可靠性寿命的计算（高手请进）

不知到是什么

谢谢分享！

新手领教了

这个计算为什么没有湿度啊，如果要做温湿度测试，湿度是否也会有影响。

真的不错！值得大家学习!

好資料，感謝大大分享

哎公司没有这方面师傅带我一个新手现在到处撞墙啊

真的不错！值得大家学习!

非常感谢你

学习中有点迷糊

Goodinformation!Thanksverymuch

新手什么都了解一点呵呵

恩，不错不错，最近也为如何计算产品寿命而烦恼。

burnin什么意思？

大家都来学习和讨论吧，新手上路…

老化的时间能说明保质期（功能不失效）的时间吗？

学习学习！

最近都一直在為這些事煩心~參考受教囉!

刚刚接触可靠性试验，你所说的，先进行MTBF验证寿命，再筛选试验，有点不明白，为什么不是先筛选再评估寿命呢？

我最近搞得头都大了！是关于温差电致冷器的可靠性！

说的很明白，学习一下

GB108是不工作状态的可靠性预估
有没有不工作状态的可靠性验证？

學習過，謝謝啦

学习了

Burn-in和MTBF是不同的目的.
MTBF是企圖使用試驗手段來驗證產品的壽命是否符合預期,即使採用加速原理,也必須消耗很長的時間.
Burn-in則是企圖透過短時間燒機環境,將早夭期的產品過濾掉,確保賣出去的產品不會有過早失效的瑕疵.
簡單來說,產品必須先經過MTBF驗證壽命,然後再透過Burn-in篩檢早夭期的產品,讓[微笑曲線]前段的早夭期控制在工廠端.
就這樣嘍.

你的产品的主要失效形式确定了么？

可靠性实验的目的就是验证产品预估寿命如何，因此在完成一个实验以后还需要对所有数据，测试条件进行整理，才能算是完成一个完整的实验（这里不包含FA，CAR等等）

在计算寿命时需要知道一些必要的条件，我们以高温反偏为例（HTRB）
1.客户实际使用的条件：温度，电压等
2.做加速实验时的条件：温度，电压等
3.对于半导体来讲，还要知道ACTIVATIONENERGY
4.测试时间，抽样数量，失效数量等
然后利用模型进行计算，（这个实验可以用ARRHENIUS模型）即可得出
A。加速因子
B。MTBF
C。Fit等参数

其它的环境实验计算基本类似只是采用不同的模型而已
如：
PCT采用：Hallberg-Peck
TC采用：COFFIN-MASON

学习了，谢谢

很好很强大，受益匪浅。
元器件筛选多采用温湿度和振动来实现，通过不同的加速模型计算公式，来估计其寿命，模型本身也谈到了筛选度，知道现在我都还没有完全弄明白，呵呵，先学习了。

thankyouverymuch.

真的不错！值得大家学习!

这方面的知识真的很欠缺啊，看来真得下一番功夫了。

一直在找这个寿命试验计算方法,下载了,看了一下,不太懂,好象没有湿度方面的

筛选度的高低可以作为ESS的依据吗?其数值的高低表征的是什么意思?
期盼高手帮忙解决这个疑问

度过了，谢谢搂住

谢谢分享,学习了

学习一下！TKS

分享了~~~

刚接触可靠性，需要努力学习，呵呵，感谢大家的讨论！

谢谢分享,学习了

值得大家学习!

现在常用的还是阿列纽斯的温度加速模型。其它的包括电压类的也有。湿度加速目前业界还不是很详细

加速老化实验的产品死亡(失效)标准该如何定呢?有什么标准可以参考?

好资料，谢谢！

用MTBF就可以了呀~;P

谢谢楼主“！:lol

Goodinformation!Thanks!

Thanksverymuch!

哈哈，多谢，LZ！

附件是简略的长时间老化计算!
:handshake

学习咯！

[quote]原帖由[i]xyxiang1982715[/i]于2007-8-1012:50发表[url=pid=6211&ptid=1229][/url]
可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！[/quote]
Theburn-intestisperformedforthepurposeofscreeningoreliminatingmarginaldevices,thosewith
inherentdefectsordefectsresultingfrommanufacturingaberrationswhichcausetimeandstressdependentfailures.Intheabsenceofburn-in,thesedefectivedeviceswouldbeexpectedtoresultininfantmortalityorearlylifetimefailuresunderuseconditions.Therefore,itistheintentofthisscreentostressmicrocircuitsatorabovemaximumratedoperatingconditionsortoapplyequivalentscreeningconditions,whichwillrevealtimeandstressdependentfailuremodeswithequalorgreatersensitivity.
详见MIL-STD-883FMETHOD1015.9BURN-INTEST
MIL-STD-883F下载地址：
[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1923-1-1.html]http://www.kekaoxing.com/club/thread-1923-1-1.html[/url]

SS=1-exp[-0.0017*(R+0.6)^0.6*t]
式中：R—高温与室温(一般取25℃)的差值；
t—恒定高温持续时间(h)；
例：用85℃对某一元器件进行48H的筛选，则其筛选强度为:44.5%=1-EXP(-0.0017*((85+0.6)^0.6)*48)；

R是差值，应该减掉常温下。

EXP是在指数分布在EXCEL中的写法。你可以在EXCEL试一下。

hey,你附件的这个例子:
用85℃对某一元器件进行48H的筛选，则其筛选强度为:
44.5%=1-EXP(-0.0017*((85+0.6)^0.6)*48)；
其中(85+0.6)这里按公式85不是要减去一个室温25吗？
还有EXP在这里是什么意思呢？

[quote]原帖由[i]xyxiang1982715[/i]于2007-8-1012:50发表[url=pid=6211&ptid=1229][/url]
可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！[/quote]
产品失效分布函数符合浴缸曲线，初期失效主要是由产品本身的制造缺陷造成的。我们可以通过可靠性设计或者加强生产控制尽可能的减少这一时期的失效，但无法避免；所以我们可以用一些加速老化的方法进行合理的筛选，将缺陷产品尽可能的在交付使用前就淘汰掉。burnin就是一个老化筛选的过程。

如果首先你要清楚你自己要求的寿命在哪里?是50%,90%,63.2%,这个要求不一样,你的可靠性寿命是不一样的

[url]tid=1190&highlight=468[/url]

学会论坛搜索功能会对你很有帮助.

偶认为应该取最短的那条，

不错啊

我才接触可靠性，谁有GR-468？

真的不错，谢谢分享。
值得大家学习学习。。

不知道什么时候能上传附件啊？

[quote]原帖由[i]homzi[/i]于2007-8-2008:34发表[url=http://club.kekaoxing.com/redirect.php?goto=findpost&pid=6921&ptid=1229][img]http://club.kekaoxing.com/images/common/back.gif[/img][/url]

不知道什么时候能上传附件啊？

burnin是没法计算寿命的，像你的这种产品，应该可以通过寿命试验来计算。。

查看一下这个里面好像有计算的实例，当时548在中兴的时候，有做的也是光器件部分。。
[url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-1183-1-1.html[/url]

[quote]原帖由[i]paulyu[/i]于2007-8-908:36发表[url=pid=6092&ptid=1229][/url]

你提及到的屬于環境實驗的內容,同壽命沒有關系的,它旨在評估產品在該環境下耐力狀況,如果涉及壽命則需要進行burnin的動作。[/quote]
品是寿命的计算是需要进行burnin的动作。象一些无源的光器件，根本不会有burnin的动作。应该如何计算他的寿命呢？有一些有源的也没有必要进行burnin的动作。

[quote]原帖由[i]cliffcrag[/i]于2007-8-1608:58发表[url=pid=6669&ptid=1229][/url]
这个可以用威布尔分布下面的这个实例来做计算。因为我这里暂时无法上传附件，所以只贴出部分文字。相关图表也没有。

等晚上传上EXCEL附件，大家一起看看！

[/quote]
对于附件期待中

[quote]原帖由[i]cliffcrag[/i]于2007-8-1608:58发表这个可以用威布尔分布下面的这个实例来做计算。因为我这里暂时无法上传附件，所以只贴出部分文字。相关图表也没有。

等晚上传上EXCEL附件，大家一起看看！

[/quote]

这个威布尔的实例是可靠性方面用EXCEL比较经典的计算。要好好看看。。

好久没有进来坐坐了，谢谢楼主的资料！！！！！！！

这个可以用威布尔分布下面的这个实例来做计算。因为我这里暂时无法上传附件，所以只贴出部分文字。相关图表也没有。

等晚上传上EXCEL附件，大家一起看看！

[quote]

在相同条件下对10个元件进行测试，测试时间为120个小时,计算元件寿命为266小时时元件的失效概率（不可靠度)以及可靠性为85%时元件的可靠寿命。
有6个元件分别在第16、34、53、75、93和120小时的时候失效。其他4个元件仍能正常工作，并停止试验.计算元件寿命为266小时元件的失效概率.

[table=521][tr][td=1,1,131]样品总数(N):[/td][td=1,1,72]10[/td][td=1,1,102][/td][td=1,1,72][/td][td=1,1,72][/td][td=1,1,72][/td][/tr][tr][td=1,1,131](1)[/td][td=1,1,72](2)[/td][td=1,1,102](3)[/td][td=1,1,72](4)[/td][td=1,1,72](5)[/td][td=1,1,72](6)[/td][/tr][tr][td=1,1,131]Fail#=i[/td][td=1,1,72]TimeofFail[/td][td=1,1,102]Ln(t)[/td][td=1,1,72]F(ti)estimate[/td][td=1,1,72]R(ti)estimate[/td][td=1,1,72]Ln{-LnR(ti)}[/td][/tr][tr][td=1,1,131]　[/td][td=1,1,72](t)[/td][td=1,1,102](x)[/td][td=1,1,72](i-0.3)/10.4[/td][td=1,1,72]1-F(ti)[/td][td=1,1,72](y)[/td][/tr][tr][td]1[/td][td]16[/td][td]2.772588722[/td][td]0.067308[/td][td]0.932692[/td][td]-2.66384[/td][/tr][tr][td]2[/td][td]34[/td][td]3.526360525[/td][td]0.163462[/td][td]0.836538[/td][td]-1.72326[/td][/tr][tr][td]3[/td][td]53[/td][td]3.970291914[/td][td]0.259615[/td][td]0.740385[/td][td]-1.20202[/td][/tr][tr][td]4[/td][td]75[/td][td]4.317488114[/td][td]0.355769[/td][td]0.644231[/td][td]-0.82167[/td][/tr][tr][td]5[/td][td]93[/td][td]4.532599493[/td][td]0.451923[/td][td]0.548077[/td][td]-0.5086[/td][/tr][tr][td]6[/td][td]120[/td][td]4.787491743[/td][td]0.548077[/td][td]0.451923[/td][td]-0.23037[/td][/tr][tr][td]7[/td][td]120[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][/tr][tr][td]8[/td][td]120[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][/tr][tr][td]9[/td][td]120[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][/tr][tr][td]10[/td][td]120[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][td]　[/td][/tr][/table]

F(1)=(1-0.3)/(10+0.4)＝0.067307692
分子为：失效次数-0.3；分母为：样品数+0.4

将F(t)=1-e^(-t/a)^r变形可得到：Ln{-Ln[1-F(t)]}=r*Ln(t)-r*Ln(a)这就形如y=kx+b

在趋势线格式中”显示公式”,可自动显示出y=kx+b(即r和r*Ln(a)的值
r=1.205r*LN(a)=5.995a=144.76

所以：
226小时的可靠度为R(t)=0.180788076
此时间下的不可靠度F(t)=0.819211924

在这个测试结果下，产品的MTBF为：132.727779

*可靠性为0.85000304时可靠寿命为：32.04798117[/quote]

[quote]原帖由[i]homzi[/i]于2007-8-1509:55发表[url=pid=6603&ptid=1229][/url]
paulyu
您好，谢谢您的解释。我可以这样理解，您看对吗？
我做了11个产品做实验，有1个在工作200小时后失效，1个工作400小时后试销，其他的继续工作了800小时，实验继续。我可以判定这前2个寿命是（200+400…[/quote]

你这个计算是错误的，，而且你描述不清楚，如果按800小时定时截尾无替换来计算，因该是平均寿命=（200+400+9*800）/2，当然你可以把定时时间再加长。

[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-980-1-1.html]http://www.kekaoxing.com/club/thread-980-1-1.html[/url]關于MTBF或者MTTF知識，請參考338發表的帖子，很經典的喔。不妨和他討論討論.

我有点明白了，平均寿命=总时间/失效数

paulyu
您好，谢谢您的解释。我可以这样理解，您看对吗？
我做了11个产品做实验，有1个在工作200小时后失效，1个工作400小时后试销，其他的继续工作了800小时，实验继续。我可以判定这前2个寿命是（200+400）/2=300小时，但是后面9个因为试验没有做完，还没办法计算他的寿命。

1.MTTF是有效使用期的故障率的倒數,以小時表示。

2.MTTF和故障率可通過操作壽命測試來確定.樣本總數乘以樣本操作時間數,然后除以災難故障數所得到的結果就是MTTF.

3.MTTF是隨機變量、出錯時間的期望值,不代表能保証的最短的生命周期,MTTF的長短,受樣本數量及實驗時間長短的影響.

平均失效时间（MTBF）也是在BURNin的状态下计算出来的吗？MTBF和寿命是否是同一个概念

1.产品在不同的环境温度下确实有不同的寿命;
2.可靠性实验中温度应力有严格要求:温度应力剖面应真实地模拟受试设备在使用中经历的实际环境.严格来说应经历各种状态.从试验边界而言,需考虑以下因素:(1)起始温度和接通电源时间;(2)工作温度(范围/变化率和变化频率);(3)每一任务剖面中的温度循环次数;(4)冷却气流(速度和波动).

burnin意即燃燒,屬于加速agingtest范疇,類同于ORT實驗,只是我們習慣于這樣講而已,具體的解釋請各位高手到dimin指定的地址看看。有什么好的見解拿出來討論下。

不错，值得学习。:lol

nola.burnin是指老化，也称为aging

可能是在通电状态下

真的不错！值得大家学习!

还不错，支持支持。。

可以看看：[url=http://www.kekaoxing.com/my/?uid/948]angel8679版主[/url]回复的：[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1158-1-1.html]howtodefinetheburnintestforadaptor[/url]

也盼其它高手来解释解释burnin方面的知识。。。

paulyu您好，我也想了解一下BURNIN的知识

不错，鼓励自己动手制作，验算这些公式。

虽然论坛里有一些相关这方面的可靠性资料，但还是要支持一下。。。:victory:

这是一个可以计算可靠性的寿命，MTBF等，计算比较简单

可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！

[quote]原帖由[i]homzi[/i]于2007-8-817:23发表[url=pid=6076&ptid=1198][/url]
现在在做可靠性的试验，包括高温存储，低温存储等。高温存储时会计算出一个寿命，低温存储也会计算出一个。我如何评价这种产品的寿命[/quote]
你提及到的屬于環境實驗的內容,同壽命沒有關系的,它旨在評估產品在該環境下耐力狀況,如果涉及壽命則需要進行burnin的動作。

[quote]可靠性的试验，包括高温存储，低温存储等。高温存储[/quote]

这些试验只是暴露出问题来,怎么可以评价出产品的寿命呢…