[i=s] 本帖最后由 yanru0216 于 2017-11-14 16:39 编辑 [/i]
各位大大好,請問AEC Q100中的HTOL的註解2(此註解VER H版本才有）
2) Tj may be used instead of Ta when performing HTOL provided that Tj of the device under HTOL conditions is equal to or higher than the Tj maximum operating (Tjopmax) of the particular device, but below the absolute maximum Tj.
GOOGLE翻譯是 在當HTOL條件下的器件的Tj等於或高於特定器件的Tj最大工作（Tjopmax），但低於絕對最大值Tj時，可以使用Tj代替Ta來執行HTOL。
小弟有點不大懂他的意思,假如HTOL實驗Ta為125度,當時的ic Tj為150度
Tj代替Ta的意思,就是等級算是Ta=150度嗎??
小弟先謝謝各位大大
购买了付费内容
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[quote][url=pid=193848&ptid=20921]jjl314 发表于 2017-11-15 10:07[/url]
我用阿瑞尼斯公式算了一下，假定在Ta为125度时，Tj为150度，用Tj去代替Ta作为测试的温度设定，另外假定随 …[/quote]
计算Ta，温度全部都需采用Ta，计算Tj，温度全部都需采用Tj
[quote][url=pid=193903&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-15 16:53[/url]
感謝jjl314大大的回覆,我看到頭痛的公式..讓我花點時間了解一下公式,
其實我還有一個疑問,文中說用Tj取代 …[/quote]
环境温度显然是指被测物所处环境的温度，也即是温升箱上设定维持的温度
[quote][url=pid=193848&ptid=20921]jjl314 发表于 2017-11-15 10:07[/url]
我用阿瑞尼斯公式算了一下，假定在Ta为125度时，Tj为150度，用Tj去代替Ta作为测试的温度设定，另外假定随 …[/quote]
感謝jjl314大大的回覆,我看到頭痛的公式..讓我花點時間了解一下公式,
其實我還有一個疑問,文中說用Tj取代Ta是直接烤箱的溫度被取代,還是烤箱維持Ta的溫度,只是實驗時間可以縮短?
[i=s] 本帖最后由 jjl314 于 2017-11-15 10:10 编辑 [/i]
[quote][url=pid=193784&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-14 17:51[/url]
感謝jjl314的回覆跟幫忙,我也是霧裡看花..所以上來請教各位大大,是阿 下班了,但我還在奮鬥..哈哈…感謝 …[/quote]
我用阿瑞尼斯公式算了一下，假定在Ta为125度时，Tj为150度，用Tj去代替Ta作为测试的温度设定，另外假定随着环境温度的升高活化能保持不变，一直为0.7ev(实际活化能会随着温度的升高而变小，最终的加速差别没有计算的如此大)差异如下：
125度Ta的效果相当于25度时的943倍
150度Ta的效果相当于25度时的3151倍
所以用TJ去代替Ta理论上只需要3分之一的时间就可以达到同样的老化效果，即125度时的1000小时在150度时只需要299.3小时。
[quote][url=pid=193782&ptid=20921]jjl314 发表于 2017-11-14 17:46[/url]
下班啦，有问题明天再一起探讨，共同学习，我对集成电路这一块也没有什么了解，都是个人理解，大家互相探 …[/quote]
感謝jjl314的回覆跟幫忙,我也是霧裡看花..所以上來請教各位大大,是阿 下班了,但我還在奮鬥..哈哈…感謝喔
[quote][url=pid=193772&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-14 17:18[/url]
jjl314 不好意思,我可以問個傻問題嗎？？
如果IC在 Ta=25度 時,TJ已經是150度, 若做1000hr pass,則等級就 …[/quote]
下班啦，有问题明天再一起探讨，共同学习，我对集成电路这一块也没有什么了解，都是个人理解，大家互相探讨互相学习，碰撞出火花，共同进步:lol
[quote][url=pid=193772&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-14 17:18[/url]
jjl314 不好意思,我可以問個傻問題嗎？？
如果IC在 Ta=25度 時,TJ已經是150度, 若做1000hr pass,則等級就 …[/quote]
我觉得Grade0是指在环境温度在-40度到150度时，Tj 不超过规格书内规定的最大允许节点温度时，都保证可以稳定工作。
[quote][url=pid=193769&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-14 16:44[/url]
但條文內分級是用Ta去分,Ta不是環境溫度嗎？？我有點搞迷糊了
Grade 0: +150ºC Ta for 1000 hours.
Gr …[/quote]
看了你上传的附件，我觉得注2要和注3合起来去看，不能单独去理解。
注3说明了当使用Tj代替Ta时活化能为0.7ev，实际上这两个值确定了以后温度加速因子AFT就可以计算出来，按照计算出的AFT应该可以得到需要进行的HTOL测试时间。
[i=s] 本帖最后由 yanru0216 于 2017-11-14 17:23 编辑 [/i]
jjl314 不好意思,我可以問個傻問題嗎？？
如果IC在 Ta=25度 時,TJ已經是150度, 若做1000hr pass,則等級就是Grade 0嗎??
[quote][url=pid=193769&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-14 16:44[/url]
但條文內分級是用Ta去分,Ta不是環境溫度嗎？？我有點搞迷糊了
Grade 0: +150ºC Ta for 1000 hours.
Gr …[/quote]
对的，我理解的是对于待测的器件，器件的温度等级是已经确定了的，这个时候就可以根据规格书内的温度等级去定义测试时需要设置的条件。
[quote][url=pid=193766&ptid=20921]jjl314 发表于 2017-11-14 16:18[/url]
HTOL测试条件不是由器件工作温度等级来决定的吗？
Grade1 的器件125度做1000小时，150度做408小时 …[/quote]
但條文內分級是用Ta去分,Ta不是環境溫度嗎？？我有點搞迷糊了
Grade 0: +150ºC Ta for 1000 hours.
Grade 1: +125oC Ta for 1000 hours.
Grade 2: +105ºC Ta for 1000 hours.
Grade 3: +85ºC Ta for 1000 hours.
感謝jji314大大的回覆,
我认为这是一个等效关系，150度时加速因子较大，所以150度测试408小时等效于125度测试1000小时
[quote][url=pid=193735&ptid=20921]yanru0216 发表于 2017-11-14 09:18[/url]
感謝YEH大大的回覆
想再請教一下 假如此實驗做完了
HTOL 結果等級是要選TA=125 還是TA=150這個等級呢
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HTOL测试条件不是由器件工作温度等级来决定的吗？
Grade1 的器件125度做1000小时，150度做408小时
感謝YEH大大的回覆
想再請教一下 假如此實驗做完了
HTOL 結果等級是要選TA=125 還是TA=150這個等級呢
謝謝YEH大大的回覆
[i=s] 本帖最后由 yeh 于 2017-11-14 09:05 编辑 [/i]
确认 tj 150C [b]低于绝对最大 tj[/b], 则可使用 tj 150C 代替 Ta 125C。