高低温工作与高低温存储有什么区别? 可靠性技术 新手提问 07年9月3日 编辑 mycandyy 取消关注 关注 私信 请教各位大侠,电子产品高低温工作与高低温存储有什么区别?分别考察产品的那些方面?为什么要做这些试验? 我是新手,请大家指教,谢谢! 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
morrison lv4lv4 07年9月5日 產品交到顧客手頭後,會經歷儲存運輸與操作使用的生命週期輪廓,當然遭受到高低溫各種溫度狀況,其中儲存運輸階段遭受的溫度稱為儲存溫度,又分儲存高溫與儲存低溫,操作使用階段遭受的溫度稱為工作高溫與工作低溫。要證明產品有沒有耐溫度的能力,就要做溫度試驗,一般是先儲存高溫(試件不加電),再做工作高溫(試件加電)功測。低溫試驗也是一樣,先儲存低溫後工作低溫功測。 詳細測試方法可參考MIL-STD-810,MIL-STD-883,MIL-STD-750,MIL-STD-202,IEC-60068等標準。
reliability lv6lv6 07年9月3日 [quote]原帖由[i]mycandyy[/i]于2007-9-309:36发表[url=pid=8079&ptid=1408][/url] 请教各位大侠,电子产品高低温工作与高低温存储有什么区别?分别考察产品的那些方面?为什么要做这些试验? 我是新手,请大家指教,谢谢![/quote] 不同试验,主要是看环境对产品影响上来考虑的: [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/238.html][color=#666666]1)低温对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/239.html][color=#333333]2)高温对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/240.html][color=#333333]3)温度变化对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/241.html][color=#333333]4)湿热对产品的影响[/url] [url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/242.html][color=#333333]5)振动试验对产品的影响[/url] 更多查看:[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/index.html]http://www.kekaoxing.com/test/env/index.html[/url] [quote]原帖由[i]mycandyy[/i]于2007-9-309:38发表 请教各位,电子通信产品在设计样机阶段,要经过哪些必需的环境试验或可靠性试验?[/quote] [url=tid=1112&page=1&fromuid=5#pid5427]tid=1112&page=1&fromuid=5#pid5427[/url]可以参考一下这里,不过当时没拷全。 在不同阶段会侧重于做不同试验,当然设计阶段现在常会做比较火热的HALT试验。 [url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1183-1-1.html]可靠性基础资料里面介绍:[/url] [font=宋体][size=10.5pt][quote] [font=宋体][size=10.5pt]同一种产品,在不同的阶段,测试条件也不一样;一般而言,产品会经过研发、小批量试产、批量生产三个不同的阶段。在研发阶段,测试条件最严(应力最大)、测试延续的时候最短;小批量试产阶段,测试应力适中、测试时间适中;批量生产阶段,测试应力最小、测试时间较短;三个阶段的主要差别见下表:[/font] [table][tr][td=1,1,61] [/font][align=center]阶段[/align] [/td][td=1,1,229][align=center]实验目的[/align] [/td][td=1,1,169][align=center]实验特点[/align] [/td][td=1,1,163][align=center]实验要求[/align] [/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]研发[/align] [/td][td=1,1,229][align=center]发现设计缺陷,扩大设计余量[/align] [/td][td=1,1,169][align=center]高应力、短时间[/align] [/td][td=1,1,163][align=center]无故障[/align] [/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]中试[/align] [/td][td=1,1,229][align=center]考察产品是否达到基本的可靠性水平[/align] [/td][td=1,1,169][align=center]中应力、中长时间[/align] [/td][td=1,1,163][align=center]无明显故障[/align] [/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]批量生产[/align] [/td][td=1,1,229][align=center]生产工艺条件的稳定性[/align] [/td][td=1,1,169][align=center]低应力、短时间[/align] [/td][td=1,1,163][align=center]有条件的允许故障发生[/align] [/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]鉴定[/align] [/td][td=1,1,229][align=center]鉴定产品的可靠性、计算产品的MTBF[/align] [/td][td=1,1,169][align=center]低应力、长时间[/align] [/td][td=1,1,163][align=center]无特别要求[/align][font=宋体][size=10.5pt] [/td][/tr][/table] [/quote][/font] [[i]本帖最后由cliffcrag于2007-9-309:50编辑[/i]]
低温存储除了某些锡材料和高分子材料,有必要做么?
又不上电。
高低温工作是考验产品在特定温度下的性能
高低温储存是考验产品在特定的温度下存放一段时间后,重新拿出来使用的性能.
学习下
高温工作主要是最大限度的模拟设备工作环境的影响
產品交到顧客手頭後,會經歷儲存運輸與操作使用的生命週期輪廓,當然遭受到高低溫各種溫度狀況,其中儲存運輸階段遭受的溫度稱為儲存溫度,又分儲存高溫與儲存低溫,操作使用階段遭受的溫度稱為工作高溫與工作低溫。要證明產品有沒有耐溫度的能力,就要做溫度試驗,一般是先儲存高溫(試件不加電),再做工作高溫(試件加電)功測。低溫試驗也是一樣,先儲存低溫後工作低溫功測。
詳細測試方法可參考MIL-STD-810,MIL-STD-883,MIL-STD-750,MIL-STD-202,IEC-60068等標準。
[quote]原帖由[i]mycandyy[/i]于2007-9-309:36发表[url=pid=8079&ptid=1408][/url]
请教各位大侠,电子产品高低温工作与高低温存储有什么区别?分别考察产品的那些方面?为什么要做这些试验?
我是新手,请大家指教,谢谢![/quote]
不同试验,主要是看环境对产品影响上来考虑的:
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/238.html][color=#666666]1)低温对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/239.html][color=#333333]2)高温对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/240.html][color=#333333]3)温度变化对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/241.html][color=#333333]4)湿热对产品的影响[/url]
[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/200612/242.html][color=#333333]5)振动试验对产品的影响[/url]
更多查看:[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/index.html]http://www.kekaoxing.com/test/env/index.html[/url]
[quote]原帖由[i]mycandyy[/i]于2007-9-309:38发表
请教各位,电子通信产品在设计样机阶段,要经过哪些必需的环境试验或可靠性试验?[/quote]
[url=tid=1112&page=1&fromuid=5#pid5427]tid=1112&page=1&fromuid=5#pid5427[/url]可以参考一下这里,不过当时没拷全。
在不同阶段会侧重于做不同试验,当然设计阶段现在常会做比较火热的HALT试验。
[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-1183-1-1.html]可靠性基础资料里面介绍:[/url]
[font=宋体][size=10.5pt][quote]
[font=宋体][size=10.5pt]同一种产品,在不同的阶段,测试条件也不一样;一般而言,产品会经过研发、小批量试产、批量生产三个不同的阶段。在研发阶段,测试条件最严(应力最大)、测试延续的时候最短;小批量试产阶段,测试应力适中、测试时间适中;批量生产阶段,测试应力最小、测试时间较短;三个阶段的主要差别见下表:[/font]
[table][tr][td=1,1,61]
[/font][align=center]阶段[/align]
[/td][td=1,1,229][align=center]实验目的[/align]
[/td][td=1,1,169][align=center]实验特点[/align]
[/td][td=1,1,163][align=center]实验要求[/align]
[/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]研发[/align]
[/td][td=1,1,229][align=center]发现设计缺陷,扩大设计余量[/align]
[/td][td=1,1,169][align=center]高应力、短时间[/align]
[/td][td=1,1,163][align=center]无故障[/align]
[/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]中试[/align]
[/td][td=1,1,229][align=center]考察产品是否达到基本的可靠性水平[/align]
[/td][td=1,1,169][align=center]中应力、中长时间[/align]
[/td][td=1,1,163][align=center]无明显故障[/align]
[/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]批量生产[/align]
[/td][td=1,1,229][align=center]生产工艺条件的稳定性[/align]
[/td][td=1,1,169][align=center]低应力、短时间[/align]
[/td][td=1,1,163][align=center]有条件的允许故障发生[/align]
[/td][/tr][tr][td=1,1,61][align=center]鉴定[/align]
[/td][td=1,1,229][align=center]鉴定产品的可靠性、计算产品的MTBF[/align]
[/td][td=1,1,169][align=center]低应力、长时间[/align]
[/td][td=1,1,163][align=center]无特别要求[/align][font=宋体][size=10.5pt]
[/td][/tr][/table]
[/quote][/font]
[[i]本帖最后由cliffcrag于2007-9-309:50编辑[/i]]
请教各位,电子通信产品在设计样机阶段,要经过哪些必需的环境试验或可靠性试验?