[i=s]本帖最后由iwanto于2013-12-1910:15编辑[/i]
1、引子
目前我正在为一家欧洲公司的一台精密汽车仪器国产化进行为期一个月的可靠性试验,为此我首先从国标入手,仔细研究了GB5080.7、GB5080.1、GJB899A(太长了没看完)。出于保密协议,说到客户产品,我只点到皮毛,不过应该不多。这帖子的主要目的是学习最新的IEC61124-2012标准,说来惭愧,这份标准也是我昨天刚刚从可靠性论坛里下载到的,为了感谢论坛解决了我一直寻不到最新国际标准的困惑,我决定开贴来记录一下我对这份标准的学习和理解,同时对比并评论与GB5080的区别,并且记录一些专业的名词和术语用于以后的二次学习。
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[color=Green]本帖46楼开始,我又转向IEC60300-3-5:2001,对应的是GB5080.1-2012。本来应该先温故一下刚刚看完的61124,但无意间的搜索发现5080.1已经有了新版,为了这家公司的英文报告,我想应该先把60300-3-5中新的表述、专业术语能学到手里。尤其是对于测定试验——通过数据分析来判断可靠性,应该给客户出具哪些明确的条款。
:):)
好貼,贊
学习经验是要赞的
29、60300-3-5标准的适用场合
(1)所有类型的设备和系统:电子、电气、机电、机械、气动、液压设备。
(2)设备可以是repaired或者notrepaired,和正在使用当中的。
(3)产品生命期:设计期、开发期(实验模型、子系统、雏形)、预制期、生产期、试用期。
(4)试验间的测试、现场测试、磨损发生的阶段。
28、failurerate、failureintensity、failureratio的概念
failurerate:在一小段时间内,产品失效的瞬时时间条件概率和时间间隔(趋于零)的比值,是个极限。
新版的GB5080.1-2012中如是说:设产品在时刻t处于可用状态,在时间t+&t内失效的条件概率和&t的比值,当&t趋于0时的极限。这里的条件概率我认为没有说清楚,条件是谁?我想应该是产品在t时刻是可用的,这个即为条件,在这个基础上,下一个小时间间断内失效的概率和时间小段的比值。这个解释很拗口,我用坐标轴上的图像来表述:首先把每个失效对应的时间按顺序记录下来,然后做失效时间的累积概率分布图,对图中曲线上的点取斜率及可得到failurerate.
failureintensity:在时间间隔&t中,可修复产品的平均失效数和&t(趋于0)的比值,这参数的单位应该是~个/小时;而failurerate是没有单位的。
failureratio:是失效数目对于投入总数目的比值。
27、determinationtest的定义(也可以称为estimationtest)
testusedtoestablishthevalueofacharacteristicorapropertyofanitem.
用来建立产品属性或特性值的试验
26、60300-3-5适用于如下几个方面:
(1)当合同条款中需要可靠性试验,或者可靠性技术支持和参考时;
(2)当对可靠性试验进行计划安排时;
(3)正在可靠性试验中的产品;
(4)当要对可靠性试验结果中的数据进行分析时。
对我们的这项可靠性试验而言,这四条全部适用,我主要关心的是第4条,因为我目前已经有了一定的数据,如何判断哪些数据是有用的,哪些是无用的?
标准仅覆盖利用统计方法来分析测试数据的试验过程,包括验证、测定、对比、成功/失效率评估。测定表述为determination。
多谢楼上二位鼓励。
这几天比较忙,一个是调研新能源汽车存在哪些可靠性试验,一个是一科学仪器的大项目把我也拉进去做可靠性方面的工作,对于我这种对可靠性问题还在摸索中的小虾米,只有默默接受的份。
我几经基本上把IEC61124看完,也有了些直观的认识;不过当务之急是进一步学习IEC60300-3-5,这份标准对应了GB/T5080.1-2012,这也是我准备在10多天后给这家瑞士公司出可靠性报告所需要的,尤其是对于专业术语的表述(客户需要英文报告)。所以今天开始我就又转向学习60300-3-5Applicationguide-Reliabilitytestconditionsandstatisticaltestprinciples.
开始介绍中讲到:这份标准是可靠性试验条件、统计工具、数据分析的参考指南。统计工具适用于恒定或非恒定失效强度和失效速率、成功率、失效率。
原创文章,已设为精华贴,鼓励。:victory:
督促自己学习,会有的收获。
今天在搜索最新的可靠性标准时,发现GB/T5080.1-2012已经在2013年2月份发布了,直接对应IEC60300-3-5:2001。新的标准剔除的标准名称中的设备二字,同时对统计工具和分析方法有了大篇幅的阐述。
记录一下试验报告要包括的内容:
(1)试验报告应该完整到足以为可靠性验证或测试提供可靠的依据;
(2)不论成功的信息还是失败的信息都应该搜集:产品识别、按时间顺序记录每次观测和操作、失效分析、表达统计处理结果的数值和图形、最终结论和建议采取的措施
25、alternative定时定数截尾试验例子和数学参考
今天看到了100多页,往后翻了下,才知道还有100多页是德文还是法文的,这意味着标准就要快看完了。总体感觉收获还不少,尤其是对于几个参数:风险率、鉴别比、失效率和失效速率的对比等等。感到还要仔细研究的是spreadsheet方法,我知道是用电子表格来进行数据处理的方法,但实际的例子我没有看明白。
假定每年的失效速率是0.025,Risk均为5%,鉴别比为2.求可接收的失效数和累积测试时间。
查图C.3,得知对于risk5%,D=2,预期失效数15.8。查图C.4,得知可接收的失效数=15.8+6.3=22.于是累积测试时间=15.8/0.025=632/YEAR。如果可测试1000个样品,那每个样品的测试时间为632/1000=6.32YEARS=5500h。
24、定时定数截尾试验例子(二)
假定样品数量500,失效速率900e-9/h,risk均为10%,鉴别比D=3.
根据B.7,总的累积测试时间=(1/900e-9)*3.1=3444e3h,总测试时间除以样品数量500=0.8years。
对比sequential试验,对于那些非常可靠的测试样品,截尾试验显得过长。
23、定时定数截尾试验例子(一)
假定一故障可修复的设备,预期的MTBF>1500h(已经被现场验证)。生产方可以接收被验证试验拒绝的5%的risk,使用方同样可接受5%的接收风险(即便MTBF的真值只有750h,也即鉴别比是2)。求测试的截止时间和可接收的失效数。
根据截尾B.2,在小于22个失效情况下,总的累积测试时间计算为15.71*1500=2.7year。这个测试时间对于客户来讲太长了,这种情况下需要增加测试样品数量,或者鉴别比和风险提高。如果这三种方案,客户均不可接收,那么就需要根据alternative部分进行试验设计。
22、利用spreadsheet(电子表格)来设计sequentialtest
上述Sequentialtest使用的数学理论依据是AbrahamWald等人的工作,维基百科上说Wald是研究sequentialtest方面的先驱者。姑且不论这些计算方法,我想只要会应用就可以了。
标准里用了很大篇幅来介绍使用电子表格进行统计画图的方法,也是一种数据迭代的分析方法。
我觉得这个IEC标准与国内标准的区别一点区别是会告诉你数据、曲线是怎么来的,而国内很多时候都是强行插入,让你没有一点思想准备,老以为自己是权威结果却办的让人持怀疑态度。
21、Sequentialtestplans的例子和数学参考(附件E)
假设有500个元件用来测试,元件失效可以被替换。生产方和使用方达成了如下协议:预期的失效速率为每小时9e7个,risk率10%,鉴别比3。
首先计算平均无故障失效时间,也即失效速率的倒数,结果为1.11e6小时,合126.8年。
查表得知序贯试验中A.3方案符合。
试验开始后,每得知一个失效,记录累积试验时间和平均无故障时间的比值作为x坐标,失效数为y坐标,在XY平面内绘制点,将其与接收拒绝线对比。
至于数学推导,理论依据是Wald’sSequentialProbabilityRatioTest,有关数理统计中的假设问题。
20、combinedtests
61124标准通过图表手段给出了序贯测试和组合测试的方案对比。试验的鉴别比均是1.7。这种测试方法主要参考了之前提到的俄罗斯标准,是一种综合序贯和截尾试验的设计策略。粗略看,试验过程中并不进行拒绝判断,而不像序贯试验那样边做边判断,然而确进行接收判断。因而标准说这种方法:非常可靠的产品将被很快接收,存在早期失效的产品也不会马上被拒收。
12月9日:对alternativetime/failureterminatedtestplans回顾总结分析
上周五学习了这部分,当时感觉有点乱,今早重新回顾并总结一下:
(1)这个试验设计本是属于定时定数截尾试验,只不过给设计人员较大的自由度,同时也为试验客户提供了经济适用的选择余地;
(2)一般来讲,做可靠性验证试验的用户一定要提供MTTF/MTBF的预估值,这是验证试验的前提,如果没有此值,那么也就称不上compliancetest了,比如我目前进行的这个试验就是如此,试验至今并没有发现失效,客户也提不出他们的指标是咋样的,那么通过这个试验我起码可以提供给客户一个信息:在多长的时间范围内未发现失效,并且为他们预估一个MTTF/MTBF。
(3)做可靠性验证试验的客户通常会提供:MTBF值,要求成本要低,也就是说测试时间尽量短,这对应着标准通常意味着没有失效发生;样品数量需要我们根据场地安排试验设计,通常情况下是越多越好,越多的话,分配到每个样品上的测试时间会减小,然而样品多也意味着失效的产品风险也大,但这通常不是客户最关心的,他们对自己的产品很有信心,尽管不知道这信心是从何而来?对于制造方和使用方各自的风险,实际接触下来,概念性也非很强,鉴别比也是同样原因,这些东西都需要给客户设计,最好的原则是成本尽量低的情况下风险小点,鉴别比也小一点。
(4)还有一点,如果客户对自己产品的MTBF下限有很大的信心,那么也即知道了鉴别比D,这种情况下通常可以通过alternative设计来找到risk。
(5)如果客户对提供的样品数量和测试时间没有太大要求,这时需要的参数就是risk和鉴别比D,然后通过曲线图可以找到累积的失效数量,然后根据MTBF值,就可以得出测试的时间或者数量。
我要把这部分打印出来,以后好忽悠客户,我发现一拿公式图表曲线来给客户看,都会晕乎乎的。
12月6日小结:
定时定数截尾试验方案最简单,然后是序贯试验方案,最后就是这个参数可变的试验方案。我发现这标准里给出的方案要比GB5080的方案详细且有设计依据,尤其对于这个可变参数的方案,对试验选择的回旋余地很大,给出一些就可以求出一些;MTTF/MTBF除外,这个是验证试验必须的参数。不过这些东西需要在实际工作中进行实践才为可靠。
19、参数可调的(alternative)定时定数截尾试验的图
这种试验方案要涉及到公式计算,且听我道来:
最常见的试验,已知每个样品的试验时间、样品数量、风险来得出失效数c和鉴别比D。
(1)首先计算预期失效速率*每个样品的试验时间*样品数,如果计算值小于1,那么需要重新调整样品测试时间和样品数量。前提是预期失效速率是知道的。
(2)如果上述计算值在1~5之间,通过标准给图找到对应的预期失效数c和鉴别比D、实际风险,如果找到的D和实际风险不能接收,那么就相应的对失效数增加1或减少1重新选择。如果计算值在5~500之间,同样根据图示可以得出c和D。
已知每个样品的测试时间、失效速率、样品数、鉴别比,得出风险。
(1)仍然计算失效速率*试验时间*样品数量;
(2)根据不同计算值查找对应曲线找出风险率。
已知每个样品的测试时间、风险率、鉴别比,得出样品数量。或者已知数量,得出每个样品的测试时间。也是通过查找曲线图,找出相应参数,进行简单计算即可完成。
18、定时定数截尾试验的图表
这种试验方案比较简单,两个指标供考核:截尾时间和预期失效数。如果到了截尾时间,观测的失效数小于预期的失效数,那么试验判为通过;如果试验时间还没到截尾时间,失效数已经超过预期,那么就判为拒绝接收。从图表中反映出一个点:风险越大、鉴别比越大,被判决通过的概率也越大,试验时间也越小,对于急于拿到证书的客户比较合适,但产品的可靠性考核力度就会变小。
17、序贯试验的图表(加入了一些我的思考)
根据不同的risk和鉴别比,标准给出了9种试验方案,每种试验方案又根据不同的失效数设定了拒收和接收的测试时间(拒收时间<接收时间),如果累积测试时间超过可接收的试验时间而观察到的失效数小于预期的失效数,那么试验判为通过。如果测试时间已经超过拒收时间,然而失效数并未达到预期的失效数,这时的试验应该继续进行。如果试验时间比拒收时间还短,但发现失效数已经接近于预期失效数,那么就判为拒绝接收(这句比较拗口)。 针对每种试验方案,根据标准可以预期最短的试验时间和最长的试验时间,最短的试验时间也即没有发现失效的可接收的试验时间,最长的试验时间是考察的失效数最大时对应的可接收时间。 设定的风险越小、鉴别比越小,那么需要考察的失效数也越多,意味着试验也越powerful,但这个数量怎么定出来的? 从每种试验方案的Operatingcharacteristiccurve上看出,如果实际的MTTF/MTBF比预期的MTTF/MTBF越小,那么试验通过的概率越低;反过来,越大则通过的概率越高。 从预期的累积试验时间图中可以看出:实际的MTTF/MTBF比预期的越大或越小,那么预期的试验越短。
16、Combinedtestplans
组合测试由一根拒收直线、恒定的失效数和弯曲的接收线组成。如果样品可靠性很高,那么在试验早期就可以被接收;如果样品存在很多早期失效,那么也不会马上被判为拒收。这种测试方案对于测试、分析、修补过程很有利。
[i=s]本帖最后由iwanto于2013-12-610:43编辑[/i]
15、Calendartime/failureterminatedtestplansfornon-replaceditems
强调一点:如果待测样品数量小,利用61123来考察successratio是不错的;如果数量大,可以使用定时定数截尾试验。看到这里为啥:成功率就可以用ratio,而失效率就要用rate呢?
通用的测试程序:环境条件设定、设定期望的failurerate、选择risk和鉴别比、选择calendartesttime或者样品数量、根据61123来选择成功率和可接受的失效数、执行试验。(注:这里有很多不明,似乎这个试验方案是针对成功率的,已经有了61123,为啥还要在61124里体现?)
看到标准的9.4部分公式部分,我明白了failurerate和failureratio的不同。首先还是借助Oxford词典来解释基本含义:rate—thespeedwithwhichsomethingmovesorhappens.强调的是一种速度,那么failurerate更应该说为失效速度或者失效速率。ratio—thequantitativerelationbetweentwoamountsshowingthenumberoftimesonevaluecontainsoriscontainedwithintheother.应该来讲ratio,是两个相同物理量的比值,物理量含义不同,ratio就没有意义。
记一下这个公式:p0=1-q0=1-exp(-t/m0),p0、q0分别代表失效比率和成功比率,m0是MTTF/MTBF.
这很多应该是学校掌握的,无奈学校讲的东西没有实际应用,听过记住考过也就拉倒了。
这节完了,还没不明白这Calendartest是啥意思?
[quote]iwanto发表于2013-12-516:36[url=pid=138591&ptid=15125][/url]
当时没怎么好好听,因为觉得可靠性很范,所以课件也就没有保留了。[/quote]
噢谢谢哈
14、Designofalternativetime/failureterminatedtestplans
今天开始学习这份标准的第8部分,题目如上述英文,直面的意思是可替换(?)的定数/定时截尾试验方案设计。我目前不太理解,因为似乎在GB5080里没有提到这种试验方案,且看完整阅读一遍后有无收获。
看到第二段话,我明白了80%,这种试验方案的设计是根据expectedfailurerate进行判定,而非sequential的边做边判断、也非定时定数试验方案。
再往下看,我突然明白了这alternative的含义是什么,按照中文的行文习惯,其实这一节可以并入上一节Fixedtime/failureterminatedtestplans,只不过这一节强调的是试验中的一些参数是可以相互调整的(alternative)。具体操作如下:根据供需双方设定可接收的失效率,然后选择risk、每件测试样品的测试时间、测试样品总数,根据附录C和I设计试验计划(这里不好操作,因为标准太长了,打印出来太浪费,不打印的话需要另外的一个屏幕来对照才好,我想看到后来也需还要返回这里琢磨),根据方案评估鉴别比D,然后对照预期的测试时间和失效数来操作试验。
看完这一节,虽然明白了大义,但细节处仍有不明,留待继续。
[quote]zhangjin2310023发表于2013-12-609:18[url=pid=138609&ptid=15125][/url]
神人呀。。。膜拜。。。[/quote]
过奖了,写了2天,我发现这种方式也让我有动力继续,否则记得之前我一门心思想把MIL-STD-810G看完,结果也就是看了那么几十页,后来因为夹杂了其他的琐事,就没有再继续了。
神人呀。。。膜拜。。。
建议版主增加原创板块,让这些写自己学习过程,心得体会或就某一专题深入讨论的,单独出来。谢谢!
5点钟下班,明天继续。我想等我把碰到的问题都记录下来,也把标准完整的学习一遍,应该会有不小的收获。
[quote]admin发表于2013-12-417:05[url=pid=138537&ptid=15125][/url]
楼主写的好详细。先加红支持,后面再来加分鼓励。[/quote]
多谢版主,我也是想通过这种方式来督促自己学习,另外也想结交一些朋友,探讨一些可靠性问题。要不这标准252页,看一段时间就头疼了,也忘记了。
[quote]可靠性菜鸟发表于2013-12-513:37[url=pid=138565&ptid=15125][/url]
有没有读书时的可靠性课件啊?[/quote]
当时没怎么好好听,因为觉得可靠性很范,所以课件也就没有保留了。
[quote]gykhl发表于2013-12-515:55[url=pid=138582&ptid=15125][/url]
你们做什么产品啊还会做GB5080的测试?好像很多军品才会涉及到哦鉴定试验[/quote]
产品应客户要求要保密的,5080里面有可靠性测定方面的考虑,我们目前的试验性质应该界定为测定,因为属于产品设计初期。军品一般用GJB899A或150吧?
13、Fixeddurationtestplans
对于定时定数截尾试验,累积试验时间需要一直被考虑,在下面两种情况:或者预设定的测试时间已经达到,或者预设定的失效数已经达到。
[quote]iwanto发表于2013-12-515:09[url=pid=138573&ptid=15125][/url]
我之前对标准也不感兴趣,只是实际做试验才发现GB中很多讲述很费解,所以只好求助于引用的国际标准了。共…[/quote]
你们做什么产品啊还会做GB5080的测试?好像很多军品才会涉及到哦鉴定试验
12、Sequentialtestprocedure
(1)确定环境条件、试验条件;
(2)定义m0,也即设计的目标MTTF/MTBF值;
(3)选择接收方和使用方风险、鉴别比。(这三个参数值越小,试验越powerful,但代价是时间越长)
(4)注意可接收的测试时间、可拒绝的测试时间。
标准里这条不甚理解:如果观察到的失效数小于设定截止的失效数,而累积试验时间也比设定的拒收试验时间小,那么应该判作拒收。
标准看到这里,作为序贯试验的选择方案,我对比了61124和GB5080.7,发现给定的判断参数已经有了不小的变化。
[quote]gykhl发表于2013-12-414:36[url=pid=138527&ptid=15125][/url]
标准看的很多啊向你学习![/quote]
我之前对标准也不感兴趣,只是实际做试验才发现GB中很多讲述很费解,所以只好求助于引用的国际标准了。共同学习!:handshake
11、关于失效数的界定
针对实际问题,需要考虑是否某些失效非常关键,一旦发现它们存在,试验立刻终止,尽管此时失效综述并未达到预期的失效数;反过来,如果一些失效对于试验显得无关紧要,那么就不应该认为它们是相关性的失效。
联系到目前正在进行的试验,由于发送指令的控制软件存在abnormality,试验有时会终止,我的考虑是这是否属于相关性的失效,然而客户讲到实际设备运行时发送命令的软件并不是目前这套不成熟的软件,从这方面来讲,可能这种失效属于非相关,不应该计入相关失效数;然而,由于软件造成的试验终止,也使得设备不能保持连贯性的运行,在一定程度上确实影响了试验过程,这应该怎么算呢?
10、推荐试验的样品数量
如果试验中发现失效,而且可以替换,推荐numberoftestitemsatthebeginningofthetest大于等于1;如果试验中发现失效,且并不替换,推荐numberoftestitemsatthebeginningofthetest大于等于c/r0+1。这里c是acceptablenumberoffailuresduringthetest,r0是testtruncationfailurenumberforsequentialtests(SPRT).
[quote]iwanto发表于2013-12-410:42[url=pid=138516&ptid=15125][/url]
3、试验前的小插曲
我在学校虽然名义上做可靠性课题,实际上接触的多是材料、电子、测试、工艺等综合…[/quote]
有没有读书时的可靠性课件啊?
难得一见的原创,谢谢分享整个学习的经历和体会。可靠性论坛确实是一个雪中送炭的地方,当为某个标准或资料踏破铁鞋的时候,在这里或许有意外的发现。
楼主学习的细致和严谨的精神值得学习,希望继续更新
楼主写的好详细。先加红支持,后面再来加分鼓励。
10、比GB5080增加了combined试验方案
结合序贯试验和截尾试验两种方案的优缺点,提出了组合试验方案。非常可靠的样品将被很快判定接收,而且对于那些存在早期失效的样品不会在试验初期就被拒收。不好的方面是,测试时间可能比序贯试验还长。
9、有关指数分布
标准中假设MTTF或MTBF是独立的,且遵循指数分布。这种假设意味着失效率和failureintensity是恒定的,因此二者之间没什么区别。这点我目前还不算太理解。维基百科里这么解释指数分布:Inprobabilitytheoryandstatistics,theexponentialdistribution(a.k.a.radicalexponentialdistribution)istheprobabilitydistributionthatdescribesthetimebetweeneventsinaPoissonprocess,i.e.aprocessinwhicheventsoccurcontinuouslyandindependentlyataconstantaveragerate.指数分布的概率密度函数中的参数被称为rateparameter,如果服从指数分布,也就是这个参数为常数。
61124中建议:如果有必要测试恒定失效率的假设,可参见60605-6中的方法。
[quote]iwanto发表于2013-12-411:18[url=pid=138520&ptid=15125][/url]
4、对GB5080的溯源
我觉得可靠性试验好的一面就是跟时间较劲,这也使得我在监控时间点之间抽空来学习…[/quote]
标准看的很多啊向你学习!
8、标准的范围、参考标准、术语部分
四类试验方案:truncatedsequentialtests截止序贯试验、time/failureterminatedtests定时定数截尾试验方案、fixedcalendartimeterminatedtestswithoutreplacement、combinedtestplans组合试验方案。
有关试验方案、执行、分析和报告的指导请参见IEC60300-3-5,目前我手头还没有这份标准,我想这份总览的标准也非常重要。测试条件请参见IEC60605-2和IEC60300-3-5.
参考的标准包括:60050-191chapter191dependabilityandqualityofservice、60300-3-5:2001dependability管理应用导则可靠性试验条件和统计原理、60605-2设计试验循环、60605-4:2001点估计区间估计、60605-6恒定失效率和恒定失效intensity的有效性和评估试验、61123:1991成功率的验证试验方案。
到这里,似乎61123、61124系列的大标题为Reliabilitytesting,而60605系列为Equipmentreliabilitytesting。前者覆盖面更广?有待于进一步考证。
MTBF表述为meanoperatingtimebetweenfailures,加入operating更贴切,毕竟失效期间时间还在继续前进,而我们关心的时间已经停止。
OCoperatingcharacteristic具体何意?
SPRTsequentialprobabilityratiotest序贯概率试验
c代表acceptablenumberoffailuresduringthetest
k代表summationvariableforfailures
m代表trueMTBForMTTF
mo代表specifiedMTTForMTBF(designgoal)
m1代表lowerlimitforMTTForMTBF
还有很多术语就不详列,我打印出来,好对照标准看。
7、标准Forward部分
2012版对比上一版2006版的主要变化:(1)加入的许多新的试验方案基于俄罗斯标准GOSTR27.402,同时2012版标准对准的是新版的美军MIL-HDBK-781。优化测试方案的算法使用了spreadsheet,重点强调了一个事实:设计发生变化,试验就应该重复进行。看来俄罗斯人在可靠性试验方面有独到的见解,我们中国做可靠性的工程师们在这领域内能否有所建树呢?我督促自己朝这方面努力。
(2)在这一版中更正了来自于IEC60605-7中的试验方案A和B以及附录A和B,这对于我们仍然按照GB5080.7做可靠性试验的是不好的一面。
6、纵览目录
整份标准按顺序分为了前沿、范围、参考标准、术语定义简写符号、通用要求和应用领域、通用的测试程序、序贯试验方案、定时定数截尾试验方案、alternativetime/failureterminatedtestplans设计(alternative目前我不知道该如何命名)、calendartime/failureterminatedtestplansfornon-replaceditems、组合试验方案、执行试验、报告结果。还有很多附录、图表,在此不详列。对于这几处英文表述,随着标准的深入解读,相信会逐渐明了。
[i=s]本帖最后由iwanto于2013-12-609:27编辑[/i]
5、学习开始标准题目的含义
首先标准名称叫Reliabilitytesting-Compliancetestsforconstantfailurerateandconstantfailureintensity.”Compliancetests”我用金山词霸翻译一下叫“验证试验”,OxfordDictionary里解释compliance为theactionoffactofcomplyingwithawishorcommand.故而验证这词用起来还算不错,不过我老是觉得中文有很多解释太简单了,简单也就容易有歧义产生。对于constantfailureintensity,中文怎么说,目前我还不甚了解,姑且认为是“恒定失效密度”。进而产生的疑问是failurerate和failureintensity的区别是什么。我记得在学校做课题时,对于失效率,我起初的表达方式是failureratio,而且很多一块工作的人员也这么说,但后来看了几篇论文后我也改为了failurerate。
[i=s]本帖最后由iwanto于2013-12-413:42编辑[/i]
4、对GB5080的溯源
我觉得可靠性试验好的一面就是跟时间较劲,这也使得我在监控时间点之间抽空来学习标准。这IEC61124标准有252页,学习完后应该受益匪浅。说道GB5080系列,追溯到IEC605系列,为了搞懂GB中很多拗口的术语表达,我决定翻看引用而来的对应的国际标准,吃惊的是,我在IEC官网上http://www.iec.ch/发现IEC60605-1-1978Equipmentreliabilitytesting.Part1:Generalrequirements已经于2001年3月15日废止了,而我在看到这条消息前所有和客户讨论的方案,全部是按照5080.1来进行的,作为经历过博士段文献查新的人来讲,这是非常惭愧的一面,个人认为:即便现在的国家标准还在实行,但对国际标准的最前沿还是要做到心中有数才行。对于GB5080.2试验周期设计指导并没有引用IEC60605-2Equipmentreliabilitytesting-Part2:Designoftestcycles,而这份标准在经历1985年3月的初稿、1994年2月、10月的两次修订,至今还在沿用并稳定到2016年。而对于5080中提到的GB7288粗精模拟,对应的IEC60605-3系列也已经非删除就是withdraw了。GB5080.4指数分布点估计和区间估计部分,也没有对应标识IEC60605-4Equipmentreliabilitytesting-Part4:Statisticalproceduresforexponentialdistribution-Pointestimates,confidenceintervals,predictionintervalsandtoleranceintervals,IEC这份标准的2.0版本是沿用的。IEC60605-6Ed.3.0Equipmentreliabilitytesting-Part6:Testsforthevalidityandestimationoftheconstantfailurerateandconstantfailureintensity目前在应用,和GB5080.6恒定失效率假设的有效性检验似乎相当,我手头没有5080.6,所以没有对比。而对于GB5080.7对应的IEC60605.7确已废止,我目前学习的61124中说到的标准中的testplansA,B部分追溯与IEC60605-7部分,所以再看废止的IEC60605-7就可能有误导产生,更别说GB5080.7了。
3、试验前的小插曲
我在学校虽然名义上做可靠性课题,实际上接触的多是材料、电子、测试、工艺等综合的研究,因而对可靠性标准的理解也仅仅限于硕士期间查找的几份JEDEC有关封装可靠性的标准中有关焊点、结构的设计规则,其他诸如环境适应性深层次的问题也没有仔细去探究。说道这里,我提一下现在测试的这家公司的产品:试验在高温高湿环境下始终通电进行测试,外接计算机监控数据变化。一开始,我们将高温高湿全部施加于该设备,没想到不到30分钟,环境箱里全是水珠,设备上也全是水珠,监控的可靠性指标性能迅速下降,被迫降低高温高湿的应力条件,之后一直都很正常。昨天客户打来电话,说跟欧洲那边沟通了一下,并结合GB2423标准,认为高湿条件应该在高温条件先施加后1-2小时再次施加,果然我按照客户的要求先把温度调高到原本的水平,2小时候再把湿度调高到原本的水平,试验至今箱内没有明显的水珠,只是设备表面能看出来比较潮湿。⊙﹏⊙b汗一下,让客户指导我们试验机构,实是不该,不过俺一向是报以学习的态度,吃一堑长一智,留作自己宝贵的财富就行了。
2、前沿
说起可靠性,我也是被迫走上了这条道路,本来想做的是半导体核心技术的研发,无奈硕博读完之后我才发现诸如Intel、Toshiba、IBM等国际大型的半导体公司出于技术封锁,在大陆并没有相应的研发机构,除了软件部门。甚至包括宝岛台湾的TSMC也只在上海开办了工厂,研发并不在其列。有几年和国内半导体工厂合作的经历,让我不敢贸然进入其中。加上硕博期间导师给我定位的可靠性研究,所以毕业后,我选择了第三方检测机构做可靠性。工作一段时间后,也接触了7-8家询问做可靠性试验的公司,通过交流我发现大部分公司对可靠性试验应该做什么很不清楚,他们只是关心试验的费用如何降低,试验的报告如何取得,试验中最好一个失效都不发生,以显示他们的产品很耐用。TNND,这叫可靠性试验吗?