用户使用中出现的问题如何提前发现

疑惑:

产品的电子控制器在未出厂前经历了一系列的电性能、环境、EMC、安全的试验,甚至还有产品整机的可靠性试验。

可是到用户使用一段时间后,还是出问题了。

我们一直在考虑怎样能将用户使用过程中出现的问题提前在厂内发现?HALT是种有效的手段吗?

请各位大侠讨论、指导。谢谢。

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可靠性技术可靠性试验

电子元器件和电子设备的ESD试验方法比较

2013-8-29 14:58:18

可靠性技术可靠性设计

求教高手 可靠性MTBF计算

2013-8-30 11:07:52

14 条回复 A文章作者 M管理员
  1. paaover

    出问题很正常,产品做完了可靠性试验,在推到市场时也分前期失效,中期失效,消耗失效,浴盆曲线就是这样的呀。

  2. 吴志

    1、正如2楼说的,HALT主要是用来暴露设计中存在的问题,而楼主疑惑的是怎么提前暴露用户使用过程中会出现的问题,用HALT估计没什么效果,建议你应该充分研究“用户的使用环境”,建立用户使用环境分析库,根据使用环境分析再做DOE试验设计,个人觉得这样更能暴露用户使用时出现的失效。

  3. Jack315

    关键是VOC-VoiceOfCustomer。了解客户的需求,才能制定出符合实际的规范(当然各种行业标准也是VOC的一种)。对于可靠性的规范,需要了解客户的实际使用环境及其应力水平,这样才能制定出合理的规范要求。

    有了合理的规范要求,才能通过测试确定产品的质量水平。否则产品的能力(质量水平)和要求是脱节的,这样就会有试验结果优良而客户使用一段时间后就出问题的尴尬局面。

  4. aomareliability

    可靠性模型一般有两个,一个是从统计出发,一个是从应力-强度出发
    测试:目的验证是否存在缺陷,但不能得出没有缺陷的结论
    试验:目的是否具有某种能力,但也不能得出没有缺陷的结论
    这是测试与试验给定的应力是已知的(试验条件是已定的),测试数量是有限的,不能涵盖实际使用的情况。
    那么如何保证实际使用中不出现的问题呢?
    有人考虑使用试验和测试的方法提前发现问题,再进行改进。但由于试验和测试的方法限制,不能完全满足产品保障的要求,所以你提出的问题是个无解的答案。
    那么如何进一步提高产品的可靠性呢?根据上个问题,我们知道假设发现了问题,就能改进。现在的问题是我们未能发现问题,或者为了发现问题投入成本十分高昂。那么我们换个思路是否能直接从改进入手呢?唉,这个感觉可行!既然是改进,那么就是让我们设计变的更可靠,把可靠性的工作导入设计工作中,这个就是可靠性设计。
    可靠性设计和可靠性试验是相符想成的,如果一个方式解决不了问题就换一种方法,效果会更好。但话又说回来了,如果可靠性设计和可靠性设计的任意一种方法都能把所有的问题都解决了,另一种方法存在性就大大打了折扣。
    不要纠结一个思路,换个方式会更好!

  5. hzwanglei

    学习~\(≧▽≦)/~啦啦啦

  6. liangyuan1987

    是否可以考虑DPA(破坏性物理分析)
    DPA是一种为验证电子元器件的设计、结构、材料、制造的质量和工艺情况是否满足预订用途或有关规范的要求,以及是否满足元器件规定的可靠性和保障性的试验,我觉得可以在产品出厂前抽样进行DPA.
    欢迎讨论!

  7. hehui418

    [quote]gykhl发表于2013-8-3012:44[url=pid=135618&ptid=14762][/url]
    没有HALT的数据,HASS也没办法开展啊还是要在研发段先做HALT,取得数据之后,量产段才能做HASS,[/quote]

    这个就要你们研究决定HASS试验的最终量级,没有现成的东西。

  8. hehui418

    [quote]wangxujun发表于2013-8-3013:30[url=pid=135623&ptid=14762][/url]
    有一点是:产品在HALT中发现的问题①与市场问题对应度不高?②通过高应力加速,也不能完全消除市场故障。[/quote]

    请参照6楼的回复

  9. wangxujun

    1、所有的实验室试验都是解决一定问题的,没有包打天下的方法;
    2、模拟试验本身条件模拟是否科学也决定了试验效果的好坏;
    3、不做试验结果会更差,产品的质量只能逐步提高,不可能100%不出问题。

  10. 3652351

    你的测试方法有没有依据市场来验证,比如说客房的环境和操作手法有没有考察?会不会比你的测试环境还要严酷.
    第二点,市场出现问题是由于来料或工艺造成也不一定,需要你分析.

  11. wangxujun

    [quote]hehui418发表于2013-8-3007:59[url=pid=135608&ptid=14762][/url]
    可以采用高加速筛选(HASS)来将早期失效的产品筛选出来,这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问…[/quote]

    有一点是:产品在HALT中发现的问题①与市场问题对应度不高?②通过高应力加速,也不能完全消除市场故障。

  12. gykhl

    [quote]hehui418发表于2013-8-3007:59[url=pid=135608&ptid=14762][/url]
    可以采用高加速筛选(HASS)来将早期失效的产品筛选出来,这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问…[/quote]

    没有HALT的数据,HASS也没办法开展啊还是要在研发段先做HALT,取得数据之后,量产段才能做HASS,

  13. hehui418

    可以采用高加速筛选(HASS)来将早期失效的产品筛选出来,这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问题。高加速寿试验(HALT)主要是用来暴露设计中存在的问题,为设计改进产品设计提供依据,并最终提高产品可靠性。

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