C-SAM扫描异常,大家给分析下什么原因造成的?

[i=s]本帖最后由keegan于2013-10-1514:25编辑[/i]

近期扫描时遇到一批异常料(molding后扫),透射扫描时每颗芯片都有黑斑,位置相同。重新扫描了另外的几条也看到相似的现象。如图1.
将图1中一颗芯片进行透射(图2),并扫描切面(图3)。大家给分析一下,是什么原因导致的?
大家分析一下异常是发生在哪一层呢?

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2013-10-13 23:20:15

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2013-10-15 10:10:27

8 条回复 A文章作者 M管理员
  1. keegan

    [quote]victor-he发表于2013-10-1513:12[url=pid=136849&ptid=14881][/url]
    你们是银浆制程吧?[/quote]

    刷胶?是不是一般都称胶为银浆?

  2. victor-he

    [quote]keegan发表于2013-10-1510:49[url=pid=136842&ptid=14881][/url]
    能不能说得更清楚一些呢?[/quote]

    你们是银浆制程吧?

  3. Jack315

    [quote]keegan发表于2013-10-1510:50[url=pid=136843&ptid=14881][/url]
    我们是封装测试企业,发生问题的工序应该是在我们这里。主要是现在我不知道是哪里出了问题,请指教。[/quote]

    建议LZ如下操作:
    1找各工序技术人员讨论:a)那批料生产过程中是否有异常情况发生;b)出现问题的环节最可能在哪个/哪些工序。
    2在怀疑的工序点进行检测,以确定问题工序。
    3检查问题工序的控制,找出问题的原因,进行改善/加强管控。

  4. keegan

    [quote]Jack315发表于2013-10-1510:00[url=pid=136838&ptid=14881][/url]
    这个图像表示生产制造相关过程出现了异常。如果LZ公司是生产厂商,应检查生产制造的相关过程,找出出现异常…[/quote]

    我们是封装测试企业,发生问题的工序应该是在我们这里。主要是现在我不知道是哪里出了问题,请指教。

  5. keegan

    [quote]victor-he发表于2013-10-1510:22[url=pid=136840&ptid=14881][/url]
    是芯片attach到leadframe的问题吧。。。感觉。。[/quote]

    能不能说得更清楚一些呢?

  6. victor-he

    是芯片attach到leadframe的问题吧。。。感觉。。

  7. Jack315

    这个图像表示生产制造相关过程出现了异常。如果LZ公司是生产厂商,应检查生产制造的相关过程,找出出现异常的原因——6Sigma术语:特殊原因;如果这是供应商来料,建议要求供应商进行改善。

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