薄膜电容加速寿命试验怎么做？ 可靠性技术 新手提问 13年11月12日 编辑 patty 取消关注 关注 私信 现有一电子产品，要用另一家的薄膜电容来替换，客户要求我们在85℃，85%RH的条件下测试500小时，如果没问题，才允许我们替代，为了节省测试时间，我们想在105℃，85%RH来做，请问要做多久时间才满足要求？ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
pattyA lv3lv3 14年9月15日 [quote]qingcao00发表于2014-9-1509:34[url=pid=147298&ptid=14991][/url] 温度105，湿度怎么控制到85呢[/quote] 这有专门的设备，一般的恒温恒湿箱是达不到的
锋利的进球 lv1lv1 14年9月13日 85℃已经够高了在升级到105℃是否已经到达上限了工作温度有这么高吗？再说你的电压还没确定，电应力也是影响薄膜电容的关键因子，我们公司现在检验薄膜电容的加速试验是”试验电压1.25Un，试验温度70±2℃，连续通电1000h”“试验电压为1.35Un，试验温度为80±2℃，连续通电268h”或“试验电压为1.45Un，试验温度为85±2℃，连续通电50h”
zz_hf013 lv4lv4 14年8月19日 Ea=K*(Inλa–Inλn)/(1/Tn-1/Ta) λa為加速溫度時的失效率 λn為正常溫度時的失效率 Tn,Ta均為絕對溫度0K λa和λn可以以試驗的方式的得出,但需要較長的試驗時間.而且新機種的失效率很難在短時間內得出.
pattyA lv3lv3 14年8月8日 [quote]zz_hf013发表于2014-8-709:03[url=pid=146437&ptid=14991][/url] EA是有公式可以算出来的[/quote] 什么公式？
Xyberry lv4lv4 13年11月21日 [quote]闲情发表于2013-11-1512:19[url=pid=137879&ptid=14991][/url] 另外，看密封的环氧树脂开不开裂很关键。[/quote] 回答的很到位~~
闲情 lv4lv4 13年11月15日 [i=s]本帖最后由闲情于2013-11-1512:35编辑[/i] 薄膜电容失效一般是引脚与薄膜间的连接部位被腐蚀，造成电容开路。 这样来看Ea取0.6ev也说得通。
闲情 lv4lv4 13年11月15日 [quote]psunnyapple发表于2013-11-1408:49[url=pid=137818&ptid=14991][/url] Ea根据不同原材料取值不同，一般情况下，由于电迁移而断线、铝腐蚀、金属间化合物生长，Ea可取0.6ev，这些…[/quote] 对，失效机理是关键。
psunnyapple lv4lv4 13年11月14日 [quote]patty发表于2013-11-1316:59[url=pid=137798&ptid=14991][/url] Ea取0.6一般是电子产品的取值标准，但是我做的试验是薄膜电容啊[/quote] Ea根据不同原材料取值不同，一般情况下，由于电迁移而断线、铝腐蚀、金属间化合物生长，Ea可取0.6ev，这些情况也针适用于IC器件；而氧化物薄膜破坏，Ea取0.3ev。 可根据薄膜电容由85℃至105℃的失效机理来选取Ea值。 假如薄膜电容失效是由于氧化物薄膜破坏的话，取Ea=0.3ev，这也同你之前发帖“薄膜电容Ea值取多少”中别人的回复也比较吻合。 当然计算前提是根据你给的条件，就像是做计算题限制了条件一样；实际问题的解决方案未必如此。
yeh lv6lv6 13年11月14日 [quote]patty发表于2013-11-1308:22[url=pid=137771&ptid=14991][/url] 请问此资料从何而来啊？[/quote] JESD22-A110
pattyA lv3lv3 13年11月13日 [quote]psunnyapple发表于2013-11-1310:26[url=pid=137783&ptid=14991][/url] 常用参数值[/quote] Ea取0.6一般是电子产品的取值标准，但是我做的试验是薄膜电容啊
psunnyapple lv4lv4 13年11月13日 [quote]patty发表于2013-11-1310:04[url=pid=137781&ptid=14991][/url] Ea取0.6？这样的结论从何而来啊，有没有理论依据？[/quote] 常用参数值
pattyA lv3lv3 13年11月13日 [quote]psunnyapple发表于2013-11-1309:46[url=pid=137779&ptid=14991][/url] 根据AF=exp｛（Ea/K）*[(1/Tu)-(1/Ts)]｝ Ea取0.6 Tu=85+273=358； [/quote] Ea取0.6？这样的结论从何而来啊，有没有理论依据？
psunnyapple lv4lv4 13年11月13日 根据AF=exp｛（Ea/K）*[(1/Tu)-(1/Ts)]｝ Ea取0.6 Tu=85+273=358； Ts=105+273=375 得AF=2.8 测试时间=500/AF≈179hr
adminM可靠性网管理员 lv6lv6 13年11月13日 [quote]patty发表于2013-11-1308:21[url=pid=137770&ptid=14991][/url] 这是薄膜电容啊，不是电解电容啊 薄膜电容能这样计算吗？[/quote] 哦。sorry,没仔细看。
pattyA lv3lv3 13年11月13日 [quote]yeh发表于2013-11-1307:46[url=pid=137769&ptid=14991][/url] DoHASTtest 130C85%RH33.3psia96Hrs=85C85%RH1000Hrs [/quote] 请问此资料从何而来啊？
pattyA lv3lv3 13年11月13日 [quote]admin发表于2013-11-1216:28[url=pid=137747&ptid=14991][/url] 论坛内有电容寿命计算公式。可以换算一下，进行等效。 或者简单一点，有十度法则进行（电容寿命公式中重…[/quote] 这是薄膜电容啊，不是电解电容啊 薄膜电容能这样计算吗？
yeh lv6lv6 13年11月13日 DoHASTtest 130C85%RH33.3psia96Hrs=85C85%RH1000Hrs 110C85%RH17.7psia264Hrs=85C85%RH1000Hrs
adminM可靠性网管理员 lv6lv6 13年11月12日 论坛内有电容寿命计算公式。可以换算一下，进行等效。 或者简单一点，有十度法则进行（电容寿命公式中重要的一部分）。直接算出95度是250小时，105度是125小时。
[quote]qingcao00发表于2014-9-1509:34[url=pid=147298&ptid=14991][/url]
温度105，湿度怎么控制到85呢[/quote]
这有专门的设备，一般的恒温恒湿箱是达不到的
:L温度105，湿度怎么控制到85呢
85℃已经够高了在升级到105℃是否已经到达上限了工作温度有这么高吗？再说你的电压还没确定，电应力也是影响薄膜电容的关键因子，我们公司现在检验薄膜电容的加速试验是”试验电压1.25Un，试验温度70±2℃，连续通电1000h”“试验电压为1.35Un，试验温度为80±2℃，连续通电268h”或“试验电压为1.45Un，试验温度为85±2℃，连续通电50h”
Ea=K*(Inλa–Inλn)/(1/Tn-1/Ta)
λa為加速溫度時的失效率
λn為正常溫度時的失效率
Tn,Ta均為絕對溫度0K
λa和λn可以以試驗的方式的得出,但需要較長的試驗時間.而且新機種的失效率很難在短時間內得出.
[quote]zz_hf013发表于2014-8-709:03[url=pid=146437&ptid=14991][/url]
EA是有公式可以算出来的[/quote]
什么公式？
EA是有公式可以算出来的
[quote]闲情发表于2013-11-1512:19[url=pid=137879&ptid=14991][/url]
另外，看密封的环氧树脂开不开裂很关键。[/quote]
回答的很到位~~
3楼大大的公式应该是引用JEDECJESDA-110标准的:)
另外，看密封的环氧树脂开不开裂很关键。
[i=s]本帖最后由闲情于2013-11-1512:35编辑[/i]
薄膜电容失效一般是引脚与薄膜间的连接部位被腐蚀，造成电容开路。
这样来看Ea取0.6ev也说得通。
[quote]psunnyapple发表于2013-11-1408:49[url=pid=137818&ptid=14991][/url]
Ea根据不同原材料取值不同，一般情况下，由于电迁移而断线、铝腐蚀、金属间化合物生长，Ea可取0.6ev，这些…[/quote]
对，失效机理是关键。
好专业的说！
[quote]patty发表于2013-11-1316:59[url=pid=137798&ptid=14991][/url]
Ea取0.6一般是电子产品的取值标准，但是我做的试验是薄膜电容啊[/quote]
Ea根据不同原材料取值不同，一般情况下，由于电迁移而断线、铝腐蚀、金属间化合物生长，Ea可取0.6ev，这些情况也针适用于IC器件；而氧化物薄膜破坏，Ea取0.3ev。
可根据薄膜电容由85℃至105℃的失效机理来选取Ea值。
假如薄膜电容失效是由于氧化物薄膜破坏的话，取Ea=0.3ev，这也同你之前发帖“薄膜电容Ea值取多少”中别人的回复也比较吻合。
当然计算前提是根据你给的条件，就像是做计算题限制了条件一样；实际问题的解决方案未必如此。
[quote]patty发表于2013-11-1308:22[url=pid=137771&ptid=14991][/url]
请问此资料从何而来啊？[/quote]
JESD22-A110
[quote]psunnyapple发表于2013-11-1310:26[url=pid=137783&ptid=14991][/url]
常用参数值[/quote]
Ea取0.6一般是电子产品的取值标准，但是我做的试验是薄膜电容啊
[quote]patty发表于2013-11-1310:04[url=pid=137781&ptid=14991][/url]
Ea取0.6？这样的结论从何而来啊，有没有理论依据？[/quote]
常用参数值
[quote]psunnyapple发表于2013-11-1309:46[url=pid=137779&ptid=14991][/url]
根据AF=exp｛（Ea/K）*[(1/Tu)-(1/Ts)]｝
Ea取0.6
Tu=85+273=358；
[/quote]
Ea取0.6？这样的结论从何而来啊，有没有理论依据？
从实际使用情况对比计算，理论计算和实际是在是对不上，真的，是不是行业的关系？你们有没有和市场数据结合对比过？
根据AF=exp｛（Ea/K）*[(1/Tu)-(1/Ts)]｝
Ea取0.6
Tu=85+273=358；
Ts=105+273=375
得AF=2.8
测试时间=500/AF≈179hr
[quote]patty发表于2013-11-1308:21[url=pid=137770&ptid=14991][/url]
这是薄膜电容啊，不是电解电容啊
薄膜电容能这样计算吗？[/quote]
哦。sorry,没仔细看。
[quote]yeh发表于2013-11-1307:46[url=pid=137769&ptid=14991][/url]
DoHASTtest
130C85%RH33.3psia96Hrs=85C85%RH1000Hrs
[/quote]
请问此资料从何而来啊？
[quote]admin发表于2013-11-1216:28[url=pid=137747&ptid=14991][/url]
论坛内有电容寿命计算公式。可以换算一下，进行等效。
或者简单一点，有十度法则进行（电容寿命公式中重…[/quote]
这是薄膜电容啊，不是电解电容啊
薄膜电容能这样计算吗？
DoHASTtest
130C85%RH33.3psia96Hrs=85C85%RH1000Hrs
110C85%RH17.7psia264Hrs=85C85%RH1000Hrs
论坛内有电容寿命计算公式。可以换算一下，进行等效。
或者简单一点，有十度法则进行（电容寿命公式中重要的一部分）。直接算出95度是250小时，105度是125小时。