请教一下，GJB299或者MIL-217f预计得到的失效率包含了早夭期的失效率没有啊？？ 可靠性技术 新手提问 12年6月5日 编辑 lichangzheng 取消关注 关注 私信 各位高手，帮忙解答一下疑问啊，根据GJB299或者MIL-217f预计得到的失效率包含了早夭期失效率没有啊？？急求解惑啊？？要是没有包含的话，那又为什么直接可以是预计偶然期间呢？？ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
adminM可靠性网管理员 黄金会员lv6lv6 12年10月31日 [quote]scf0078发表于2012-10-3112:55[url=pid=113890&ptid=12522][/url] 我们用SR332的标准。有人关注SR332吗？[/quote] SR332很常用啊，论坛讨论的，标准都很全。
[quote]scf0078发表于2012-10-3112:55[url=pid=113890&ptid=12522][/url]
我们用SR332的标准。有人关注SR332吗？[/quote]
SR332很常用啊，论坛讨论的，标准都很全。
我们用SR332的标准。有人关注SR332吗？
可以参考217Plus
要计算这个早夭期应该很复杂吧，这个不光给设计缺陷，器件选择有关；还和生产工艺，不同彼此的器件来料等有关，所以觉得早夭期是没办法建立模型的。
:victory:
国家对这个失效率的更新还不是很快的。
这个失效率国外更新的快点!
同意admin.不包括早夭期失效.这两个的理论依据都是指数分布.好像还是不计算辐射失效的.
没有早夭期失效率
貌似看不出什么有用的东西
不懂，关注中！