1.数字传感器–》是当微处理器按晶体管来查询，还是储存器器件查询，或其他。
2.模拟开关–》是用那种放法查询。
3.如何区分工艺，双极，MOS
4.如何区分工艺，密封，非密封
5.如何根据已知芯片型号，查找到芯片晶体管数量或门数量，或估算方法。
本小白，初学者，望坛高手指教，谢谢！
GJB/Z 299C-2006中的通用失效率查询，有多处不解，求指教
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33页示例中的πv πt查表5.2.2-15，5.2.2-9不理解为什么选这两个表，期待大神解答
求高手
同问！！另外299c里面的电阻、电容的通用失效率都在10^-6级别。但是，亚五级的元器件就可以鉴定了，所以疑惑点就是通用的失效率不是反映一般的水平吗，怎么级别这么高？