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IC产品的质量与可靠性测试(ICQuality&ReliabilityTest)质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是
IC产品的生命。
质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC是否符合各项性能指标的问题；可靠性（）的要求，
Reliability一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问）题则。是所对以产说品质耐量久（力的测量，它回答了
Quality现阶段的问题，可靠性（）解决的是Reliability我们发现，解决的是一段时间以后的问题。知道了两者的区别，
Quality过简单的测试，就可的以问知题道解产决品方的法性往能是比否较达直到接，设计和制造单位在产品生产出来后，通
SPEC的要求，这种测试在IC造单位就可以进行。相对而言，的设计和制Reliability
久，谁会能保证今天产品能用，明天就一定能的用问？题似乎就变的十分棘手，这个产品能用多为了解决这个问题，人们制定了各种各样的标准，如:JESD22-A108-A、EIAJED-4701-D101，注：JEDEC（JointElectronDeviceEngineeringCouncil合委员会）电子设备工程联,，著名国际电子行业标准化组织之一；EIAJED子行业标准化组织之一。：日本电子工业协会，著名国际电
在介绍一些目前较为流行的Reliability的测试方法之前，我们先来认识一下IC生命周期。[/quote]
IC可靠性，系统可靠性分析
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最近做了一个项目的HALT测试，发现在-30℃时系统不断的重启，环境温度升到-20℃时，系统启动又正常了；同时我们又做了一个对比试验（-30℃下，给CPU局部升温至-7℃，此时系统可以正常启动）明确定位是CPU的问题。
目前的难点是，如何推动IC厂家改善？
备注：商业级别芯片，IC operation temperature（0℃～105℃）
感謝大大分享
这个急用了，谢谢！
谢谢分享
现在做Reliability，但还要给客户做各国论证，看那么多标准！哎
看看看安康
很好的资料！谢谢！
谢谢分享
评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能
TestMethod:将数据写入memory的存储单元，在擦除数据，重复这个过程多次
测试条件:室温，或者更高，每个数据的读写次数达到100k~1000k
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准
MIT-STD-883EMethod1033
数据保持力测试（DataRetentionTest）
目的:在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失
测试条件:在高温条件下将数据写入memory存储单元后，多次读取验证单元中的数据
失效机制：150℃具体的测试条件和估算结果可参考以下标准：
MIT-STD-883EMethod1008.2
MIT-STD-883EMethod1033
谢谢。
这个都比较老了
谢谢楼主分享
感谢分享！
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好资料，谢谢分享。
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非常感谢
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不错，好东西
好东西，最近因为一些缘故，经常要接触到PCB测试，想多了解一些测试方面的东西
好东西，谢谢分享。