关于ORT实验出现失效的处理

jerry说得很到位。

学习
学习

时隔8年再看楼主的问题，现在觉得比较好处理了，现在光模块的ORT不再仅仅参考468，很多抽样标准和试验方案也随着产品发生了变化，但是光模块这款产品的本身的设计和失效模式比较少，主要集中在TO和MCU上面，采取的ORT方法也就是是HTOL和温循，因为TOSA的封焊工艺很容易掉光，所以抽样数量也从每个月的几只变成了120，但是对于ORT中任何一只失效都不能放过，必须马上通知QE预警，待问题分析清楚后再出货

学习

[quote]admin发表于2013-5-2314:23[url=pid=130698&ptid=2420][/url]
4楼失效的链接已修复，现在可以重新下载了。[/quote]

多谢！

[quote]beckham237发表于2013-5-2311:45[url=pid=130688&ptid=2420][/url]
请问这个ORT测试规范的链接现在无法显示，PDF档不在了吗？[/quote]

4楼失效的链接已修复，现在可以重新下载了。

[quote]admin发表于2008-3-1023:01[url=pid=16821&ptid=2420][/url]
下面是某公司的ORT测试规范(PDF下载），可以参考一下。

关于ORT测试讨论。。。。。[/quote]

请问这个ORT测试规范的链接现在无法显示，PDF档不在了吗？

[quote]原帖由[i]jerry-yin3003[/i]于2008-9-2510:38发表[url=pid=30073&ptid=2420][/url]
個人的一點看法﹗
1由QA部門召集相關單位檢討,追蹤真因、改善對策效果確認,并保留記錄。
2厂内异常追溯前后1个Lot（生產日期為LOT）。
3异常發生需在12小時內通知到客戶﹐24小時內提出暂时对策
4異常發生后品…[/quote]
顶一下.认同发言.

個人的一點看法﹗
1由QA部門召集相關單位檢討,追蹤真因、改善對策效果確認,并保留記錄。
2厂内异常追溯前后1个Lot（生產日期為LOT）。
3异常發生需在12小時內通知到客戶﹐24小時內提出暂时对策
4異常發生后品管需按照加嚴檢驗表進行抽驗﹔
5可靠度失敗原因為制程異常由分析單位1天內給出Firstreport﹐3天提供Finalreport﹔
6若可靠度驗證失敗之原因為材料問題則由SQE回饋至供應商要求改善,並將此材料列為IQC進料檢驗之重點檢驗項目﹐回復時間按TAT﹔

首先，你的samplesize太小，可能跟你的产品有关；
第二，你的测试周期太长，二个月，可能已经到客户手里了，会造成比较坏的影响；

建议：1，适当增加你的samplesize;
2，同等测试级别下，建议作加速型实验，以便缩短周期，尽早发现问题。

同意Gary的说法

ruudvannis，　你也是做光器件这一块的呀，同行呀
:handshake

其实ＯＲＴ出现失效的处理办法还得看failuremode
如果出现失效率比较高，得加大样品数据重复该实验，根据再次实验的数据和失效情况评估risk大小，问题严重并且又已经出货给客户的，就得考虑recall啦．

下面是某公司的[b][url=http://www.kekaoxing.com/club/data/attachment/forum/reliability/ORT.pdf]ORT测试规范(PDF下载）[/url][/b]，可以参考一下。

[url=http://www.kekaoxing.com/club/thread-772-1-1.html]关于ORT测试讨论。。。。。
[/url]

1）先搞清楚失效模式，然后决定是否对同一批次的产品加倍抽样数量；
2）看与客户的契约而定；

帮自己顶一下