电子原器件完成耐久性实验后，一般在室温下恢复多久? 才可进行性能测试，有没有一个比较合适的值，以及参考的来源？
我在参考GR-468协议中看到：A 1- to 2-hour drying period at room temperature and humidity这个只是针对Damp Heat Tests
个人主要关心时间长短，应力释放不干净，会导致测试结果存在偏差。
电子原器件完成耐久性实验后，一般在室温下恢复多久?
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2个小时应该足够了，大部分标准内规定的都是2个小时