非破坏性分析
小型测试机/半导体I-V特性曲线仪/探针台/显微镜观察分析/3DX-Ray/超声波扫描显微镜/
破坏性分析
激光开封/手动开封/酸自动开封机/小型半导体器件铣床/微光分析仪/光致电分析仪/研磨抛光/探针台/扫描电子显微镜/能谱分析/
化学处理
取晶/反应离子刻蚀机/码点染色/显微照相/电子扫描显微镜/能谱分析/

聚焦离子束
微线路修改/测试键生长/纵向微切片解剖/微区刻蚀/

可靠性服务
预处理/冷热冲击(TC)/高压蒸煮加速实验(HAST)/HTRB/老化实验(Burnin)/高压高湿实验(SPP)/

静电测试(ESD/HBM/MM)
CDM/Latchup/HBM/MM/
可焊性测试
沾湿天平(WetBalance)/锡须实验(Whisker)/

研磨/抛光等耗材销售
Allied/ProbeTips/