weijia0219 lv4lv4 12年10月30日 MTBF值一般都是指的预计值； 要验证这个值是否准确？ 一种方式是：是用Ahhenius的加速模式进行验证 另外一种就是通过统计出货产品的失效率进行验证：比如一款产品已经出货1000台，出货3年，一年使用多少天（如300天），一天使用多少个小时（12小时）；然后共有多少台失效（5台）。则MTBF=3*300*12*1000/5=2160000
jamesstudy001 lv4lv4 12年6月26日 多谢tomson_y的帮忙，我还是个可靠性新手，对于MTBF听了很多，但是对这个概念还是模模糊糊，关于如何计算那就是更不明白了， 现在知道MTBF预计的一些基本方法。原来和质量系数，温度系数，应力系数等一些有关啊。 那实际验证我们一般怎么得到MTBF值呢。
nobodycando lv2lv2 07年7月27日 [quote]原帖由[i]雄风[/i]于2007-7-2714:48发表[url=pid=4981&ptid=1057][/url] 请教:有客户要求提供产品的λs,但我只有产品总数,如何求得这个数值,λGi\πQi又是怎样得到的,多谢指教[/quote] 兄弟,你先去看看可靠性预计相关的标准,不管是217还是299,都会很容易得到你想知道的的答案.虽然很可能会用不上,就当丰富可靠性历史知识了.
wangchunwei lv2lv2 07年7月27日 如何计算平均故障间隔时间MTBF？ 1）元器件计数法该方法适用于产品设计开发的早期。它的优点是不需要详尽了解每个元器件的应用及它们之间的逻辑关系就可迅速估算出产品的故障率，但预计结果比较粗糙。元器件计数法公式为： 式中： λs——产品总的故障率； λGi——第i种元器件的通用故障率； πQi——第i种元器件的通过质量系数； Ni——第i种元器件的数量； n——产品所使用元器件的种类数目。 平均故障间隔时间MTBF：MTBF=1/λs 2）应力分析法该方法适用于电子产品详细设计阶段，已具备了详细的文件清单、电应力比、环境温度等信息，这种方法比元器件计数法的结果要准确些。应力分析法分三步求出。 第一步先求出各种元器件的工作故障率λp： 式中： • λp——第i种元器件的工作故障率； • λb——元器件基本故障率； • πE——环境系数； • K——降额因子，其值小于等于1，由设计根据适用范围选定应力等级后决定。 第二步求产品的工作故障率λs： 式中： • λpi——第i中元器件的工作故障率； • Ni——第i种元器件的数量； • n——产品中元器件的种类数； 第三步求产品的MTBF:MTBF=1/λs。 欢迎大家的踊跃讨论，对我的观点提出指导及批评意见，谢谢大家对我工作的支持。
reliability lv6lv6 07年7月16日 EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1) •T2为加速温度下的失效率 •T1为常温下的失效率 •K1、K2为加速和常温的K氏温度 •K为Boltzmann常数（8.623*10-5eV/K） *JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV *某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV *推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间 [size=3][color=blue]因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV，所以我在计算的时候常用的是：0.6 下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下: ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY [table=310][tr][td]COMPONENT[/td][td]Ea(eV)[/td][/tr][tr][td]Transformers[/td][td]0.5[/td][/tr][tr][td]Resistors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]R-Pacs[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Inductors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Capacitors[/td][td]0.6[/td][/tr][tr][td]LinearModules[/td][td]0.7[/td][/tr][tr][td]Diodes[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]BridgeRectifiers[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]Transistors[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]OpticalIsolators[/td][td]1[/td][/tr][/table]
echoxfs lv4lv4 07年7月16日 请问用Arrhenius模型计算加速系数AF时，那个活化能Ea怎么得到？我现在只有5个左右产品可以用来做试验，实在不知道怎么样可以得到活化能Ea，请赐教，谢谢!
david lv2lv2 07年7月13日 GJB288B????什么标准，可否传上来看看。 我们在常用计数法做预计的时候，计算出来过常用器件的失效率，可以参考一下： 贴片电阻：0.5电容:1晶体管:4fit集成电路就不一样了,有模拟的数字的.失效率都不一样.
wenxin12 lv2lv2 07年7月13日 GJB288B中附录表中有器件的通用失效率可查询，但大都器件都是分立元器件，现在我要查贴片电阻，电容，晶休管以及集成电路查不到啊？？ 那位告诉我一下到哪可以查询帖片元器件的通用失效率，谢谢
david lv2lv2 07年7月13日 没有哪个标准可以直接查器件的失效率的，这些标准可以查看失效率相关的一些东东， 除GJB299B还有mil-hdbk-217f还有本站[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-755-1-1.html]TR332reliabilitypredictionprocedureforelectronicequipment(bellcore)[/url]
reliability lv6lv6 07年3月22日 计数法,用40度,50%的电应力,个人感觉没什么价值,通过软件来计算出,适当的比较一下而已. 当然,计数法早期做就有点优势了,必竟要做应力法的时候需要到一定的阶段了.
fanweipin lv5lv5 07年3月22日 我们目前用的是应力法和实物验证法，计数法还没有用，以后有机会也来尝试一下！ [quote]原帖由[i]cliffcrag[/i]于2007-3-2217:15发表 上面tomson_y介绍了应力预计法，当然还有计数法的预计，不过这个用的比较少。 那我来简单介绍一下MTBF通过验证得出的方法了。 一般来说，产品可能通过在高温实验来做验证，通过阿列纽斯（Arrhenius）的…[/quote]
reliability lv6lv6 07年3月22日 上面tomson_y介绍了应力预计法，当然还有计数法的预计，不过这个用的比较少。 那我来简单介绍一下MTBF通过验证得出的方法了。 一般来说，产品可能通过在高温实验来做验证，通过阿列纽斯（Arrhenius）的加速系数计算出AF来。 然后根据加速系数AF，台数N，时间T等相乘。 然后再根据相应的可信度下计算出产品的MTBF值来。 具体方法可以参考[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-262-1-1.html]本站的GJB899[/url]里面介绍的，如果把这个标准研究透了，关于MTBF的验证计算就很容易得出了，当然GB5080也介绍的很详细。
immA lv3lv3 07年3月22日 多谢tomson_y的帮忙，我还是个可靠性新手，对于MTBF听了很多，但是对这个概念还是模模糊糊，关于如何计算那就是更不明白了， 现在知道MTBF预计的一些基本方法。原来和质量系数，温度系数，应力系数等一些有关啊。 那实际验证我们一般怎么得到MTBF值呢。
tomson_y lv3lv3 07年3月22日 MTBF预计方法 1、先求出各元器件的工作故障率λp： λp=λb*πQ*πS*πT 其中λb：元器件基本故障率，元器件失效率表中查得 πQ：为器件的品质系数，由物料认证工程师确认 πS：为电压或电流应力系数 πT：为器件的温度系数 求出系统的工作故障率λs2、 λs=πE*SUM（Aλp1，Bλp2，…Nλpi) 其中λpi：第i种元器件的工作故障率 πE： 环境系数,根据系统应用环境选择环境系数 Ni：第i种元器件的数量 N：产品中元器件的种类 第三步，求出产品的MTBF MTBF=1/λs
MTBF值一般都是指的预计值；
要验证这个值是否准确？
一种方式是：是用Ahhenius的加速模式进行验证
另外一种就是通过统计出货产品的失效率进行验证：比如一款产品已经出货1000台，出货3年，一年使用多少天（如300天），一天使用多少个小时（12小时）；然后共有多少台失效（5台）。则MTBF=3*300*12*1000/5=2160000
高手很多哦学习了顶一哈
多谢tomson_y的帮忙，我还是个可靠性新手，对于MTBF听了很多，但是对这个概念还是模模糊糊，关于如何计算那就是更不明白了，
现在知道MTBF预计的一些基本方法。原来和质量系数，温度系数，应力系数等一些有关啊。
那实际验证我们一般怎么得到MTBF值呢。
[quote]原帖由[i]雄风[/i]于2007-7-2714:48发表[url=pid=4981&ptid=1057][/url]
请教:有客户要求提供产品的λs,但我只有产品总数,如何求得这个数值,λGi\πQi又是怎样得到的,多谢指教[/quote]
兄弟,你先去看看可靠性预计相关的标准,不管是217还是299,都会很容易得到你想知道的的答案.虽然很可能会用不上,就当丰富可靠性历史知识了.
请教:有客户要求提供产品的λs,但我只有产品总数,如何求得这个数值,λGi\πQi又是怎样得到的,多谢指教
如何计算平均故障间隔时间MTBF？
1）元器件计数法该方法适用于产品设计开发的早期。它的优点是不需要详尽了解每个元器件的应用及它们之间的逻辑关系就可迅速估算出产品的故障率，但预计结果比较粗糙。元器件计数法公式为：
式中：
λs——产品总的故障率；
λGi——第i种元器件的通用故障率；
πQi——第i种元器件的通过质量系数；
Ni——第i种元器件的数量；
n——产品所使用元器件的种类数目。
平均故障间隔时间MTBF：MTBF=1/λs
2）应力分析法该方法适用于电子产品详细设计阶段，已具备了详细的文件清单、电应力比、环境温度等信息，这种方法比元器件计数法的结果要准确些。应力分析法分三步求出。
第一步先求出各种元器件的工作故障率λp：
式中：
• λp——第i种元器件的工作故障率；
• λb——元器件基本故障率；
• πE——环境系数；
• K——降额因子，其值小于等于1，由设计根据适用范围选定应力等级后决定。
第二步求产品的工作故障率λs：
式中：
• λpi——第i中元器件的工作故障率；
• Ni——第i种元器件的数量；
• n——产品中元器件的种类数；
第三步求产品的MTBF:MTBF=1/λs。
欢迎大家的踊跃讨论，对我的观点提出指导及批评意见，谢谢大家对我工作的支持。
看了一下，感觉水越来越深呀。
如果产品不是普通消费性电子产品，对可靠性要求比较高，我不知道如果直接用0.6作为Ea值是否可以？客户那边是否可以接受？
EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1)
•T2为加速温度下的失效率
•T1为常温下的失效率
•K1、K2为加速和常温的K氏温度
•K为Boltzmann常数（8.623*10-5eV/K）
*JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV
*某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV
*推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间
[size=3][color=blue]因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV，所以我在计算的时候常用的是：0.6
下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下:
ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY
[table=310][tr][td]COMPONENT[/td][td]Ea(eV)[/td][/tr][tr][td]Transformers[/td][td]0.5[/td][/tr][tr][td]Resistors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]R-Pacs[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Inductors[/td][td]0.56[/td][/tr][tr][td]Capacitors[/td][td]0.6[/td][/tr][tr][td]LinearModules[/td][td]0.7[/td][/tr][tr][td]Diodes[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]BridgeRectifiers[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]Transistors[/td][td]1[/td][/tr][tr][td]OpticalIsolators[/td][td]1[/td][/tr][/table]
请问用Arrhenius模型计算加速系数AF时，那个活化能Ea怎么得到？我现在只有5个左右产品可以用来做试验，实在不知道怎么样可以得到活化能Ea，请赐教，谢谢!
GJB288B????什么标准，可否传上来看看。
我们在常用计数法做预计的时候，计算出来过常用器件的失效率，可以参考一下：
贴片电阻：0.5电容:1晶体管:4fit集成电路就不一样了,有模拟的数字的.失效率都不一样.
GJB288B中附录表中有器件的通用失效率可查询，但大都器件都是分立元器件，现在我要查贴片电阻，电容，晶休管以及集成电路查不到啊？？
那位告诉我一下到哪可以查询帖片元器件的通用失效率，谢谢
没有哪个标准可以直接查器件的失效率的，这些标准可以查看失效率相关的一些东东，
除GJB299B还有mil-hdbk-217f还有本站[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-755-1-1.html]TR332reliabilitypredictionprocedureforelectronicequipment(bellcore)[/url]
请问一下帖片电阻，帖片电容，帖片式的晶体管等的通用失效率在GJB299B中查不到的,到哪可以查到？？
没有太大意义，不要太专注这些！
可靠性增长的意义更大一些！
那里有计算公式
上个月在广州SGS有个很不错的论坛，，专门介绍MTBF，，不过主办方没有留下讲义，，
各位若有兴趣，，可想办法与广州SGS联系，，，
见识了。我们做MTBF和MTTF是统计出来的。真的是太不准确了。好好学习，天天向上。
学习中哦
之前经常听到MTBF但是不知道如何做也看不懂
多谢了
很多高手啊，以后要高手们多指教哦
讲得很好。看来MTBF这些越基础的东西，越难明白。
我都有点糊涂。
以前有一些简单的概念.
看到几位的的讲解,加深了认识了,
希望哪位能开个专题,把这些东西详细介绍介绍,就比较好了.
高手很多阿
学习了。各高手多多指教啊。
计数法,用40度,50%的电应力,个人感觉没什么价值,通过软件来计算出,适当的比较一下而已.
当然,计数法早期做就有点优势了,必竟要做应力法的时候需要到一定的阶段了.
我们目前用的是应力法和实物验证法，计数法还没有用，以后有机会也来尝试一下！
[quote]原帖由[i]cliffcrag[/i]于2007-3-2217:15发表
上面tomson_y介绍了应力预计法，当然还有计数法的预计，不过这个用的比较少。
那我来简单介绍一下MTBF通过验证得出的方法了。
一般来说，产品可能通过在高温实验来做验证，通过阿列纽斯（Arrhenius）的…[/quote]
多谢tomson_y和cliffcrag版主大大。
看你们这样的介绍，我对这个有个大概的了解了。我再找些资料或标准看看，不明白的话再回来向你们请教。
上面tomson_y介绍了应力预计法，当然还有计数法的预计，不过这个用的比较少。
那我来简单介绍一下MTBF通过验证得出的方法了。
一般来说，产品可能通过在高温实验来做验证，通过阿列纽斯（Arrhenius）的加速系数计算出AF来。
然后根据加速系数AF，台数N，时间T等相乘。
然后再根据相应的可信度下计算出产品的MTBF值来。
具体方法可以参考[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-262-1-1.html]本站的GJB899[/url]里面介绍的，如果把这个标准研究透了，关于MTBF的验证计算就很容易得出了，当然GB5080也介绍的很详细。
多谢tomson_y的帮忙，我还是个可靠性新手，对于MTBF听了很多，但是对这个概念还是模模糊糊，关于如何计算那就是更不明白了，
现在知道MTBF预计的一些基本方法。原来和质量系数，温度系数，应力系数等一些有关啊。
那实际验证我们一般怎么得到MTBF值呢。
MTBF预计方法
1、先求出各元器件的工作故障率λp：
λp=λb*πQ*πS*πT
其中λb：元器件基本故障率，元器件失效率表中查得
πQ：为器件的品质系数，由物料认证工程师确认
πS：为电压或电流应力系数
πT：为器件的温度系数
求出系统的工作故障率λs2、
λs=πE*SUM（Aλp1，Bλp2，…Nλpi)
其中λpi：第i种元器件的工作故障率
πE： 环境系数,根据系统应用环境选择环境系数
Ni：第i种元器件的数量
N：产品中元器件的种类
第三步，求出产品的MTBF
MTBF=1/λs
MTBF可以用预计来做,也可以通过实验来计算出
不知道IMM现在是怎么考虑MTBF的.