我们的测试环境是这样的
测试温度区间0~100C
温度变化率10C/MIN
温度保持10分钟
每个循环约40分钟
试验样品数量5个（电子模块，服务器内存条）
第一个失效循环点是1400个循环
第2~5个失效循环点是2330个循环
有哪位高手可以帮忙推算以下内容，谢谢
求产品寿命（我自己算的约8年，精确点也可能是6年）
求产品失效率
求产品平均失效周期
求产品筛选强度
请教有关高低温循环加速测试预估产品寿命问题
人已打赏
-
￥优惠劵使用时效：无法使用使用时效：
之前
使用时效：永久有效优惠劵ID：×
新人不懂，提个问题：
你只说了TC实验的温度上下限，如果不提供实际应用环境的的温度上下限、温循频率，能计算寿命吗？