请问HTRB,HTGB,HTOL等试验是为了筛选用还是寿命评估?

请大家帮忙分析:

这几个试验(HTRB,HTGB,HTOL,LTOL等)是用于筛选器件的早期失效呢?

还有通过加速手段能评估出器件在正常工作环境下的使用寿命?

谢谢!

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2014-5-20 13:15:15

9 条回复 A文章作者 M管理员
  1. yanru0216

    [quote][url=pid=190483&ptid=15869]stevelyang 发表于 2017-9-22 03:44[/url]
    HTOL is applied to assess the quality and reliability for the devices, In general, it is a accelerat …[/quote]

    請問HTOL 是正常最大操作電壓去做125度(也是可以使用工作範圍溫度), 這樣做1000HR也算是加速實驗嗎??

  2. stevelyang

    HTOL is applied to assess the quality and reliability for the devices, In general, it is a accelerated testing.
    It can be used to predict the life time at critical failure rate level ( if a acceleration model is available).

  3. wx_yJUF5F50

    好东西,:lol

  4. wx_yJUF5F50

    好东西,:lol

  5. yayalekid

    关于htol的标准是什么呢?

  6. cheng10_xu

    你提到的这几个试验都是寿命试验,不是筛选器件的早期失效。
    筛选早期失效多用于IC,比如存储器等。
    不同的应力条件对应不同的加速模型,最后计算出来的寿命有一定的参考价值,但不等效于寿命。

  7. wu8295

    主要是针对不同失效机理的加速试验,对使用寿命的评估,所以时间上比较长。
    筛选器件的早期失效的试验,且一般测试时间不会太长。

  8. icemc2008

    有人吗?

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