有关THERMAL SHOCK TESTER(RAMP.)暨等温式冷热冲击试验机的话题

因应AMD、DELL等的要求,自前年下半年到去年,本人曾多次在不同客户处碰到多种温变速率的等温式冲击要求。随着其中几个案件的顺利完结,现特就该方面之测试与各位探讨一二,因本人并非专职技术人员,有不准确和遗漏的部分请指出并请不吝指导。
名称:等温式冲击测试
温变速率:一般有5度/min,10度/min,15度/min,20度/min,25度/min(显然,系5N度/min),其中测试频次最多的为前三种;温变速率非全程平均,要求每5分钟甚至3分钟之线形平均(基本上对应低温为-40/-55度,高温为85/105度),且循环数为1000的倍数。
对应实现设备:三箱等温式冷热冲击试验机/THERMAISHOCKTESTER(RAMP.)
设计思路:
1、传统之冷热冲击机之温变速率基本不能实现可控制的调节,而一般机械式快速升降温试验机也很难实现多种温变速率,并且快速升降温若有线形要求其造价较为昂贵。
2、通过比照上述两种设备的优劣,我司推出等温式冷热冲击机,除可实现普通冲击试验外,又可实现5N度/min(N=1~5)之RAMP.试验。略为遗憾的是,目前5度/min的曲线不如其他漂亮。
3、基本设计原理:调控风门开启程度、循环马达转速调控等(细节部分,恕无权公开)。

给TA打赏
共{{data.count}}人
人已打赏
可靠性文档可靠性资料

MIL-STD-750D Test Method Std-Semiconductor Devices 半导体器件测试方法(pdf828)

2008-1-25 10:07:04

可靠性文档可靠性资料

CNS 3627 鹽霧試驗

2008-1-26 9:39:26

1 条回复 A文章作者 M管理员
个人中心
购物车
优惠劵
今日签到
有新私信 私信列表
搜索