请教：如何进行离子迁移试验。 可靠性技术 可靠性试验 14年12月12日 编辑 caicvt 取消关注 关注 私信 如题，PCB的离子迁移往往非常隐蔽和随机，很难再设计初期就检测出来，都是在实际试用一段时间之后才显现，如何通过增加试验环境的应力来激发离子迁移的加速，更早的将问题诱发。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
caicvtA lv2lv2 14年12月31日 [quote]ljp199029发表于2014-12-2416:39[url=pid=149878&ptid=16531][/url] 上传图片跟附件太不友好了…上次想直接截图把相关信息弄上去的，结果没成功。。。[/quote] 谢谢，学习了，双85测试周期是10天，是最短的。
ljp199029 lv4lv4 14年12月24日 上传图片跟附件太不友好了…上次想直接截图把相关信息弄上去的，结果没成功。。。 文件下载：电迁移与CAF相关图片.pdf 密码或说明： 大小：1374KB attach文件下载后改名pdf后缀 文件下载：SIR 电迁移 CAF.pdf 密码或说明： 大小：175KB attach文件下载后改名pdf后缀
gykhl lv4lv4 14年12月16日 [quote]yeh发表于2014-12-1607:22[url=pid=149551&ptid=16531][/url] 85C85%RHbiase,orbiaseHAST[/quote] 双85测试的目的是什么？ 从失效机理来看，会造成什么？
感谢
参考下，谢谢了！
可以考虑HAST试验，130°，85%Rh，试验时间也许只需要96H
[quote]ljp199029发表于2014-12-2416:39[url=pid=149878&ptid=16531][/url]
上传图片跟附件太不友好了…上次想直接截图把相关信息弄上去的，结果没成功。。。[/quote]
谢谢，学习了，双85测试周期是10天，是最短的。
菜鸟学习下
上传图片跟附件太不友好了…上次想直接截图把相关信息弄上去的，结果没成功。。。
[quote]yeh发表于2014-12-1607:22[url=pid=149551&ptid=16531][/url]
85C85%RHbiase,orbiaseHAST[/quote]
双85测试的目的是什么？
从失效机理来看，会造成什么？
见附件
85C85%RHbiase,orbiaseHAST