HALT代替环境试验？ 可靠性技术 新手提问 07年12月3日 编辑 sunplus128 取消关注 关注 私信 请问各位， HALT能代替现有的环境试验吗？ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
dalan lv3lv3 13年10月11日 HALT测试和环境测试不能等同，除了前面有人提到HALT无法进行湿度测试外，个人感觉还有两点， 1）两者测试模式的巨大差异。HALT讲究的是迅速发现问题，实现可靠性增长，因此对于电子产品是要剥去外壳来测试的，能裸板最好，而环境试验则一般以整机测试，这会导致温度分布的不同，从而两者可能发现不同的失效模式。 2）HALT和步入式温箱相比空间小很多，很多步入式温箱能干的活，HALT做不了，或者得将产品拆开做，这会导致测试覆盖率的降低； 但从个人经验看，环境能发现的问题，极少HALT不能发现的，特别是个头小，发热低的小功率产品。
dalan lv3lv3 13年10月11日 HALT测试和环境测试不能等同，除了前面有人提到HALT无法进行湿度测试外，个人感觉还有两点， 1）两者测试模式的巨大差异。HALT讲究的是迅速发现问题，实现可靠性增长，因此对于电子产品是要剥去外壳来测试的，能裸板最好，而环境试验则一般以整机测试，这会导致温度分布的不同，从而两者可能发现不同的失效模式。 2）HALT和步入式温箱相比空间小很多，很多步入式温箱能干的活，HALT做不了，或者得将产品拆开做，这会导致测试覆盖率的降低； 但从个人经验看，环境能发现的问题，极少HALT不能发现的，特别是个头小，发热低的小功率产品。
有你相随 lv3lv3 13年10月10日 不可以的吧HALT是高加速应力测试，是破坏性的，主要是研发初期测试出产品所能承受的温度极限，是做规格参数参考的。环境测试主要是验证产品使用和储存过程中的环境条件，环境试验条件应该从HALT条件中选择，具体就要看研发单位的意见了。 个人观点啊，不足之处还望多多指教
kekele123 lv2lv2 09年8月12日 以我的认知来看,应该是不行的. halt/hass只是一种测试工具,不是用来测试产品passorfail. 而环测是在既定的条件下测试产品的可靠度,看产品是否经得起此条件的测试.两者的用意应该是不一样的.
qiqiu lv2lv2 09年8月12日 HALT测试一般是在研发的初期采用，适合样品数较少，目的是发现设计的缺陷加以改进，破坏性的实验，费用较高。而环境试验是在模拟各种环境情况下的性能情况，是有判断标准的，时间也较长。
squallgao lv3lv3 08年10月31日 至于这个问题我们首先应该了解HALT/HASS的目的, HALT主要是在设计阶段（当然任何阶段都可以）通过过应力来找出设计的缺陷/limit或者是生产流程issue，从而找出设计的薄弱点，并加以改进，以提高UUT的可靠性。 而环境试验是在模拟各种环境情况下的性能情况 两者的目的，方法，目的不同。不可相互代替。 BTW，如果是老化测试，我们可以用HASS/HASA来代替，因为两者的目的都是触发uut的早期失效。 但是在选择HASS/HASA的profile是要注意不能减少UUT的寿命，这时需要引入POS，从而选择一合适的HASS/HASAprofile。
swk_sun lv4lv4 08年7月11日 产品可靠性是设计和制造出来的，但必须通过试验予以验证。在研制阶段，为了保证具有一定的可靠性水平或提高产品的可靠性，要通过可靠性增长试验（HALT）暴露产品的缺陷，进而进行分析，并采取有效纠正措施，使产品的可靠性得到增长。在设计定型前，对产品进行鉴定试验，验证产品(一般性的实验)是否达到规定的可靠性指标。对批量生产的产品在交付使用时，要通过验收试验来对产品的可靠性进行验收。在产品的使用阶段，为了了解产品使用的可靠性水平，要进行产品试用试验等。可见，可靠性试验贯穿于产品的全寿命之中，可靠性试验是评价产品可靠性的一个重要手段。而提高可靠性的实验只有是HALT他是使产品的缺陷暴露然后改进，从而提高产品的可靠性，而一般的实验属于验证性试验和鉴定性试验，不能使产品的可靠性提高！ 这也是为什么HALT实验是在研制阶段做，而一般实验在产品定型前研发后做！一般实验与HALT实验可否替换我想大家都可想而知了，是不能替代的！ 楼上的有提到HALT的一些特性,我就个人知道的说说吧，HALT首先在应力上是一般实验都达不到的，它的温度应力为200度～～-100度振动应力是全轴同步振动（三轴六向同时振动，要区别于一般的电磁振动台哦），实验时施加的应力方式也是不同的，它所采用的是步进应力（上下楼梯样），还有它在每一种应力下所能激发的缺陷（失效模式）是不一样的，所以HALT测试中一项都不能少，它前后实验是有依据，紧紧相关的，环环相扣的，测试項有;低温步进、高温步进振动步进快速热循环（温变率40度每分钟以上）综合应力（快速温度循环加振动）！ 有什么问题，可以联系讨论，邮箱：[email]swk_sun@126.com[/email]欢迎各位共同讨论！ [[i]本帖最后由swk_sun于2008-7-1120:00编辑[/i]]
GUCCI lv4lv4 08年6月7日 个人觉得目前研究这个意义不大，costdown的目的。 用HALT代替环测目的就是省略某些环测测试，那么被省略的那些环测测试省不了几个钱的。 倒不如踏踏实实的做好失效物理模式分析和可靠度分析。
GUCCI lv4lv4 08年6月7日 [quote]原帖由[i]GUCCI[/i]于2008-1-422:22发表[url=pid=13802&ptid=1967][/url] 个人理解代替单独的振动和温度应力目前也不可取， 这要看HALT的失效模式是否全包括了环境测试时候发现的失效模式。[/quote] 说HALT代替环境试验太广了，不可能完全代替环境试验。这个谁都不敢。 HALT的失效模式和环测(温度+振动)的激励模式和失效模式都不一样。 但是，我们可以做一些研究，是否HALT可以代替某些环测(温度+振动)试验。 那么首先，我们就要弄清楚环测(温度+振动)的激励模式和失效模式是如何的。 举例：这里我举振动为例子， 环测的振动如果用的ED-shaker，那么他的单轴振动激励模式完全不同于HALT的全轴振动激励模式。 不仅是单轴和全轴的区别，破坏方式也有的区别(不知道如何表达出来)。 那么这里先说，HALT可否代替环测里的振动测试呢，那么我们要从实验的目的来说明，具体的就是用失效模式去验证。 只有失效模式是被包括的关系，答案才可以是肯定的，并且只对包括这部分失效模式的振动实验来讲。 欢迎各位大侠来评点指正。
99421503 lv2lv2 08年6月5日 [quote]原帖由[i]zhuwy2006[/i]于2007-12-1909:00发表[url=pid=13053&ptid=1967][/url] HALT是高加速寿命试验。环境实验和寿命实验都属于可靠性实验，但二者还是有本质的区别的。 环境实验可能只是筛选实验，标准有IEC68-2和国标GB/T2423，军标GJB150。其目的是即给予一定应力，考察产品的环境适应能力。…[/quote] —————————————————————————————————————————– 本人对楼上兄弟意见有不同的看法。 根据《电工电子产品环境试验国家标准》第二版所列出的国标中，GB/T2423.50-1999恒定湿热试验-主要用于元件的加速试验，这个关于环境试验的标准就已经强调了加速寿命实验，只不过作为国标其严酷等级比较低而已。HALT应属于在该标准前提下更严酷、更深入的测试。 所以本人认为：HALT作为一个分支应包括在环境实验中。 有不同看法的人可以继续讨论！
gurengui lv3lv3 08年1月5日 首先,HALT试验是不能代替环境试验.7楼的朋友已经写的比较清楚了,目的不同决定了前者是不能后者的。 其次，HALT是以故障物理学为基础的破坏性试验，是以激发故障为目的的，以期望在最短的时间内找到产品的设计缺陷，以达到在短期内产品的高可靠性；而环境试验是考核产品在极限试验条件下的适应能力。要注意的是，产品的可靠性是不能通过试验而被提高的。 最后，HALT试验是对产品的寿命有影响的，风险性很大。。。 :handshake:handshake:handshake
GUCCI lv4lv4 08年1月4日 [quote]原帖由[i]tmc_kevin[/i]于2007-12-1618:30发表[url=pid=12949&ptid=1967][/url] 如果单说温度应力或振动应力，可以勉勉强强说可以。[/quote] 个人理解代替单独的振动和温度应力目前也不可取， 这要看HALT的失效模式是否全包括了环境测试时候发现的失效模式。
zhuwy2006 lv3lv3 07年12月19日 HALT是高加速寿命试验。环境实验和寿命实验都属于可靠性实验，但二者还是有本质的区别的。 环境实验可能只是筛选实验，标准有IEC68-2和国标GB/T2423，军标GJB150。其目的是即给予一定应力，考察产品的环境适应能力。 寿命试验的目的是给予一定应力，产品在此条件下连续工作，直到失效率达到n%的工作时间，可以评价产品的MTBF。
morrison lv4lv4 07年12月8日 HALT與環境試驗目的不同，不可以互相取代。 HALT=HighlyAcceleratedLifeTest高加速壽命試驗，是利用環境試驗(EnvironmentalTests)方法(因為壽命試驗時的環境條件，必須模擬實際操作的任務輪廓)對物品進行的壽命試驗方法，HALT比一般加速壽命試驗更快可以獲得壽命數據。 環境試驗一般為單項環境逐次進行，試驗規格通常取任務輪廓環境95%風險的數值。 壽命試驗大多是複合環境，最常見是同時考量電氣，溫度與振動環境(以車用物品為例)，利用失效物理概念，加大試驗時的應力水準，如此可縮短試件失效時間(壽命)發生時間，根據試驗所得到的失效時間數據，再利用加速因子數值，可計算獲得正常任務輪廓下的失效時間或壽命數據。 ESS是針對製造工藝產生具有早夭潛在瑕疵的物品，在出廠前提前暴露，以免交貨後在顧客使用才發生非設計疵病。八十年代電子產品環境應力篩選(EnvironmentalStressScreening,ESS)以溫循與隨機振動為主，九十年代則流行高加速應力篩選(HighlyAcceleratedStressScreening,HASS)，在此論壇有專題討論。 [[i]本帖最后由morrison于2007-12-814:27编辑[/i]]
wu8295 lv4lv4 07年12月8日 一般来说，是不可以用HALT来代替环境实验，原因很简单，就是HALT有破坏性，并不能在你的生产中广泛使用，在研发阶段的实验，现在也已经越来越多的，在环境温度后加一个小halt，（比环境温度高个10度以上），这个到是可以。至于在量产时的筛选，你可以参考ESS的理论，原则上thermalshock>振动>高温，但是使用的应力最好在超过你的使用环境温度以上，（参考ESS）至于时间你可以到是可以参考HASS的做法（弄一些有缺陷的）看看需要多长时间可以筛选出来呵呵
baby28 lv4lv4 07年12月5日 非常希望能看到高手的回复，公司生产的电子产品，因设计问题，在生产时发现有一些不良现象，然后在50度环境下老化6小时来筛选不良品，发现筛选效果不是很好，后到用温度冲击即在高低温进行快速温变，那样就是筛选出许多不良品，问对产品不良进行环境应力筛选应从怎样去确定相应的应力条件。
HALT测试和环境测试不能等同，除了前面有人提到HALT无法进行湿度测试外，个人感觉还有两点，
1）两者测试模式的巨大差异。HALT讲究的是迅速发现问题，实现可靠性增长，因此对于电子产品是要剥去外壳来测试的，能裸板最好，而环境试验则一般以整机测试，这会导致温度分布的不同，从而两者可能发现不同的失效模式。
2）HALT和步入式温箱相比空间小很多，很多步入式温箱能干的活，HALT做不了，或者得将产品拆开做，这会导致测试覆盖率的降低；
但从个人经验看，环境能发现的问题，极少HALT不能发现的，特别是个头小，发热低的小功率产品。
HALT测试和环境测试不能等同，除了前面有人提到HALT无法进行湿度测试外，个人感觉还有两点，
1）两者测试模式的巨大差异。HALT讲究的是迅速发现问题，实现可靠性增长，因此对于电子产品是要剥去外壳来测试的，能裸板最好，而环境试验则一般以整机测试，这会导致温度分布的不同，从而两者可能发现不同的失效模式。
2）HALT和步入式温箱相比空间小很多，很多步入式温箱能干的活，HALT做不了，或者得将产品拆开做，这会导致测试覆盖率的降低；
但从个人经验看，环境能发现的问题，极少HALT不能发现的，特别是个头小，发热低的小功率产品。
不可以的吧HALT是高加速应力测试，是破坏性的，主要是研发初期测试出产品所能承受的温度极限，是做规格参数参考的。环境测试主要是验证产品使用和储存过程中的环境条件，环境试验条件应该从HALT条件中选择，具体就要看研发单位的意见了。
个人观点啊，不足之处还望多多指教
这个肯定是不行的，你应该查下为什么要做环境试验和为什么要做HALT就知道这两者是不能互相代替的！
貌似不行吧，期待高人回复！
目的意义不一样，没有等同性。
以我的认知来看,应该是不行的.
halt/hass只是一种测试工具,不是用来测试产品passorfail.
而环测是在既定的条件下测试产品的可靠度,看产品是否经得起此条件的测试.两者的用意应该是不一样的.
HALT测试一般是在研发的初期采用，适合样品数较少，目的是发现设计的缺陷加以改进，破坏性的实验，费用较高。而环境试验是在模拟各种环境情况下的性能情况，是有判断标准的，时间也较长。
两者实验目的还是不一样的，不能等同也不能完全代替，
HALT还是有局限的，因为HALT箱没有湿度方面的测试，所以这点是不能替代环境的。在纯温度测试温度箱能达到的就不要用HALT箱，成本不一样呀！相差10倍了。
至于这个问题我们首先应该了解HALT/HASS的目的,
HALT主要是在设计阶段（当然任何阶段都可以）通过过应力来找出设计的缺陷/limit或者是生产流程issue，从而找出设计的薄弱点，并加以改进，以提高UUT的可靠性。
而环境试验是在模拟各种环境情况下的性能情况
两者的目的，方法，目的不同。不可相互代替。
BTW，如果是老化测试，我们可以用HASS/HASA来代替，因为两者的目的都是触发uut的早期失效。
但是在选择HASS/HASA的profile是要注意不能减少UUT的寿命，这时需要引入POS，从而选择一合适的HASS/HASAprofile。
不可以
产品可靠性是设计和制造出来的，但必须通过试验予以验证。在研制阶段，为了保证具有一定的可靠性水平或提高产品的可靠性，要通过可靠性增长试验（HALT）暴露产品的缺陷，进而进行分析，并采取有效纠正措施，使产品的可靠性得到增长。在设计定型前，对产品进行鉴定试验，验证产品(一般性的实验)是否达到规定的可靠性指标。对批量生产的产品在交付使用时，要通过验收试验来对产品的可靠性进行验收。在产品的使用阶段，为了了解产品使用的可靠性水平，要进行产品试用试验等。可见，可靠性试验贯穿于产品的全寿命之中，可靠性试验是评价产品可靠性的一个重要手段。而提高可靠性的实验只有是HALT他是使产品的缺陷暴露然后改进，从而提高产品的可靠性，而一般的实验属于验证性试验和鉴定性试验，不能使产品的可靠性提高！
这也是为什么HALT实验是在研制阶段做，而一般实验在产品定型前研发后做！一般实验与HALT实验可否替换我想大家都可想而知了，是不能替代的！
楼上的有提到HALT的一些特性,我就个人知道的说说吧，HALT首先在应力上是一般实验都达不到的，它的温度应力为200度～～-100度振动应力是全轴同步振动（三轴六向同时振动，要区别于一般的电磁振动台哦），实验时施加的应力方式也是不同的，它所采用的是步进应力（上下楼梯样），还有它在每一种应力下所能激发的缺陷（失效模式）是不一样的，所以HALT测试中一项都不能少，它前后实验是有依据，紧紧相关的，环环相扣的，测试項有;低温步进、高温步进振动步进快速热循环（温变率40度每分钟以上）综合应力（快速温度循环加振动）！
有什么问题，可以联系讨论，邮箱：[email]swk_sun@126.com[/email]欢迎各位共同讨论！
[[i]本帖最后由swk_sun于2008-7-1120:00编辑[/i]]
HALT成本比环境要高
现在大多公司都进行costdown,不允许呀
HALT制冷采用的是液氮系统，比环境测试成本高好多
郁闷啊，今天。
个人觉得目前研究这个意义不大，costdown的目的。
用HALT代替环测目的就是省略某些环测测试，那么被省略的那些环测测试省不了几个钱的。
倒不如踏踏实实的做好失效物理模式分析和可靠度分析。
[quote]原帖由[i]GUCCI[/i]于2008-1-422:22发表[url=pid=13802&ptid=1967][/url]
个人理解代替单独的振动和温度应力目前也不可取，
这要看HALT的失效模式是否全包括了环境测试时候发现的失效模式。[/quote]
说HALT代替环境试验太广了，不可能完全代替环境试验。这个谁都不敢。
HALT的失效模式和环测(温度+振动)的激励模式和失效模式都不一样。
但是，我们可以做一些研究，是否HALT可以代替某些环测(温度+振动)试验。
那么首先，我们就要弄清楚环测(温度+振动)的激励模式和失效模式是如何的。
举例：这里我举振动为例子，
环测的振动如果用的ED-shaker，那么他的单轴振动激励模式完全不同于HALT的全轴振动激励模式。
不仅是单轴和全轴的区别，破坏方式也有的区别(不知道如何表达出来)。
那么这里先说，HALT可否代替环测里的振动测试呢，那么我们要从实验的目的来说明，具体的就是用失效模式去验证。
只有失效模式是被包括的关系，答案才可以是肯定的，并且只对包括这部分失效模式的振动实验来讲。
欢迎各位大侠来评点指正。
湿热实验,HALT也是无法代替的.
[quote]原帖由[i]zhuwy2006[/i]于2007-12-1909:00发表[url=pid=13053&ptid=1967][/url]
HALT是高加速寿命试验。环境实验和寿命实验都属于可靠性实验，但二者还是有本质的区别的。
环境实验可能只是筛选实验，标准有IEC68-2和国标GB/T2423，军标GJB150。其目的是即给予一定应力，考察产品的环境适应能力。…[/quote]
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本人对楼上兄弟意见有不同的看法。
根据《电工电子产品环境试验国家标准》第二版所列出的国标中，GB/T2423.50-1999恒定湿热试验-主要用于元件的加速试验，这个关于环境试验的标准就已经强调了加速寿命实验，只不过作为国标其严酷等级比较低而已。HALT应属于在该标准前提下更严酷、更深入的测试。
所以本人认为：HALT作为一个分支应包括在环境实验中。
有不同看法的人可以继续讨论！
学习了。不错。试验的项目越来越多，区别他们很重要。
首先,HALT试验是不能代替环境试验.7楼的朋友已经写的比较清楚了,目的不同决定了前者是不能后者的。
其次，HALT是以故障物理学为基础的破坏性试验，是以激发故障为目的的，以期望在最短的时间内找到产品的设计缺陷，以达到在短期内产品的高可靠性；而环境试验是考核产品在极限试验条件下的适应能力。要注意的是，产品的可靠性是不能通过试验而被提高的。
最后，HALT试验是对产品的寿命有影响的，风险性很大。。。
:handshake:handshake:handshake
有道理，高加速，或者说快速温变率下的失效模式与普通环境试验的失效模式可能是不一样的。
[quote]原帖由[i]tmc_kevin[/i]于2007-12-1618:30发表[url=pid=12949&ptid=1967][/url]
如果单说温度应力或振动应力，可以勉勉强强说可以。[/quote]
个人理解代替单独的振动和温度应力目前也不可取，
这要看HALT的失效模式是否全包括了环境测试时候发现的失效模式。
HALT是高加速寿命试验。环境实验和寿命实验都属于可靠性实验，但二者还是有本质的区别的。
环境实验可能只是筛选实验，标准有IEC68-2和国标GB/T2423，军标GJB150。其目的是即给予一定应力，考察产品的环境适应能力。
寿命试验的目的是给予一定应力，产品在此条件下连续工作，直到失效率达到n%的工作时间，可以评价产品的MTBF。
:L当然不可以。晕，不谈上面的性质不一样，成本更不允许啊。;P
如果单说温度应力或振动应力，可以勉勉强强说可以。
不可以。
环境试验和HALT试验的目的不一样。
举个例子：环境试验中的霉菌试验，怎么用HALT试验来替代？
谢谢各位，收益非浅.
HALT與環境試驗目的不同，不可以互相取代。
HALT=HighlyAcceleratedLifeTest高加速壽命試驗，是利用環境試驗(EnvironmentalTests)方法(因為壽命試驗時的環境條件，必須模擬實際操作的任務輪廓)對物品進行的壽命試驗方法，HALT比一般加速壽命試驗更快可以獲得壽命數據。
環境試驗一般為單項環境逐次進行，試驗規格通常取任務輪廓環境95%風險的數值。
壽命試驗大多是複合環境，最常見是同時考量電氣，溫度與振動環境(以車用物品為例)，利用失效物理概念，加大試驗時的應力水準，如此可縮短試件失效時間(壽命)發生時間，根據試驗所得到的失效時間數據，再利用加速因子數值，可計算獲得正常任務輪廓下的失效時間或壽命數據。
ESS是針對製造工藝產生具有早夭潛在瑕疵的物品，在出廠前提前暴露，以免交貨後在顧客使用才發生非設計疵病。八十年代電子產品環境應力篩選(EnvironmentalStressScreening,ESS)以溫循與隨機振動為主，九十年代則流行高加速應力篩選(HighlyAcceleratedStressScreening,HASS)，在此論壇有專題討論。
[[i]本帖最后由morrison于2007-12-814:27编辑[/i]]
HALT和环境试验所施加的应力是不一样的,恐怕HALT不能完全代替环境试验的.
一般来说，是不可以用HALT来代替环境实验，原因很简单，就是HALT有破坏性，并不能在你的生产中广泛使用，在研发阶段的实验，现在也已经越来越多的，在环境温度后加一个小halt，（比环境温度高个10度以上），这个到是可以。至于在量产时的筛选，你可以参考ESS的理论，原则上thermalshock>振动>高温，但是使用的应力最好在超过你的使用环境温度以上，（参考ESS）至于时间你可以到是可以参考HASS的做法（弄一些有缺陷的）看看需要多长时间可以筛选出来呵呵
非常希望能看到高手的回复，公司生产的电子产品，因设计问题，在生产时发现有一些不良现象，然后在50度环境下老化6小时来筛选不良品，发现筛选效果不是很好，后到用温度冲击即在高低温进行快速温变，那样就是筛选出许多不良品，问对产品不良进行环境应力筛选应从怎样去确定相应的应力条件。
等待中……
顶一下，盼高手来解答。