关于电子产品老化试验的抽样问题 可靠性技术 可靠性试验 18年2月6日 编辑 rickytian 取消关注 关注 私信 请教大家一个问题：电子产品在做qualification stress时，对抽样的LOT之间（比如是否为连续lot，需要间隔多久等），以及抽样sample有没有什么要求？有没有相应的标准？ 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
