各位大侠
目前我公司进行了AEC-Q100实验，分别经过了PC/TC/HTSL/Un-Hast等实验，实验完成后产品稳定度指标从原来的0.2ppm漂移到了2~3ppm现在没办法证明经过PC/TC/HTSL/Un-Hast这些实验后等效的常温工作时间，晶体类产品本身带有老化漂移这个指标，20年控制在4.6ppm范围内，这种情况应该如何准确的给这次实验下结论呢。还是说AEC这个实验条件只是对存储环境等极限进行验证，不过就是不过，不应该考虑指标的漂移？
晶体类产品做完AEC-Q100实验后的判断标准
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[i=s]本帖最后由sunjj于2013-11-2811:28编辑[/i]
个人认为：
PC/TC/HTSL/Un-Hast只进行电参数测试，在指标内则OK。
参数漂移只是HTOL试验后的一项判据。
另，Q100是针对IC的，晶体（晶振）个人感觉应该遵循AEC-Q200《STRESSTESTQUALIFICATIONFORPASSIVECOMPONENTS》