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产品可靠性对于提升产品竞争力，增加产品的社会效益和经济效益，具有重要意义。高可靠、高质量是组织追求的永恒目标，高可靠是高质量的基础和前提，是市场竞争的重要因素。为了帮助工程设计和管理人员明确可靠性设计的目的并掌握可靠性设计、试验和管理的方法，中国电子企业协会、北京中亿联华科技发展有限公司特联合组织了业内权威专家，举办“可靠性技与失效分析技术高级研修班”。现将相关事宜通知如下：
一、主办单位：中国中国电子企业协会北京中亿联华科技发展有限公司
二、培训时间：2007年12月6—-9日（5号报到）
三、培训地点:深圳
四、培训对象：研发经理、质量经理、产品可靠性工程师、研发人员、质量保障工程师等。
五、授课内容：
根据学员要求可有变动，以讲授基本概念、基本方法为重点，避免学院式的烦琐推导，结合实例，培养学员分析和解决工程实际问题的能力。
第一部分产品可靠性工程技术
1、电子电器产品整机可靠性基础和设计讲座1.1、可靠性基础：整机的定义；产品的核心和内涵；可靠性定义（从基本可靠性到可信性）；以故障为中心的可靠性概念；可靠性科技发展和可靠性系统工程1.2、电子电器产品可靠性设计工作1.2.1性能设计、安全设计、环境适应性设计（电磁兼容设计）、可靠性设计技术特点及其关系；1.2.2设计计算类工作：指数分布产品的重要特征；建立可靠性模型；产品可靠性定量指标的计算；3种冗余设计的可靠性模型；可靠性(定量指标)分配；可靠性预计；置信度问题。1,2.3设计分析类工作：故障模式、影响及危害度分析；复杂系统的故障树分析方法；潜在电路（通路）分析；电子元器件和电路容差分析。
1.2.4制订设计准则类工作：制订元器件大纲；确定可靠性关键件和重要件；确定功能测试、包装、贮存、装卸、运输及维修对可靠性的影响。
1.2.5可靠性设计基本技术：可靠性降额设计；可靠性热设计。
2、电子电器产品整机可靠性管理、试验
2.1、可靠性管理工作
产品寿命周期及其可靠性大纲的制定:可靠性大纲及评审；可靠性工作计划；对供应方和转承制方的监督与控制；故障报告分析与纠正措施系统；故障审查及组织；可靠性增长概念及其管理技术；可靠性设计评审；产品综合评价的概念及其技术要点。
2.2、电子电器产品整机可靠性试验
2.2.1电子和电器设备可靠性试验的目的，可靠性试验与其它试验的关系;可靠性试验的分类（浴盆曲线与可靠性试验类别的对应关系）
2.2.2环境应力筛选
HALT测试和HASS试验；环境应力筛选的目的和原理；产品缺陷分类；筛选应力及其效应表达式；可靠性试验条件和环境应力筛选方案设计；方案实施及实例。
2.2.3可靠性增长试验
可靠性增长概念；试验剖面和参数的确定；试验方案；实例
2.2.4可靠性验证试验（可靠性统计试验）
可靠性鉴定试验；可靠性验收试验；OC曲线和试验方案的关系、试验剖面、试验数据的处理……
第二部分失效分析技术
1、电子元器件失效分析技术：
1.1．失效分析的基本概念和一般程序
1.2．失效分析的电测试1.3．无损失效分析1.4．模拟失效分析
1.5．制样技术1.6．形貌像技术1.7．扫描电镜电压衬度像
1.8．热点检测技术1.9．聚焦离子束技术1.10.微区化学成分分析技术
2、分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例：
2.1．塑料封装失效2.2．引线键合失效2.3．水汽和离子沾污
2.4．介质失效2.5．过电应力损伤2.6．闩锁效应
2.7．静电放电损伤2.8．金属电迁移2.9．金属电化学腐蚀
2.10．金属-半导体接触退化2.11．芯片粘结失效
3、电子元件的失效机理和案例：
3.1.电阻器3.2.电容器3.3.继电器3.4连接器
3.5印刷电路板和印刷电路板组件
4、微波半导体器件失效机理和案例
5、混合集成电路失效机理和案例
6、其它器件的失效机理和案例
六、授课老师：
杨志飞男，1939年12月生现任广东省老科学技术工作者协会秘书长。1966年毕业于北京航空学院航空无线电系雷达专业，分配到中国酒泉卫星发射中心从事航天测控工作。为原国防科委《参谋业务手册》编写了“导弹的测量控制”章。从1987年12月起，从事系统可靠性、环境适应性工程和系统工程及其管理技术的科研、试验和管理工作。在所内组织完成了“xx飞机部分机载电子设备可靠性增长课题”、“x飞机部分机载电子设备可靠性测定与增长课题”、“军用电子装备可靠性评价和三防评价预研”等课题，完成了各项课题报告和《军用电子设备工艺可靠性管理指南》的编制。主著《以故障为中心的工程可靠性》由国防工业出版社于1995年出版。擅长：系统分析与管理策划，质量管理、产品质量诊断、生产过程分析，企业内部基础培训、电子整机可靠性管理、可靠性设计、可靠性试验、工艺可靠性管理等方面的现场调研分析或数据资料案头分析或课堂讲解。
费庆宇高级工程师，理学硕士，“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，“广东省科技史志”撰稿人，1982年起在中国电子产品可靠性与环境试验研究所（工作，1989年赴联邦德国慕尼黑市西门子公司研究发展中心作访问学者，1992－1993年赴加拿大西安大略大学作访问学者，2001－2002年赴美国南加州大学作高级访问学者。长期从事半导体器件（包括集成电路和GaAs微波器件等）的可靠性、失效机理和失效分析技术研究。“VLSI失效分析技术”课题第一完成人，该课题荣获2003年度“国防科技二等奖”。“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题第一完成人，该课题荣获2006年度“国防科技二等奖”。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。2000年以来曾多次应邀在全国各地举办可靠性和失效分析技术的培训讲座，得到广大学员的一致好评。
七、收费标准：2200元/人，3人以上每人优惠100元，（含资料、午餐、课时、证书）其他费用自理。所有费用请于报名后一周之内汇款至指定帐户（见报名表），届时开具票据。请确定名单后及时将报名回执表传真至我处。课程结束经过考核由中国电子企业协会颁发结业证书。请学员报到时带近期免冠一寸照片2张。
