请问芯片过电失效产生痕迹—之后的判断 可靠性技术 新手提问 08年5月28日 编辑 fly2free 取消关注 关注 私信 请问： 如何判断产生的痕迹是芯片上的什么部位？ 需要芯片本身的什么资料么？ 另外要附加什么分析手段么？ 谢谢 给TA打赏 共{{data.count}}人 人已打赏
aries lv4lv4 08年7月2日 问你的supplier 按照出厂的spec去检测 哈哈哈哈哈 如果你很难判断的话，找design啦 relengineer在具体的技术细节上肯定不如design清楚
bluech lv2lv2 08年6月2日 你已经看到痕迹了吗？比如已经decap了？ 一般不容易定位到是芯片上哪个管子失效（何况有些情况下是金属走线烧毁），即使定到了管子，没有电路拓扑作用也不大。 但是可以定位到是哪个管脚烧了，然后查找该管脚引入EOS的原因，从而解决问题。
问你的supplier
按照出厂的spec去检测
哈哈哈哈哈
如果你很难判断的话，找design啦
relengineer在具体的技术细节上肯定不如design清楚
现在我还是很难判断一个芯片是否损坏,最有效的判断方法是什么呢?
过电严重的话会在引脚的各个pin之间可有检测到短路信号
发现很多这样的失效样品
一般都看到金属变黑了？
你已经看到痕迹了吗？比如已经decap了？
一般不容易定位到是芯片上哪个管子失效（何况有些情况下是金属走线烧毁），即使定到了管子，没有电路拓扑作用也不大。
但是可以定位到是哪个管脚烧了，然后查找该管脚引入EOS的原因，从而解决问题。