磁珠银端头与本体分离导致开路，电子显微镜SEM下观察失效磁珠损坏形貌
磁珠内导线未熔断，磁珠与PCB板焊接面铁氧体材料与本体分裂，具体如图片所示
失效磁珠的正面（接近PC板的面）
[img]https://www.kekaoxing.com/blog/attachment/201205/15/79676_1337050389AAqq.jpg[/img]
失效磁珠的另一个正面（与胶接触的面）
[img]https://www.kekaoxing.com/blog/attachment/201205/15/79676_1337050390AGBm.jpg[/img]
失效磁珠的正面照片（接近PC板的正面)
[img]https://www.kekaoxing.com/blog/attachment/201205/15/79676_1337050392g597.jpg[/img]
失效磁珠的侧面照片
[img]https://www.kekaoxing.com/blog/attachment/201205/15/79676_1337050392g597.jpg[/img]
失效磁珠的顶面照片
[img]https://www.kekaoxing.com/blog/attachment/201205/15/79676_1337050397K7wr.jpg[/img]
请大家帮忙看一下，磁珠失效的原因。
厉害，不错，学习了！
请问显微镜的放大倍数需要多大？
[quote]磁珠的主要失效机理是机械应力和热应力
你的这个估计是电流过大后温度过高造成，个人意见
kevin_whb发表于2012-5-1513:16[url=pid=103407&ptid=12406][/url][/quote]
嗯，谢谢了。这个磁珠就是CPU控制电压模块输出的1.2V的磁珠，经过磁珠的的是一个矩形波，我再去测试下温升，看一下情况。
磁珠的主要失效机理是机械应力和热应力
你的这个估计是电流过大后温度过高造成，个人意见