基于TR332的集成电路器件失效率预计 可靠性技术 可靠性试验 17年12月13日 编辑 槊缘 取消关注 关注 私信 假设才有TR332的method I方法对集成电路进行失效率预计，根据TR332里头描述：模拟集成电路需要知道集成多少晶体管，数字集成电路需要知道有多少个门。这些数据从哪里获取？或者哪位高手可以分享常用集成电路的失效率？ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏 332
yangdian lv2lv2 17年12月22日 首先TR-332已经非常老旧了，建议升级到SR-332-issue 4 ，如果公司不给钱买的话，可以找到issue 3 的标准计算。 其次，门电路的个数可以看芯片规格书或咨询原厂来获得。 最好是能够拿到厂家的FIT报告或实验报告，一般来讲，大厂商都有专门的报告可以提供。
xxex lv3lv3 17年12月14日 模拟IC集成的晶体管或数字IC集成的门电路数量数据可以找供应商提供。 常用IC的失效率来源有三个途径：市场数据统计，供应商承诺值，可靠性试验验证值。 你买IC时可以找供应商要这个失效率，或者要一下HTOL试验的数据。
应用part count的算法进行累计
首先TR-332已经非常老旧了，建议升级到SR-332-issue 4 ，如果公司不给钱买的话，可以找到issue 3 的标准计算。
其次，门电路的个数可以看芯片规格书或咨询原厂来获得。
最好是能够拿到厂家的FIT报告或实验报告，一般来讲，大厂商都有专门的报告可以提供。
模拟IC集成的晶体管或数字IC集成的门电路数量数据可以找供应商提供。
常用IC的失效率来源有三个途径：市场数据统计，供应商承诺值，可靠性试验验证值。
你买IC时可以找供应商要这个失效率，或者要一下HTOL试验的数据。
首先看厂家的材料（如datasheet），如果不提供，可以根据一些经验推算，比如根据功耗等。详细的经验，我们公司积累有，但一般不随便发的。