目前针对某电子产品进行了硬件升级，更换了60个多元器件，产品共一千多个元器件。
因为做了更改，客户要求做鉴定试验证明其MTBF符合原要求（原要求1000小时，原产品已经通过了鉴定试验）
如果按照新产品做鉴定试验的话，成本太高了。
有没有相关的技术或者标准或者案例，针对这种更换元器件的改进产品的鉴定试验方法？
我是想通过可靠性预计理论上证明更换的60个器件可靠性高于原来的60个器件，然后按照鉴定试验的剖面进行一定的时间的鉴定试验。
但是这个试验时间长短该怎么确定了？
或者大家有更好的方法？
改进产品的鉴定试验技术求助
人已打赏
[quote]symons发表于2014-12-813:58[url=pid=149352&ptid=16505][/url]
有时候实验室需要强势一点……[/quote]
人家不给你盖章，你再强势也没用。。。改了也是白改，交付不了的。。。
有时候实验室需要强势一点……
[quote]symons发表于2014-12-510:11[url=pid=149245&ptid=16505][/url]
这个个人觉得从降额、替换的零部件的单体失效绿比对做一个文件证明下应该就可以了，有时候设计保证比验证更…[/quote]
客户觉得光证明不够，还要做实验验证下，我们又不想投入太多财力物力进去。。。。
和客户商量一下？
这个个人觉得从降额、替换的零部件的单体失效绿比对做一个文件证明下应该就可以了，有时候设计保证比验证更有说服力。
[quote]danny301发表于2014-12-411:33[url=pid=149202&ptid=16505][/url]
很多标准都有规定改进的样品需要做哪些试验，MTBF我没标准依据，但如果是符合weibull分布的，改进样品可靠性…[/quote]
因对可靠性试验不是太熟悉，还请不吝赐教。谢谢~~~
很多标准都有规定改进的样品需要做哪些试验，MTBF我没标准依据，但如果是符合weibull分布的，改进样品可靠性寿命可以用WeiBayesapproach来做，省下大量的样品量
[i=s]本帖最后由寒夜孤舟于2014-12-409:28编辑[/i]
看你怎么没做了常规的鉴定试验确实比较耗时间，可以考虑加速试验，但是加速试验的设计比较麻烦，同时可信性不是很高！
常规鉴定方式你可以参考GJB899A或者GB5080。加速试验要你们自己弄了。