各位童鞋，目前我需要设计一个考察MOSFET可靠性的加速寿命试验，加速因子为温度和电应力。
产品设计目标：30000小时失效率在1%以内。
请问是否需要通过韦布尔分布来设计加速试验的样品个数，试验时间？还是仅仅通过加速因子的计算就可以？
此外，还请问韦布尔分布的形状参数m是如果获得的，有什么软件可以用来计算？Minitab可不可以呢？有哪位大侠有这方面的资料，望不吝赐教。
求助：关于加速试验设计的问题
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等着楼主的应用答案。
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可以借用一些工具，比如posvim中的加速试验设计与分析模块，可以解决试验方案设计，评估，数据后期处理分析工作。
不是有weibull++可以用吗
等着楼主的应用答案。
[quote]除非你知道加速试验下，你产品的失效分布服从威布尔分布的哪个形状。不然在这里你没法把威布尔分布和加速寿…
aries发表于2012-3-1612:26[url=pid=100213&ptid=12009][/url][/quote]
你好，我的msn是[email]luke_zjj@hotmail.com[/email]，欢迎讨论，如果需要知道韦布尔分布的形状参数、特征寿命，那是不是说我一定要做什么恒定应力截尾试验？
除非你知道加速试验下，你产品的失效分布服从威布尔分布的哪个形状。不然在这里你没法把威布尔分布和加速寿命捆在一起。
楼主留个联系方式呗，有空探讨下，这个case还比较有趣。
顶啊，求助
用minitab我也在研究，谁有这方面的资料可以共享呢？十分感谢。
可以用Minitab试试：
Stat->Reliability/Survival->TestPlans->…
哪位高手能帮忙解惑呢？