故障树顶事件的不可用度计算

最近在看故障树,对顶事件的不可用度的计算弄不清楚。
如果是直接与底事件相联的逻辑门,若是与门,不可用度就为底事件的不可用度相乘,或门,则是相加

可按这个方法计算顶事件的不可用度,总觉得不对,
同事说顶事件的不可用度是跟它最小割集的不可用度有关的,但是没告诉我公式

各位大虾,可否有书中讲到这些内容的?请指点一二

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可靠性技术可靠性试验

有关burn in

2012-7-26 11:51:36

可靠性技术可靠性试验

求助 有哪些公司可以做产品带电加速寿命试验?

2012-7-27 16:21:43

4 条回复 A文章作者 M管理员
  1. irix2008

    4年了还没看明白,不知道你看的啥书

  2. xlfeng

    目前还不能回答你,一旦我知道了,第一时间告诉你。当然这是4年前的帖子,你现在肯定知道答案了,不妨告诉大家!

  3. blue_berry

    为什么没人回我呢:'(

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