求助失效模式、影响及其诊断分析(FMEDA)分析

目前公司在进行SIL(安全完整性等级)认证,我们在进行FMEDA分析(失效模式、影响及其诊断分析)时,对IC的失效不知道怎么判断。
TUV的建议是24pin以上的IC分为安全失效(50%)和危险失效(50%)。
仪表所的建议是24pin以下的IC对其进行pintopin短路分析,然后得出其失效(这项工作量太大)。
还有说法是对IC的每个pin的输入或输出进行失效判断。
还有的说法是对IC的功能模块进行区分,然后对功能模块进行失效分析。
请教论坛中的大牛,FMEDA分析中有没有对IC失效判断的好办法。
另:请问有哪些机构或个人做FMEDA做的好的。
谢谢!

给TA打赏
共{{data.count}}人
人已打赏
可靠性技术可靠性试验

9吨推力的三综合振动台测试

2012-3-20 15:20:41

可靠性技术可靠性试验

求助MTTR检测

2012-3-20 15:51:40

19 条回复 A文章作者 M管理员
  1. 噜噜爸

    好东西,谢谢分享

  2. 海底的鱼

    要对复杂芯片进行分析太难了,曾经问过很多硬件工程师,他们都说不清楚。个人觉得以公司现有资料为基础,逐步建立失效库是最有实际意义的。如果芯片厂家有失效资料那就更好了。
    如果有大量的使用经验,得到的实际数据,是第一优选;其次是厂家提供的资料;再次才是自己预计的数据。因为预计和分析的毕竟是假设条件下得到的,就目前国内的情况而言,不如统计和试验的来的实用。如何通过理论分析和预计对设计有实际意义,还有很长的路要走。

  3. 小人物_e4Ouw

    我参加过TUV的培训,他们介绍的方法是,对于大型的集成芯片,如CPU、DSP之类的芯片,可以先按功能进行分析,失效率占90%,再按照引脚的开路和短路进行分析,失效率占10%。功能失效的失效模式一般会包括内核失效,时钟失效,复位失效,ram失效,flash失效、外部功能失效等等。
    希望对你们有些帮助

  4. [quote][url=pid=100862&ptid=12134]laoge2012发表于2012-3-2808:21[/url]
    FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

    ManagementSummary
    [/quote]

    你好没能发给我份资料吗

  5. [quote][url=pid=100862&ptid=12134]laoge2012发表于2012-3-2808:21[/url]
    FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

    ManagementSummary
    [/quote]

    你好没能发给我份资料吗

  6. [quote][url=pid=100862&ptid=12134]laoge2012发表于2012-3-2808:21[/url]
    FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

    ManagementSummary
    [/quote]

    你好没能发给我份资料吗

  7. [quote][url=pid=100862&ptid=12134]laoge2012发表于2012-3-2808:21[/url]
    FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

    ManagementSummary
    [/quote]

    你好没能发给我份资料吗

  8. lixiong198417

    [b]回复[url=pid=100862&ptid=12134]9#[/url][i]laoge2012[/i][/b]
    虽然这份文件已经有了,但还是谢谢!
    这家做FMEDA应该是顶尖的,他们的分析是建立在他们失效库基础上的(他们的失效库不对外开放)。
    可以他们借鉴一些方法,但还得建立自己的失效库。
    我们现在的问题点是IC的失效怎么定(也可以理解为IC的失效库建立的问题)。
    如果按照TUV的建议对设计没有帮助。
    如果IC的每个输出Pin进行失效判断,这个得要对相应的输入IC(即分析IC的输出Pin的接受方)非常了解(可能得要不亚于原厂技术支持才行)。并且之前跟原厂的技术支持了解过,他们的回答一般是可能这样。。。。
    您能不能帮忙介绍几个在方面有比较深入了解的专家?

  9. lixiong198417

    谢谢!admin老大帮忙高亮。

  10. Jack315

    感谢楼上的分享!

  11. laoge2012

    [b]FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis[/b]

    ManagementSummary
    ThisreportsummarizestheresultsofthehardwareassessmentintheformofaFailureModes,Effects,andDiagnosticAnalysis(FMEDA)oftheMobrey2120VibratingForkPointLevelSwitch,hardwareandsoftwareasdescribedin[D1]-[D5].AFailureModes,Effects,andDiagnosticAnalysisisoneofthestepstobetakentoachievefunctionalsafetycertificationofadeviceperIEC
    61508.FromtheFMEDA,failureratesandSafeFailureFractionaredetermined.TheFMEDAthatisdescribedinthisreportconcernsonlythehardwareofthe2120PointLevelSwitch.ForfullfunctionalsafetycertificationpurposesallrequirementsofIEC61508mustbeconsidered.
    The2120PointLevelSwitchisa2/3-wiresmartdeviceusedtosensewhethertheprocesslevelisaboveorbelowaparticularpoint.The2120PointLevelSwitchcontainsself-diagnosticsandisprogrammedtosenditsoutputtoaspecifiedfailurestateuponinternaldetectionofafailure.
    Table1givesanoverviewofthedifferentversionsthatwereconsideredintheFMEDAofthe2120PointLevelSwitch.

    [b]TableofContents[/b]
    ManagementSummary2
    1PurposeandScope.5
    2ProjectManagement…6
    2.1exida..6
    2.2Rolesofthepartiesinvolved..6
    2.3StandardsandLiteratureused.6
    2.4Referencedocuments.7
    2.4.1DocumentationprovidedbyMobreyMeasurement…7
    2.4.2Documentationgeneratedbyexida7
    3ProductDescription.8
    4FailureModes,Effects,andDiagnosticAnalysis10
    4.1FailureCategoriesdescription10
    4.2Methodology–FMEDA,FailureRates11
    4.2.1FMEDA..11
    4.2.2FailureRates…11
    4.3Assumptions..12
    4.3.1UserConfigurationRestrictions…13
    4.4Results13
    5UsingtheFMEDAResults15
    5.1PFDAVGCalculation2120PointLevelSwitch15
    6TermsandDefinitions16
    7StatusoftheDocument17
    7.1Liability17
    7.2Releases.17
    7.3FutureEnhancements…17
    7.4ReleaseSignatures.18
    AppendixALifetimeofCriticalComponents..19
    AppendixBProofteststorevealdangerousundetectedfaults.20
    B.1SuggestedProofTest…20

    希望对楼主有帮助

    文件下载:2120_FMEDA_r1_v1.pdf
    密码或说明: 大小:384KB attach文件下载后改名pdf后缀

  12. laoge2012

    很有挑战性的工作,我们公司一个团队,据说搞了1年多才搞定,很复杂了

  13. lixiong198417

    [b]回复[url=pid=100846&ptid=12134]6#[/url][i]giant110[/i][/b]
    谢谢您的帮助!
    之前问过TUV。
    TUV的建议是24pin以上的IC分为安全失效(50%)和危险失效(50%)。
    但这样的结果不是我们想要的。
    比如当对CPU分析时,如果按50%安全、50%危险的话,就无法对其使用的诊断方法有效分析了。
    因为CPU中各个功能块的诊断方法不同,各个诊断方法的诊断覆盖率也不一样。
    如果按TUV的建议的话,对于我们分析后的设计改进作用不大。

  14. giant110

    是的现在好像欧盟有个统一的SIL定义标准您可以问问TUV

    回复3#giant110
    GB20438是翻译于IEC61508的,IEC61508里有SIL的定义和实施方法。
    如果只是应付认证机构,可能用认证机构的建议就可以了。
    我们现在是要想真正的深入分析,并且对设计产生一定的帮助。可是现在我们团队没有找到高效并合适方法。
    因此想问问论坛中的高人有没有好的建议。

  15. giant110

    是的现在好像欧盟有个统一的SIL定义标准您可以问问TUV

    回复3#giant110
    GB20438是翻译于IEC61508的,IEC61508里有SIL的定义和实施方法。
    如果只是应付认证机构,可能用认证机构的建议就可以了。
    我们现在是要想真正的深入分析,并且对设计产生一定的帮助。可是现在我们团队没有找到高效并合适方法。
    因此想问问论坛中的高人有没有好的建议。

  16. giant110

    是的现在好像欧盟有个统一的SIL定义标准您可以问问TUV

    回复3#giant110
    GB20438是翻译于IEC61508的,IEC61508里有SIL的定义和实施方法。
    如果只是应付认证机构,可能用认证机构的建议就可以了。
    我们现在是要想真正的深入分析,并且对设计产生一定的帮助。可是现在我们团队没有找到高效并合适方法。
    因此想问问论坛中的高人有没有好的建议。

  17. lixiong198417

    [b]回复[url=pid=100655&ptid=12134]3#[/url][i]giant110[/i][/b]
    GB20438是翻译于IEC61508的,IEC61508里有SIL的定义和实施方法。
    如果只是应付认证机构,可能用认证机构的建议就可以了。
    我们现在是要想真正的深入分析,并且对设计产生一定的帮助。可是现在我们团队没有找到高效并合适方法。
    因此想问问论坛中的高人有没有好的建议。

  18. giant110

    貌似GB20438里面有SIL的定义和实施方法

个人中心
购物车
优惠劵
今日签到
有新私信 私信列表
搜索