宜特:高加速寿命试验HALT研讨会,火热报名中！

这一场很不错哦。第一场的内容加上了HALT务实。赞一个！期待下一场继续给力。

还见到传说中的老大了。哈哈。老大，小心被我骚扰。。。。。

本月延后的研讨会，将于6月20日举办。欢迎大家报名!

什么时间来上海搞几次呀

[quote]ljp199029发表于2013-5-310:10[url=pid=128621&ptid=14230][/url]
我擦不是4月中旬才在福永搞过一次吗？现在又去[/quote]

宜特为回馈新老客户，在今年约每月都有一场免费的研讨会，6月份主题为：HALT高加速寿命试验技术，欢迎上宜特官网：

[url]http://www.isti.com.cn/schinese/2_news/02_seminars_detail.php?ID=78[/url]

报名参加哦！

我擦不是4月中旬才在福永搞过一次吗？现在又去

[quote]admin发表于2013-4-2708:57[url=pid=128170&ptid=14230][/url]
今年宜特在深圳举办的比较多。当然上海啊，成都啊也有。[/quote]

嗯，呵呵，还没有参加过，很想参加啊！

[quote]zhuanzhe8发表于2013-4-2616:21[url=pid=128112&ptid=14230][/url]
哎，这些活动一般都在深圳啊！！[/quote]

今年宜特在深圳举办的比较多。当然上海啊，成都啊也有。

哎，这些活动一般都在深圳啊！！

[url=http://www.kekaoxing.com/meeting/seminar/201304/iST-HALT-SZ522.html][img=540,139]http://www.kekaoxing.com/kkx/upimg/userup/56312/130424064I7-A49-0.jpg[/img][/url]
[align=left]在微利时代,电子产品为了满足「Time-To-Market」的需要,除了产品开发周期一再被压缩外,还必须能够在最短的时间设计出可靠的产品。因此,近几年来国际大厂纷纷将思维模式转为「[color=#0066cc][b]如何在产品开发阶段，采用最快速又有效的方法来寻找产品可能潜在的缺陷![/b]」

1979年,美国休斯飞机公司首度导入加速应力手法(ESS)，使航空通讯电子系统在生命周期的失效率大幅下降。1996年,美国环境科学技术学会(IEST)提出HALT介绍,强调”HALTforProductQuick-To-Market”,继此之后,国际上无论军方、工业与信息电子等产业均于产品雏型阶段，即导入HALT来缩短产品之研发验证周期，同时也采用HASA手法来控制量产质量,并降低产品于市场的失效率。
[/align]然而，企业界对于HALT/HASA试验精神一知半解，也时常对「[color=#0066cc][b]如何决定产品必须承受的应力水平[/b]」感到困扰，甚至仍停留在「TestingforPASS」，而忽略试验真谛是在「TestingtoFAILURE」。

因此,本课程将以深入浅出方式带领学员了解以下内容:

[table=540]
[tr][td=84]时间[/td][td][align=center]內容[/align][/td][/tr]
[tr][td][align=center]13:00-13:30[/align][/td][td][align=center]报到[/align][/td][/tr]
[tr][td=84][align=center]13:30-15:00[/align][/td][td][align=left]1.高加速寿命测试(HALT)的源起
2.如何正确执行高加速[url=http://www.kekaoxing.com/test/life_screen/][u][color=#0000ff]寿命试验[/u][/url]
3.高[url=http://www.kekaoxing.com/test/ALT/][u][color=#0000ff]加速试验[/u][/url]下产品强度水平的取舍[/align][/td][/tr]
[tr][td][align=center]15:00-15:20[/align][/td][td][align=center]茶歇[/align][/td][/tr]
[tr][td][align=center]15:20-17:00[/align][/td][td][align=left]1.高加速应力稽核(HASA)在量产质量管理上的观念与应用
2.高加速应力(HASA)结果与[url=http://www.kekaoxing.com/test/env/][u][color=#0000ff]环境试验[/u][/url]之转换与应用
3.如何以侦错手法解决失效问题[/align][/td][/tr]
[tr][td=84][align=center]17:00-17:30[/align][/td][td][align=center]Q&A[/align][/td][/tr]
[/table]

讲师简介
崔革文先生，目前担任iST宜特科技，工程总处副总经理一职。过去服务于台湾工业技术研究院长达18年，服务期间从事领域包括IC封装技术，电磁兼容修改技术，IC元器件/PC板、模块与终端产品可靠性设计验证与环境模拟试验技术。2003年加入iST工程团队后，更致力于IC、PCB/PCBA与模块等故障分析技术研究，为少数横跨电子产业供应链之可靠性与故障分析工程专业人员。

近三年来应两岸厂家邀请赴厂训练，包括台达电、华硕、智邦、光宝、研华、广达、鸿海、联正科技、联想上海、昆山台协会、Flextronics、PhilipsLighting、IPCChina、ISTAChina等。

详细介绍，[url=http://www.kekaoxing.com/meeting/seminar/201304/iST-HALT-SZ522.html]请点击》》》》[/url]