[i=s]本帖最后由zhouyuanhua于2013-2-317:33编辑[/i]
第20届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议（IPFA2013）将于2013年7月15日-19日在苏州举行，会议由IEEE南京分会主办，IEEEReliability/CPMT/ED新加坡分会、苏州市电子学会协办、由IEEE电子器件协会与IEEE可靠性协会提供技术支持。
IPFA国际会议论文集是国际检索机构EI（工程引文检索）的源刊，论文全文被EI收录，EI的分类编号为002346，同时被IEEEXplore数字图书馆收录，并且论文全文都将以统一书号被收入IEEE会议论文集，并在IEEE网站上刊登电子版，最佳论文将在ESREF和ISTFA上交换发表。
IPFA是在中国举办的有关集成电路与器件方面规模最大、影响最大的国际会议。会议将邀请中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国专家作大会报告和分会邀请报告。这次会议将是国内外微电子领域的研究人员之间交流信息和了解国际、国内最新进展的一次很好的机会。会议将为期五天，包括两天的技术交流与培训讲座、三天的论文发表与研讨，同时并行三天的设备展览。
我谨代表IPFA新加坡董事会、IEEE南京分会和IPFA2013组委会正式向您发出论文投稿邀请。欢迎参与IPFA并与大量国内外同行一起探讨。也欢迎您向身边的同事、朋友、学生或其他对IPFA2013感兴趣的朋友宣传IPFA2013并转发“CallforPapers”，我们对此表示衷心的感谢!
重要日期提醒：
[color=Red][size=6][font=黑体]2013年2月28日论文摘要投稿日期
2013年4月8日论文录取通知开始日期
2013年6月10日论文全文提交截止日期
期待您的参与！感谢您对IPFA2013组委会的支持和帮助！
IPFA2013组委会
详情咨询:
•IPFA2013秘书处和筹委会:
李莹小姐
电话：+86-512-67870201
手机：+8613390849832
邮箱:[email]ipfa@hhcore.com[/email]
•IPFA新加坡秘书处:[email]ieee_ipfa@singnet.com.sg[/email]
