关于活化能Ea的计算

请问各位:活化能对于芯片级的可靠性测试来说,是怎么定出来的?

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可靠性技术新手提问

求助: 需要MIL-STD-1334文件,最好是英文版,不胜感激

2008-4-21 20:15:32

可靠性技术可靠性试验

北航14系 元器件试验技术课件

2008-4-21 21:01:13

15 条回复 A文章作者 M管理员
  1. wenfeng3652

    GR468只是提了一句,但并没有详细说明怎样设计试验计算Ea

  2. tiny_na

    标准中有定义做参考,但是如果想要准确还是要试验反推得出

  3. 流浪七月

    学习了

  4. cfb

    这也是我最近比较困惑的地方,希望有高人解答~~~

  5. owshiiuhs

    学习了~

  6. ibmmaomao

    [b]回复[url=pid=19698&ptid=2923]2#[/url][i]Gary[/i][/b]
    阿列纽斯方程===>温度是指产品的结温,还是锔炉的温度呢?

  7. rocketeer

    有些芯片廠將Ea設為0.7eV!

  8. ibmmaomao

    DoexperimentandcalculatedbyArr….mode

  9. smart2161

    我也一直在找活化能的定義和算法,謝謝了!

  10. ayang1003

    非常感谢大家的热心解答!

  11. admin

    [url]http://www.kekaoxing.com/club/thread-691-3-1.html[/url]

    vince1981和我各上传了一个附件,关于EA的计算的,可以参考一下。

    第26/27楼。

    AcceleratedLifetest–v.rar(29.2KB)EaandAF.rar(24.99KB)

  12. Daphneli

    按照GR-468里面的是将产品分三组分别在三个温度下进行试验。。。然后来计算Ea

  13. fuckit

    LZ可以参考JESD85和JEP122标准
    当然楼上的第二种办法最好

  14. gary

    1,直接用行业的经验Ea值
    2,做多组实验,然后代入应力加速模型(譬如阿列纽斯方程…)算出Ea值

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