[i=s] 本帖最后由 黄蓉 于 2018-6-4 10:15 编辑 [/i]
苏州纳米所可靠性与失效分析中心秉承加工平台公共服务方面的特性，在对外提供支撑和服务过程中多方发现用户的共性需求，以检测能力与市场需求完美契合为目标不断完善。目前本中心在电子材料、元器件、封装、SMT和电子辅料等可靠性应用场景方面具有专业的检测、分析和试验能力，可为各研究院所、高校、企业提供产品的可靠性检测、失效分析、老化测试等一体化服务。
本中心目前拥有各类可靠性检测分析仪器，其中包括：TOF-SIMS、XPS、FIB、X射线检测仪、扫描声学显微镜（SAM）、高低温冲击烘箱、高低温湿热烘箱、高加速寿命试验箱、冲击台、振动台、恒加速度试验机、剪切力机等。
我们以精准、专业、客观的科学素养，帮助客户进行失效分析、可靠度测试，愿为客户产品质量的发展和进步提供源源不断地支持！
欢迎各位同仁的咨询！
[quote][url=pid=206237&ptid=22181]尘世微i 发表于 2018-6-4 10:52[/url]
厉害厉害，中科院的设备应该会还不错吧！有时间我去你们那看看[/quote]
欢迎欢迎，我们这边是跟纳米加工平台一样是完全对外服务的，欢迎咨询呀。
厉害厉害，中科院的设备应该会还不错吧！有时间我去你们那看看:lol
欢迎院校、企业、小伙伴们咨询哟。
其他设备展示：
1、TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪
型号：TOF.SIMS5-100
功能：元素构成和化学结构的信息
工作压力：UHV
分析用离子源：Bi；剥离离子源：EI源和Cs源；选配团簇离子源；
可扩展应用于分析绝缘材料和生物医学材料；
5轴样品架，温度-150℃～600℃
主要功能及应用范围：
对样品有机和无机材料的表面微量分析，如痕量金属探测，化合物结构测定，精确原子量测定，同位素标定，失效分析，有机物多层膜分析等方面。许多用ESCA，AES等分析不能确定的物质，都可以采用TOF-SIMS分析。
2、FIB 场发射聚焦离子束电子显微镜
型号：Scios
工作压力： 高真空（6.3×10-4Pa）
离子源种类：液态Ga离子源
离子束分辨率：≤5.0nm@30kV 电子束分辨率：≤1nm @ 30kV（二次电子）
加速电压：0.5-30kV ≤1.6 nm @ 1kV（二次电子）
束流强度：1.5pA-65nA （15孔光阑条） ≤3nm@30kV（背散射电子） 主要功能及应用范围：
主要功能及应用范围：FIB（聚焦离子束显微镜）使用高聚焦的离子束对待测样品作纳米加工以及表面成像。聚焦离子束技术主要是利用静电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割技术。可应用在SEM、STEM和TEM的样品制备；纳米结构的制备和选择性的材料沉积；表面成像和元素分析等。
3、XPS X-ray 光电子能谱
型号：PHI 5000 VersaprobeⅡ
关键性能参数指标:
聚焦Al Kα单色化X射线源
实现X射线激发二次电子影像（SXI）
（带有形貌信息的二次电子像）
五轴样品台 ：可实现 0~90º倾斜用于角分辨分析，角度分辨≤±1º； （变角范围大）
双束中和系统：（非常特别的一种无需校准的中和系统）
团簇离子枪（GCIB）：（特别适合用于锂电中SEI膜的研究）
紫外光电子谱（UPS ）
主要功能及应用范围：
X用来测量元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等。化合物的结构分析，可以对内层电子结合能的化学位移精确测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。
机械可靠性设备展示：
1、冲击台
型号：CL-20
半正弦波峰值加速度：100 m/s2 ～6000 m/s2
半正弦波脉冲持续时间：1ms ～30ms
最大载荷：20kg
主要功能及应用范围：
冲击通常是指两个物体（或构件）的单次相互作用，激起瞬间力、位移、速度或加速度的突然变化，并在极短时间内释放出相当大的能量。它与振动一样能对产品造成损伤或损坏，但在机理上是有区别的。振动对产品的破坏更多地表现为损伤积累，因此振动的试验时间较长，而冲击对产品的破坏表现为能量的集中释放或者说对产品极限强度的影响，试验量级较大、冲击的脉冲持续时间较短。因此通常试验一次或几次便能完成。
2、振动台
型号：DC-600
额定正弦推力：5.88kN (600kgf)
额定随机推力：5.88kN (600kgf)
额定冲击推力：11.96kN (1200kgf)
最大加速度：980m/s2 (100G)
频率范围：2~5000Hz
最大位移：51mm
最大载荷：300kg
主要功能及应用范围：
振动试验是仿真产品在运输、安装及使用环境中所遭遇到的各种振动环境影响，用来确定产品是否能承受各种环境振动的能力。振动试验是评定元器件、零部件及整机在预期的运输及使用环境中的抵抗能力。
3、恒加速度试验机
型号：Y534w-3/ZF
工位数：6
每工位最大载荷：0.35kg（含埋沙式夹具）
加速度范围：5000～400000 m/s2
试品试验方向：X.Y.Z 三坐标 六个方向
工作主轴旋转方向：顺时针方向旋转
试品中心安装计算半径：130 mm
连续工作时间：30 min
主要功能及应用范围：
用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受动态过载环境所产生的力（重力除外）作用下，结构的适应性和性能是否良好，以及评定一些元器件的结构完好性，并验证这些元件在预期的使用环境下经受复合加速度应力是否正常以及结构的承受能力。
环境可靠性设备展示：
1、冷热冲击箱
型号：TSA-102ES
厂家：ESPEC
高温范围：60～300℃
低温范围：-70～0℃
主要功能及应用范围：
使用样件静置温度切换三箱法，温度变化率大于30℃/分，用于检测根据元器件、部件及设备疲劳损伤引起的失效。
2、 高低温(湿热)试验箱
型号：PL-2J
厂家：ESPEC
温度范围： -40～100℃
湿度范围：20～98%
主要功能及应用范围：
对电子电工、航空航天、船舶兵器、等相关产品的零部件及材料在高温、低温（交变）循环变化的情况下，检验其各项性能指标。
3、高加速寿命试验箱
型号：PC-422R8
厂家：HIRAYAMA
压力范围：1～3个标注大气压
温度范围：105～150℃
湿度范围：65%～100%RH
主要功能及应用范围：
用于半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等进行老化筛选试验、可靠性和寿命高加速试验、高温/高湿/高压环境下的检测。
[i=s] 本帖最后由 黄蓉 于 2018-6-4 10:16 编辑 [/i]