请教：电子产品整机加速寿命试验激活能的选取方法 可靠性技术 新手提问 15年10月7日 编辑 whn167404 取消关注 关注 私信 激活能除了经验估计之外，对于整机进行老化试验的激活能如何科学的选取？ 有没有通过理论计算等得到的方法？ 是否可以通过元器件在不同温度下的不同失效率反算激活能？ 请各位大哥指教:):) 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
执笔画晴 lv2lv2 16年2月29日 [quote][url=pid=168773&ptid=17428]filtratedgun发表于2016-2-2613:41[/url] 你是客户的话，往小了选，比如0.4；你是供应商的话，往大了选，比如0.7[/quote] 直接这么选取的话，没有什么说服力啊。
一般来说是通过三温法来求解，但是整机我不太清楚，我觉得可以选取整机最薄弱的点来进行试验。
把整机的薄弱点找出来做寿命评估
[quote][url=pid=168773&ptid=17428]filtratedgun发表于2016-2-2613:41[/url]
你是客户的话，往小了选，比如0.4；你是供应商的话，往大了选，比如0.7[/quote]
直接这么选取的话，没有什么说服力啊。
你是客户的话，往小了选，比如0.4；你是供应商的话，往大了选，比如0.7
谁有详细的激活能试验回归分析资料，共享下贝
要靠試驗數據做迴歸分析才能獲得！
推薦的值通常是不準確的，不建議使用！
激活能的计算可以反向推到，但是比较复杂，有些推荐的激活能可以参考
激活能是科学的,是通过元器件在不同温度下的不同失效率计算的
样本量也非常有限