在阅读JEDEC标准时，遇到thermal runaway一词，该怎么理解？ 可靠性技术 新手提问 13年9月3日 编辑 keegan 取消关注 关注 私信 我在阅读JEDEC标准时，遇到thermalrunaway这个效应；在此之前，在做IGBT器件的可靠性分析时候也遇到了这个thermarunaway效应。但一直不知道该怎么理解。 还请有了解这一现象的不吝赐教，不胜感激。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
keeganA lv2lv2 13年9月5日 [quote]liangyuan1987发表于2013-9-321:36[url=pid=135735&ptid=14772][/url] 可简单理解为：当温度增高时引发的变化使温度更进一步的增高，产生恶性循环，因而导致某一种破坏性的结果，…[/quote] 嗯，谢谢你。你说得也不无道理。
liangyuan1987 lv1lv1 13年9月3日 可简单理解为：当温度增高时引发的变化使温度更进一步的增高，产生恶性循环，因而导致某一种破坏性的结果，是一种正反馈。这种现象在双极型晶体管和功率mosfet中有遇到～
[quote]liangyuan1987发表于2013-9-321:36[url=pid=135735&ptid=14772][/url]
可简单理解为：当温度增高时引发的变化使温度更进一步的增高，产生恶性循环，因而导致某一种破坏性的结果，…[/quote]
嗯，谢谢你。你说得也不无道理。
可简单理解为：当温度增高时引发的变化使温度更进一步的增高，产生恶性循环，因而导致某一种破坏性的结果，是一种正反馈。这种现象在双极型晶体管和功率mosfet中有遇到～
热失控