求助可靠性试验通过标准 可靠性技术 新手提问 07年11月9日 编辑 hotleaves 取消关注 关注 私信 我公司是一家生产半导体器件的厂家,今天老大给了我一个任务,说我公司可靠性试验开展得已经较为全面了,考虑是否要出一份可靠性试验通过标准文件,说明哪些试验一出现元件失效该试验就判定为不合格,哪些试验允许出现一定的元件失效,但必须有一个明确的比例,而哪些试验需要探索元件的极限值,我晕了。哪位高手指点迷津啊?谢谢啦 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
arvinghchen lv4lv4 08年3月18日 [quote]原帖由[i]Gary[/i]于2008-3-1816:39发表[url=pid=17102&ptid=1853][/url] Bellcore的GR系列标准有明确规定允许的失效样品数[/quote] bellcore的标准太多了,可否告知一下是哪个标准,,谢谢:)
你的样品是什么东东呀?
如果是LD的话,可以参考GR-468-CORE,AppendixA,SamplingPlanTable
[quote]原帖由[i]Gary[/i]于2008-3-1816:39发表[url=pid=17102&ptid=1853][/url]
Bellcore的GR系列标准有明确规定允许的失效样品数[/quote]
bellcore的标准太多了,可否告知一下是哪个标准,,谢谢:)
Bellcore的GR系列标准有明确规定允许的失效样品数
我看到最多的是关于验证拒收这一块,还有就是失效模式等,就是没有关于样品失效数量规定等
建议你去找一下国标或是美军标,里面有对半导体器件的可靠性作详细的规范.
可以找些业内的东东学学啊,
大体了解后,自己制定啦。