测IGBT的Id-Vd的时候，总是出现如下电流减小的情况，求大侠赐教，不胜感激。 可靠性技术 可靠性试验 15年1月4日 编辑 huii 取消关注 关注 私信 此器件的Vth=1V，BV=200V，测试条件为，Vgs=3V，阳极电流为什么会在后端减小，这是芯片级器件，用探针台扎针和半导体测试仪4200测试，希望各位大侠指教。 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
这是igbt输出特性曲线测试吧？怎么跑这里问来了，这里搞器件的应该不多哦。去2ic上面问吧