GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法

GJB128A-97代替GJB128-86
1.1主题内容
本标准规定了半导体分立器件(以下简称器件)的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试
1.2适用范围
本标准适用于军用半导体分立器件。

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        [url=https://www.kekaoxing.com/club/thread-2370-1-1.html]GJB128A-1997半导体分立器件试验方法IDTMIL-STD-750[/url]8楼

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关于举办东莞市第一届电子信息科技高峰论坛的通知(邀请版)

2007-10-12 10:49:34

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模拟中统计散点的分析

2007-10-13 0:41:59

14 条回复 A文章作者 M管理员
  1. mastercc

    谢:victory::victory::victory:

  2. djcuiphysic

    好东西,谢了!:victory:

  3. tutu66

    谢谢!

  4. 杨振英

    :victory:

  5. chinaxiayu

    已提供了链接地址,见1楼。

    chinaxiayu

  6. reliability

    邮件传送出错,暂没有收到xiayu兄的附件。希望xiayu看到贴子后,查看邮箱,上传附件或者发邮件给我代为上传:cliffcrag#126.com

  7. sunjj

    什么时候可以上传与大家分享呢?
    急切期待中ING.

  8. beacherdon

    期待!!

  9. oyboooooooo

    期待中........

  10. reliability

    chinaxiayu把我的邮箱记错了,联系重复传,收到后,晚上才可以传上来与大家分享。

  11. lxl6021

    等上传了研究下,觉得硬件设计人员对这个应该了解!

  12. sunjj

    关注ing

  13. chinaxiayu

    网络出了故障,附件上传不了,只能让admin上传了。

    chinaxiayu

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