请教：复杂系统的加速寿命试验如何做？

采用关键器件的激活能试验可能会好点。

项目的要求是做加速试验,并不是预计,如果是预计的话,省事多了.

由于试验对象系统比较复杂，包含多个光学器件（与光学器件相比，电路、机械部分的可靠性高出数量级，可忽略不考虑），而各个光学器件的敏感应力可以确定为温度，因此阿瑞尼斯模型适用。但是现在发现一个问题就是各个光学器件的激活能大小不一样，这样的话，能整机做加速寿命试验吗？
如果不能的话，大家采取什么办法？

你通过FMECA找出单个器件，怎么做加速试验。

如果要对整个系统指标进行评估，并不需要做加速啊。可以用普通的应力法来预计出可靠性的指标。

首先谢谢大家！！
不好意思，我没把问题说清楚。
是这样的，整个系统包括机械、电路系统和光学系统。
现在的项目是要对整个系统做加速寿命试验，准备采用的方法是关键元件法，即通过FMECA找出整个系统中最关键的元件（即故障率大、对功能影响大），然后通过对该关键元件进行加速寿命试验得到其可靠性指标，并由此对整个系统的可靠性指标进行评估。
如果直接对整个系统进行加速寿命试验的话是不行的，这是因为系统的各个组件的失效机理都不一样，没有办法选择加速应力，因此不具备做加速寿命试验的条件。

我现在想知道[size=7]还有没有别的方法？

請詳細的陳述一下求助的內容，方便論壇的朋友們解答。

不知道楼主强调复杂系统的用意如何。

如果是做加速寿命试验，可能系统的复杂程序对激活能EA计算上有影响

这种提问，是看不太清楚哦。。

楼上，可否将问题具体说清楚，具体系统功能，首先分析产品的环境剖面。