谁有以下二个标准? 可靠性文档 可靠性资料 07年12月13日 编辑 sunjj 取消关注 关注 私信 SJ20954-2006集成电路锁定试验 GJB5422-2005军用电子元器件γ射线累积剂量效应测量方法 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
reliability lv6lv6 07年12月13日 只看到相关介绍,下载没看到哪有啊: 标准编号:GJB5422-2005[table=98%][tr][td]中文名称:[/td][td=3,1]军用电子元器件γ射线累积剂量效应测量方法[/td][/tr][tr][td]英文名称:[/td][td=3,1][/td][/tr][tr][td]语言版本:[/td][td=3,1]中文[/td][/tr][tr][td]标准页数:[/td][td=3,1]10.000P[/td][/tr][/table] [table=98%][tr][td][b]SJ20954-2006集成电路锁定试验[/b][/td][/tr][/table][table=98%][tr][td]标准号[/td][td=1,1,85%]SJ20954-2006[/td][/tr][tr][td=1,1,139]中文名称[/td][td=1,1,549]集成电路锁定试验[/td][/tr][tr][td=1,1,139]发布日期[/td][td=1,1,549]2006-08-07[/td][/tr][tr][td=1,1,139]实施日期[/td][td=1,1,549]2006-12-30[/td][/tr][/table]
只看到相关介绍,下载没看到哪有啊:
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