EMC 测试的问题

最近遇到一个问题,产品做完雷击(pass)后再做辐射,发现辐射测试过不了,但雷击之前是可以pass的,有两种观点:雷击属于破坏性测试,样品做完这个测试后不应该再做别的测试,第二种观点认为雷击后产品应该可以通过所有的测试,请问哪种观点正确?

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可靠性技术可靠性试验

HALT测试

2014-1-4 22:21:56

可靠性技术新手提问

有关电阻参数的在线测试解决方案&新年问候!

2014-1-5 21:12:03

11 条回复 A文章作者 M管理员
  1. xin

    学习了很多

  2. rogerchen

    [quote]tim发表于2014-1-1323:35[url=pid=139806&ptid=15231][/url]
    打完雷击后再做其他实验一般换防雷器件,如果换了性能下降,有条件的话可以再个样品做同样实验,看是否是偶…[/quote]

    觉得有道理

  3. tim

    打完雷击后再做其他实验一般换防雷器件,如果换了性能下降,有条件的话可以再个样品做同样实验,看是否是偶然性还是有共性,如果真是打雷后性能下降,那要重新评估产品性能了

  4. panqunyang

    [quote]rogerchen发表于2014-1-823:15[url=pid=139704&ptid=15231][/url]
    是电源产品,surge过后RE会比surge前高几个db,surge可能会损伤电容,有过类似的经验。[/quote]

    我觉得你的surge过了应该不影响RE的。EMC的影响因素太多了,你的高几个db,产品摆放距离,位置,线之类的都有可能。
    surge打坏去耦电容吗?surge能量那么大,要是打到板子很可能芯片都打坏了。
    什么电源产品啊?电源频率一般挺低啊,传导问题多些啊。
    还得看你高几个db的频点啊?
    只能凭空说说了。

  5. rogerchen

    是电源产品,surge过后RE会比surge前高几个db,surge可能会损伤电容,有过类似的经验。

  6. Xyberry

    不知道是什么样的产品呢?我还真没有碰到过这种情况。就电源类产品来讲的话,surge过后不会出现RE不良,要么直接保护,要么线路零件有损坏。按常理来讲,surge过后产品性能肯定是要保证OK。同意第二观点。问题的关键是再确认分析找到产品NG的原因。

  7. ysw20757007

    我没有做过EMC方面的测试,但是凭感觉(交流下而已)应该是第一种,因为雷击只是保证样品在雷击后不被伤到用户而不是保护样品,如果样品在寿命末期,你依然要求雷击以后能继续工作,是否研发跟生产的成本会过高?
    外行仅发表下自己观点而已,呵呵

  8. rogerchen

    我咨询了下权威的实验室,答案模棱两可,看来只能将Emission和Immunity用不同的样机来测试了。

  9. xingxing58

    同意楼上观点。。。第一种观点做完雷击后无法保证产品的其他性能是否OK

  10. s3070448126

    个人觉得第二种,产品设计有防雷击能力,说明雷击后产品一切都应该OK的.

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