内失效值为多少，是想确认他们所定的售价是否合理，如果失效比值小了，他们可以重新修改价格，以具有更好的市场竞争优势，或保持原价以获得更大的利润。

不是有国家标准吗有这么麻烦吗

谢谢楼上两位的辅导，我们会逐渐尝试的！

产品是内存调的话，可以参考元器件的试验方法，其两者失效模式基本相同。差别的是内存条的制程是焊接在PCB板上，热涨冷缩是其主要的失效模式，可以从GB299C中参考焊点的计算方式，会有所启发。
我没有做过元器件的可靠性，对元器件的试验方法不熟，你可以找做过元器件可靠性的人帮忙。双85,1000小时的试验，通常是用来评估元件MTBF和寿命的方法。

服务器内存条其主要的实效模式与什么应力相关，比如温度，温度循环，高温高湿度，通过一种主要失效应力加速试验进行可靠性试验是可以计算出MTBF和使用寿命的，不同的应力都有不通的模型计算加速因子。

另外加速的应力应该不能改变产品的实效机理，才能模型计算加速因子；另外MTBF与实验的样品相关，样品越多数据越可信，使用寿命则与样品数量无关。

[quote]–接上–
若以上还不能满足你的要求，那么
把试验分为3个部分a.25台在恒定温度下用来做MTBF试验；b.3台在…
aomareliability发表于2012-2-218:12[url=pid=98062&ptid=11815][/url][/quote]

非常感谢楼上
我们就是做单根内存条DIMM的企业
也就相当于是系统中的元器件部分
现在有个问题是针对我们产品特性是做截尾试验还是做定时试验
有个客户建议我们做失效66.7%的试验高温高湿试验，或者失败数目不到就连续做到3000小时截止，
这是什么原理呀？

–接上–
若以上还不能满足你的要求，那么
把试验分为3个部分a.25台在恒定温度下用来做MTBF试验；b.3台在家里的试验箱，使用温度，湿度和循环来做寿命试验评估；c.2台不工作的状态通过应力试验，去评估更种材料特性。
以上是个人意见，请谨慎参考！

–接上–
2、通过以上几点，选择的试验如下
a.MTBF试验，使产品在满负荷的工作条件下，只是使用温度加速因子进行加速试验。加速试验的原则是加速引起的失效模式等于不加速的失效模式。所以我们在条件允许的情况下尽量降低加速因子。试验时间要大于产品的工作周期，例如产品的工作周期是8小时，那么试验的时间最少也要80小时，但不是产品工作周期为1年，试验的时间就要选10年，这个需要灵活掌握；在试验时间满足的情况下，试验的样品尽可能的多，若样品数量允许还可以采用降低加速因子的方法。总结：试验的时间能长则长，样品能多则多，加速因子能降则降。
b.应力试验：使用应力试验来考量材料的特性。为什么使用应力试验呢？采用应力试验时可以不开机工作，也没有必要整机都进行试验，而且材料的失效模式很少，很容易通过试验直接判断出来。
c.HALT试验，通过不断增加应力的方法找出产品的缺陷（也不一定是缺陷，但是容易破坏的点）。这个试验最重要的是失效分析，需要各个部门很好的配合。

还是不确定你要做测试的产品，内存？还是服务器？从你说的看来是做服务器，那就按照服务器的说说。
1、首先要区别MTBF和寿命。
a.MTBF（针对电子器件）是指运行多长时间出现失效，不考虑或者忽略不运行时间出现失效的问题，也假设了一般的工作条件为正常工作条件，比如一年四季温度的变化进行综合后得到的条件等于正常条件。之所以这样认为，是因为MTBF的计算结果是近似的，没有比较加以区分。
b.寿命(针对材料)则不一样，热涨冷缩，灰尘，氧化，湿度等都对寿命产生累加影响。比如低温条件下灰尘更容易进入，高温环境下湿气更容易进入，湿度高的情况下给氧化提供了良好的场所，工作和不工作状态温度差产生的热涨冷缩等等。任何时刻产品的寿命都在不断减少，这样给如何选择合适的加速应力来试验带了麻烦。尤其是系统设备，通常元器件通过双85的试验1000小时来评估产品的寿命和MTBF，这是由产品特性和制成决定的。
c.可靠性的试验基础，和得到失效分布都是基于元器件，而不是系统产品。当MTBF不能满足产品的需求，需要加入寿命进行评估时，就需要认真分析产品组成材料的失效模式，再选取应力进行试验。我还没有找到这一类试验的依据，只能依靠经验，但通常的做法是通过应力试验来评估材料的特性，而不是寿命试验。

这样做出的结果是MTBF值，对于不可维修的产品来说，可以说是平均寿命。

寿命和MTBF是两个数据，你这样做得出的不是寿命

[i=s]本帖最后由stevenfeng于2012-2-111:37编辑[/i]

谢谢楼上！
我们主要是研发制造服务器内存条的，目前在寿命和平均失效周期方面就两个主要问题
1.我们想验证我们的产品某个机种是否可以达到寿命5年，利用高温高湿或其他加速试验的方式，我们目前有一台恒温恒湿箱和一台温变率只有2~3度的高低温试验箱，一般可以准备的最大样品只有30个左右，如何实现？
2.我们想通过不断的试验看看每个机种的MTBF，日积月累的看看MTBF的变化，如何实现？补充一点：只要方法得到，所有试验都可以委托第三方做的！

steven刚刚写了很多，感觉太难受了。离开产品只能谈谈理论和方法，还是不能解决你的问题，只会更糊涂。
可以不可以把产品的特性再多说一些！？
若不方便的话，你就把问题一个个说。

根据概率这个应该是不可能实现的！

我觉得可靠性是个很纠结的问题。
在理论上我们能计算出MTBF，但实际中如果运气不好一连拿三个产品都是有问题的。那这个计算还有意义嘛？
虽然说对公司来说，我们能计算出一个良品率，通过这个良品率设置一个维修部。
但对最终用户来说，他们只要发现一个有瑕疵的就认为这个品牌的产品是有瑕疵的。
我们如何能在出厂前就发现这些有瑕疵的，让出厂后的良品率达到100%呢？

现在重新定义一下范围
1.我们有几十个样品
想知道在高温高湿加电的情况下（仅仅是加偏置电压而已）做到什么程度可以证明我们的产品寿命可以达到5年？
平时产品的使用温度是25C/RH50%
2.如何利用以上产品和试验状况和环境计算出我们产品的MTBF
期待高人指点！

MTBF不等同与寿命，MTTF也不等同于寿命
MTBF和MTTF的计算方法是一样的。
你的试验方法是定时截止的MTBF试验，不是寿命试验。

[quote]太多的假设了，貌似没有问题，其实试验结果可能和真实情况相去甚远。这样的计算，为了完成一份报告还可以，…
cyber发表于2012-1-1713:31[url=pid=97815&ptid=11815][/url][/quote]
很感谢！
我先做份自己的内部推算，等楼上有时间还望指点一二！
也希望能在这方面有准确的定义和计算方法，谢谢！

太多的假设了，貌似没有问题，其实试验结果可能和真实情况相去甚远。这样的计算，为了完成一份报告还可以，可以让大多数人接受，不过如果做真实的产品，为了确保其可靠性，这还是不够的。
首先：MTBF=MTTF=平均寿命5年，这个假设值得商榷。
Ea=0.6,常温25C/50%H,加速试验75C/85%RH，这样算下来AF=46。过程可能没有问题，但是这些假设也需要探讨。
时间关系，稍后解释，如果着急，给我消息。

放了三天都没有顶，是不是都放假啦，我自己没办法做了一个，不知道哪里不妥，还望知道的指点一二呀！
我假设产品平均寿命5年，而且MTBF也约等于MTTF，Ea=0.6,常温25C/50%H,加速试验75C/85%RH
这样算下来AF=46
再根据单信置下限和采用截尾试验方法，C=95%的可信度可以计算得到大约10个样品在12天之内75C/85%RH的条件下没有失效，MTBF=MTTF=平均寿命5年
推算过程如下：
Derivationprocessasbelow:
1. Weselect“FixedTruncationtime”testmethodandused“OneSided(LowerLimit)”measures.
2. MTTF=MTBF=5years*365days*24hours=43800hours
3. Failednumberr=0(nosamplesfailedduringTHBconditiontest)
4. α=5%(acceptableriskoferror)
5. C=(θL≤θ≤θu)=1-α=95%(confidencelevel)
6. θ=Redcircledformula
whenr=0afterTHBfinished,wesetupTHBtime=Ty
Ty=T/10moudles
AccordingtoDistributionofX2(CHI-SQUARE)(MIL-HDBK-338BTABLE8.3-11)
Whileα=0.05r=0X2=5.991
T=43800Hours*5.991/2=131203Hours
SoTy=13120Hours
Upisnormaltemperatureandhumidity(25C/50%RH),weneedgettheAF(accelerationfactor)valueforhightemperatureandhighhumiditytest.
AccordingtoArrheniusModelmeasuredformula
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]+(RHu^n-RHs^n)}
SetupEa=0.6Ev(Asthepowerofmovementandshort-termorshort-circuit),Tu=25C,Ts=75C,RHu=50%RHs=85%
AF=EXP(0.6*((1/298)-(1/348))*10^5/8.6+(0.85^2-0.50^2)=46
SoneedtesttimeTs=Ty/AF=13120/46=285Hours≈12days(sowecansaywehad95%trustthesemodulescanworkonwell5years)
Becommensuratewithupmeasured,ifr≤1(atfinishedtimepointfailed1pcssamples),C=95%,MTTF=5years,
SoTs=446hour≈19days