使用寿命方面的寿命测试

请问各位兄弟,电子产品使用寿命7年,如果在常温做验证的话,该如何做比较好呢?有这方面的标准吗?

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可靠性技术可靠性试验

可靠性试验中断

2015-8-9 7:25:50

可靠性技术可靠性试验

求解:如果芯片substrate改变,哪些可靠性试验项目需要重测?

2015-8-10 9:19:01

3 条回复 A文章作者 M管理员
  1. lvhoo

    [quote][url=pid=158392&ptid=17301]anttyxy发表于2015-8-1023:02[/url]
    寿命肯定是跟失效机理挂钩的,如果是一般的电化学导致的失效,最常用的是阿式加速模型,但是如果是机械磨损…[/quote]

    机械磨损失效的用什么模型?

  2. anttyxy

    寿命肯定是跟失效机理挂钩的,如果是一般的电化学导致的失效,最常用的是阿式加速模型,但是如果是机械磨损或热失配类的机理失效就另当别论了。你得先确定制约产品寿命的主要失效是什么类型的,才好确定怎么加速

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