GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 可靠性文档 可靠性资料 07年10月12日 编辑 chinaxiayu 取消关注 关注 私信 GJB128A-97代替GJB128-86 1.1主题内容 本标准规定了半导体分立器件(以下简称器件)的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试 1.2适用范围 本标准适用于军用半导体分立器件。 点击下面的链接: [url=https://www.kekaoxing.com/club/thread-2370-1-1.html]GJB128A-1997半导体分立器件试验方法IDTMIL-STD-750[/url]8楼 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
reliability lv6lv6 07年10月15日 邮件传送出错,暂没有收到xiayu兄的附件。希望xiayu看到贴子后,查看邮箱,上传附件或者发邮件给我代为上传:cliffcrag#126.com
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chinaxiayu
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什么时候可以上传与大家分享呢?
急切期待中ING.
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chinaxiayu把我的邮箱记错了,联系重复传,收到后,晚上才可以传上来与大家分享。
等上传了研究下,觉得硬件设计人员对这个应该了解!
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chinaxiayu