通信模块宽带冲击的筛选方法 可靠性技术 可靠性设计 12年12月7日 编辑 xiaoxie 取消关注 关注 私信 最近模块失效率高，初步怀疑是MOSFET的失效引起，后选定一种宽带冲击和温度冲击方法能够筛选出一部分故障，但是此方法属于破坏性，不知道那种鉴定或验收试验能否相似可以借鉴，谢谢 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
wenfeng3652 lv5lv5 12年12月10日 类似这种失效不建议用筛选的方法，用温度冲击能够发现部分故障，说明产品本身却是存在薄弱点，需要改善降低失效率，筛选的目的是剔除早期失效，而不是像IQA那样做sorting的工作
赞同3楼的想法
对啊，怀疑是MOSFET引起的，就应该想方法去证明，然后通过改变设计的方法（如使用更高规格的MOSFET)，来降低失效，而不是亡羊补牢！
类似这种失效不建议用筛选的方法，用温度冲击能够发现部分故障，说明产品本身却是存在薄弱点，需要改善降低失效率，筛选的目的是剔除早期失效，而不是像IQA那样做sorting的工作